常州同惠电子股份有限公司创建于1994年,是一家集研发、制造、销售于一体的国家级高新技术企业。公司于
2021年9月整体迁入占地面积45亩,建筑面积30000平米的花园式现代化新厂房。公司现有员工300余人,75%以上具
有大专及以上学历,研发人员占员工总数的25%以上。
公司紧跟时代发展的脉搏,制定并践行“智能测试、高效测试、精准测试、工业互联”的发展战略,倡导“专
业、专注、专心”的匠心精神,始终致力于电子测量测试仪器的技术进步,尤其在精密阻抗测量领域具有三十年测试
理论、测试技术和实践经验的积累。公司顺应国家对科学测量仪器高质量发展的高度关注和大力支持,并基于对半导
体和新能源行业发展的重要性及良好市场前景的深刻理解,加大投入全力研发半导体和新能源行业产业链所需测试测
量仪器,不断打破国外垄断和卡脖子风险,完美实现进口替代,并致力于成为国际一流水平的电子测量测试综合解决
方案供应商。
同惠始终把研发投入视为公司发展的基石,多年以来研发投入占公司营收的比例一直保持在12%以上。经过持续
高比例的研发投入,公司具备了较强的自主研发能力和技术优势,目前在硬件测试、嵌入式软件与算法、总线、系统
集成、工业互联等方面积累了多项核心技术成果,突破了高端电子元器件批量测试效率低、精度差、综合测试能力弱
等一系列技术难题和瓶颈。先后成功研制出国内首创甚至国际领先的优秀产品:如六位半台式数字多用表、10MHz
精密阻抗分析仪、并行多通道安规测试仪、宽频高速高精度电子变压器综合测试系统、120A大电流电感偏流特性测试
系统等都是拥有核心自主知识产权并填补国内空白的重要产品。130 MHz超高测试频率的TH2851系列精密阻抗分析
仪,基于自动平衡原理在阻抗分析仪领域国际领先。公司最新推出的TH199X系列源表/测量单元、TH510系列功率半
导体C-V特性测试仪、TH2690系列飞安表均是填补国内空白,完美实现进口替代的高端产品。公司目前拥有授权专利
65件(其中发明38件),在审发明专利43件,软件著作权 58件。
经过三十年的技术沉淀与积累,公司产品线不断丰富,产品技术性能不断突破,市场占有率不断提升,已成为中
国电子元器件测量仪器领军企业。公司目前主要产品系列为元件参数测试仪器、半导体器件测试仪器、绕线元件测试
仪器、线束线缆测试仪器、电气安规测试仪器、微弱信号测试仪器、电力电子测试仪器、台式数字多用表、电源/电池
综合性能测试系统等大类400余个型号的测试仪器产品。广泛应用于半导体、新能源、3C消费电子、5G 通讯、电力
电子、家用电器等领域的科研与生产测试中。公司始终坚持以创新的解决方案帮助客户解决测量难题、提高测试效率
与产品品质,努力为客户创造更大价值。
公司在良好的发展过程中不断取得新的资质和荣誉:“国家高新技术企业”、“国家级专精特新小巨人企业”、
“江苏省企业技术中心”、“江苏省工业设计中心”、“江苏省磁性元器件智能电子测量仪器工程技术研究中心”、
“江苏省军民融合创新平台”等。公司承担过科技部中小企业创新基金项目2项、江苏省科技成果转化和省工信厅产
业转型升级专项资金项目各1项、江苏省重点研发项目2项及其它多项江苏省/常州市科技计划项目。曾获得多项部/省/
市级科技奖励,包括江苏省创新创业大赛一等奖、机械工业联合会科学技术二等奖、中国仪器仪表学会科技进步二等
奖、江苏省科学技术三等奖3项、常州市科技进步二等奖2项、常州市创新创业大赛一/二/三等奖多项。
“实现顾客满意”是同惠始终坚持的营销准则。公司已建成多层次的市场营销模式,在全国20多个省市建立了营
销和服务网络,为客户提供优质的产品和服务,贴近客户、倾听客户,构建与客户合作、沟通和交流的快捷通道,为
客户创造价值。 海外市场已成为公司发展的重要组成部分,已在北美、欧洲、东南亚、南亚等地建立了营销网络并取
得了较好的成果,使来自中国的高科技产品同样能满足世界客户的需要。
公司于2021年1月在新三板精选层挂牌上市,同年11月成为北交所首批上市企业。展望未来,同惠将继续以务实
稳健的姿态,肩负起更多社会责任,以国际化的视野和胸怀,奉献创新成果,共享发展价值。同惠—携手同心,惠及
未来!
手册目录
Manual Catalog
型号 产品名称 主要参数 页码
元器件参数测试仪器前言 P1-4
新品推荐
TH2851/TH2848/TH2840/TH2836/TH2816P/TH510系列 P5-6
半导体器件C-V特性分析仪
TH510系列 半导体器件C-V特性分析仪
测量频率:1kHz-2MHz,
测量参数:Ciss、Coss、Crss、Rg、
VDS: ±200V/±1500V/±3000V
P7-15
阻抗分析仪
TH2851系列 精密阻抗分析仪 测量频率:10Hz-130MHz 基本精度:0.08% P16-26
TH2848系列 精密阻抗分析仪 测量频率:4Hz-10MHz 基本精度:0.05%
TH2839系列 阻抗分析仪 测量频率:20Hz-10MHz 基本精度:0.05% P27-34
LCR数字电桥
TH2840系列 LCR数字电桥测量频率:20Hz-2MHz 基本精度:0.05% P35-42
TH2838系列 精密LCR数字电桥测量频率:20Hz-2MHz 基本精度:0.05% P43-49
TH2836系列 高频LCR数字电桥 测量频率:4Hz-8.5MHz 基本精度:0.05% P50-54
TH2829系列 自动元件分析仪 测量频率:20Hz-1MHz 基本精度:0.05% P55-60
TH2827系列 精密LCR数字电桥测量频率:20Hz-1MHz 基本精度:0.05% P61-63
TH283X系列 紧凑型LCR数字电桥 测量频率:50Hz-200kHz 基本精度:0.05% P64-67
TH2816A+
TH2816B+
TH2816P型
精密LCR数字电桥测量频率:50Hz-200kHz
基本精度:0.05%
基本精度:0.05%
基本精度:0.02%
P68-71
TH2817B+ 型 LCR数字电桥测量频率:50Hz-100kHz 基本精度:0.1% P72-75
TH2810B+ 型 LCR 数字电桥 测量频率:100Hz-10kHz 基本精度:0.1% P72-75
TH2817C+ 型 LCR数字电桥测量频率:50Hz-100kHz 基本精度:0.1% P76-79
TH2810D/11D/
TL2812D 型 LCR 数字电桥 测量频率:100Hz-10kHz 基本精度:0.25% P80-81
TH2822系列 手持式LCR数字电桥 测量频率:100Hz-100kHz 基本精度:0.1% P82-83
TH2638系列 高速精密电容测量仪 测量频率:100Hz-1MHz 基本精度:0.07% P84-90
自动变压器测试系统
TH2840X系列 自动变压器测试系统 测量频率:20Hz-2MHz 脚位:24-288Pin P91-97
TH2829X系列 自动变压器测试系统 测量频率:20Hz-1MHz 脚位:20-192Pin P98-102
电感偏流特性测试系统
TH902A/TH903A 型 电感偏流特性综合测试系统输出电流:0-60A-120A 频率响应:0-2MHz P103-105
TH1779 直流偏置电流源
TH1778A/
TH1778AS 系列 直流偏置电流源 测量频率:0Hz-2MHz P106-108
同惠电子测量仪器产品线 P109
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同惠电子 - 元器件参数测试仪前言
同惠LCR数字电桥频率分布选型表
频率(Hz)型号 4 10 20 50 60 100 120 1k 10k 20k 40k 50k 100k 200k 300k 500k 1M 2M 5M 8.5M 10M 15M 30M 50M 80M 130M
TH2851-130 ● ●
TH2851-080 ● ●
TH2851-050 ● ●
TH2851-030 ● ●
TH2851-015 ● ●
TH2839 ● ●
TH2839A ● ●
TH2836 ● ●
TH2836A ● ●
TH2826 ● ●
TH2840B ● ●
TH2838/TH2838H ● ●
TH2826A ● ●
TH2838A ● ●
TH2829C ● ●
TH2827C ● ●
TH2840A ● ●
TH2829A ● ●
TH2827A ● ●
TH2832 ● ●
TH2816A+/
TH2816B+
TH2816P
● ●
TH2830 ● ●
TH2817B+ ● ● ● ● ● ● ● ● ● ●
TH2817C+ ● ● ● ● ● ● ● ● ● ●
TH2822C/
TH2822E ● ● ● ● ●
TH2810B+ ● ● ●●
TH2810D ● ● ●●
TH2811D ● ● ●●
TL2812D ● ● ●●
TH2822A/
TH2822D ● ● ●●
型号
频率(Hz) 4 10 20 50 60 100 120 1k 10k 20k 40k 50k 100k 200k 300k 500k 1M 2M 5M 8.5M 10M 15M 30M 50M 80M 130M
注: ----------- 实线表示在该频域内信号频率为连续的,频率分辨率≤10m
------- 虚线表示在该频域内信号频率为离散的,频率总数≥16
● 仅实点表示具体的频率点
A1
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同惠电子 - 元器件参数测试仪前言
A1-A2
同惠 LCR /阻抗分析仪选型指南
1.频率优先原则
2.行业规则
3.特殊功能和需求
4.使用场合
LCR并非万能阻抗类测试仪器,无法测试所有阻抗范围内器件,其测试范围如下图
1)电解电容, 钽电容普通测试只需要100Hz或者120Hz,有些可能需要100kHz测试串联等效电阻(ESR)
2)测量 CBB 等薄膜电容器的测试频率需达到 100kHz,有些需要双频测试,可用TH2817B+、TH2817C+
3)高频陶瓷电容测试需要恒定的电平,推荐TH2638系列电容测试仪
4)测试电感,特别是磁性电感,最好选择带直流偏置电流源的电桥,为了与其他品牌测试数值兼容,建议选择信号源内阻可以选择的
5)测量法拉级超大电容器可选择TH2638/A
1)需要同时测试电感的电感量和直流电阻:TH2830系列、TH2838系列、TH2839系列、TH2836系列、TH2840系列、
TH2851系列
2)分析换能器压电陶瓷: TH2851、TH2840、TH2839、TH2838、TH2836、TH2829、TH2827等系列
3)单组变压器测试功能: TH2827、TH2817C+
4)一个器件多个参数同时测试: TH2851系列、TH2840系列、TH2829系列
1)元器件生产厂家,系统集成商,选用带分选和HANDLER接口的LCR
2)元器件使用厂家,建议选择频率范围宽的LCR
3)企业研发部门,学校实验室,建议选择带图形化分析功能的自动元件分析仪
4)维修,现场检测可以选购手持式的TH2821系列,TH2822系列
无源器件阻抗与频率对应关系如下:
理想电感: 公式: |Z|=|XL|=2πfL=ωL
理想电容: 公式: |Z|=|Xc|=1/2πfC=1/ωC
所需频率:
频率选择原则:
优先推荐高频LCR电桥,频率越高意味着测试范围越宽。
考虑客户预算的前提下,对于频率的选择,一般遵循以下规律:
电容C、电感L越小,则应该选择高的频率
电容C、电感L越大,则应该选择低的频率
A2
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同惠电子 - 元器件参数测试仪前言
LCR数字电桥/阻抗分析仪基础知识
串联等效(s) 和并联等效(p)
真实世界的不存在纯净电子元器件,一般会包含寄生参数,以电容器为例,电容及寄生参数实际电路图如下:
如何选择串并联等效?
A3
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同惠电子 - 元器件参数测试仪前言
A3-A4
LCR/阻抗分析仪测试精度比较
常用无源器件测试条件
器件类型 范围 建议频率 等效模式 大小
电容
C≤10pF ≥100kHz 并联 小电容 10pF<C≤1nF 10kHz-100kHz 并联
1nF<C≤1μF 1kHz-10kHz 并联 中电容 1nF<C≤1μF 100Hz-1kHz 并联
1μF<C≤100μF 100Hz 并联/串联 大电容 C>100μF 100Hz 串联/并联
电感
L<10μH ≥100kHz 串联 小电感
10μ≤L<1mH 10kHz-100kHz 串联 中电感
1mH≤L<1H 100Hz-1kHz 串联 大电感 L>1H 100Hz 串联/并联
电阻
R<100mΩ 0Hz(DCR) ------ 小电阻
100mΩ≤R≤10kΩ 1kHz 串联/并联 中电阻 10kΩ<R≤1MΩ 100Hz 并联
R>1MΩ 0Hz(IR) ------ 高阻
A4
• 测试频率:4Hz-10MHz
• 高分辨率:10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏
• 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
• 高稳定性和一致性:15个量程配置
• 高功率:信号电平:20VAC/100mAAC
内置直流偏置:±40VDC/100mADC
• 操作便捷:Linux操作底层、触摸操作、嵌入式帮助
• 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
• 压电导纳圆测试、介电常数测试
• 一体化设计:
LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件
• 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)
三种测试方式
• 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏一键测量及显示
• 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件
• CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描
• 栅极电压VGS:0 - ±40V
• 漏极电压VDS:0 - ±200V/±1500V/±3000V
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元器件参数测试仪--新品推荐
新品推荐
• 测试频率:10Hz-130MHz
• 基本阻抗精度:0.08%,典型值≤±0.045%
• 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
• 高稳定性和一致性
• 高速度:最快达2.5ms的测试速度
• 高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800
• 点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种
测试方式
详见第XX页
详见第XX页
详见第XX页
A5
TH2851系列精密阻抗分析仪
TH510系列半导体C-V特性分析仪
TH2848系列LCR数字电桥
• 测试频率:20Hz-2MHz
• 高速度:双CPU架构,最快达1800次/s的测试速度
• 高分辨:10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏
• 高稳定性和一致性:14个量程配置
• 高功率:信号电平:20V/100mA
内置直流偏置:±40V/100mA
内置偏流源:2A
• DCR电平:20V/100mA
• 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
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元器件参数测试仪--新品推荐
新品推荐
• 测试频率:50Hz-200kHz
• 0.02%精度(TH2816P),7位读数
0.05%精度(TH2816A+/TH2816B+)6位读数
• 10mVrms - 2.0Vrms可编程测试电平
• 兼容原有偏流源控制
• 高稳定性、高准确性
• 最快速度约60 次/秒
详见第XX页
详见第XX页
• 测试频率:4Hz-8.5MHz
• 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
• 高速度:最快达5.6ms的测试速度
• 高分辨:7英寸,800×480分辨率
• 10点多参数列表扫描功能
• 数学运算功能
• 变容二极管自动极性功能
TH2816P系列精密LCR数字电桥
TH2836系列精密阻抗分析仪
A5-A6
A6
详见第XX页
TH2840系列LCR数字电桥
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
TH510系列 半导体器件C-V特性分析仪
4个型号可选(±200V/±1500V/±3000V)
RS232
HANDLER
USB HOST
LAN GPIB
USB DEVICE
RS485
SCPI MODBUS
附件
体积(mm):430(W)x177(H)x405(D)
净重:约16kg
随机附件:电源线一根
TH26063B 测试夹具(仅TH511和TH512)
TH26063C 测试夹具(仅TH511和TH512)
TH26063D 连接电缆
TH26063G 测试延长线
TH26063J 测试夹具(仅TH513)
选配件 :200V通道板
1500V通道板
图形扫描软件
尺寸/重量
• 半导体功率器件
二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光
电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析
• 半导体材料
晶圆切割、C-V特性分析
• 液晶材料
弹性常数分析
• 电容元件
电容器C-V特性测试及分析,电容式传感器测试分析
应用领域
• TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半
导体功率器件发展趋势,针对半导体材料及功率器件设计的分析仪
器。
仪器采用了一体化集成设计,二极管、三极管、MOS管及
IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试,无需频繁
切换接线及设置参数,单管功率器件及模组功率器件均可一键快速
测试,适用于生产线快速测试、自动化集成。
CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器
件的研发及分析(此功能为选件)。
仪器设计频率为1kHz-500kHz/2MHz,VGS电压可达±40V,
VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V,足以满足大多数功率器件
测试。
简要介绍
• 一体化设计:
LCR+栅极电压VGS+漏极电压VDS+通道切换+上位机软件
• 栅极电压VGS:0 - ±40V
• 漏极电压VDS:0 - ±200V/±1500V/±3000V
• 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)
三种测试方式
• 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏一键测量及显示
• 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件
(TH511E/TH513仅1通道)
• CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描
• 电容快速充电技术,实现快速测试
• 接触检查Cont
• 通断测试OP_SH
• 自动延时设置
• Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题
• 高压击穿保护:解决栅极电压过高反冲仪器问题
• Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513)
• Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析
• 等效模式转换功能,可选Cs或Cp模式
• 10档分选
简要参数 TH511E TH511 TH512 TH513
通道 1 2(可扩展至6) 2(可扩展至6) 1
测试频率 1kHz-500kHz 1kHz-2MHz
测试参数 Ciss、Coss、Crss、Rg
LCR功能 √ ------
VGS范围 0 - ±40V
VDS范围 0 - ±200V 0 - ±1500V 0 - ±3000V
性能特点
A98
A97-A98
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
Dynamic
Input Capacitance Ciss VGS=0V,
VDS=25V,
f=1MHz
- 1300 -
pF
Onput Capacitance Coss - 96 -
Reverse Transfer Capacitance Crss - 6 -
Reverse Output Capacitance,Energy Relateda Co(er) VDS=0V to 520V,
VGS=0V
- 45 -
Effective Output Capacitance,Time Relatedb Co(tr) - 62 -
Total Gate Charge Qg
VGS=10V ID=4A,
VDS=520V
- 25 -
Gate-Soruce Charge Qgs - 2.0 - nC
Gate-Drain Charge Qgd - 2.7 -
Turn-on Delay Time td(on)
VDD=520V, ID=4A,
VGS=10V,Rg=9.1Ω
- 25 -
ns Rise Time tr - 55 -
Turn-off Delay Time td(off) - 70 -
Fall Time tf - 40 -
Gate input Resistance Rg f=1MHz,open drain - 2 - Ω
一台仪器内置了LCR数字电桥、VGS电压源、VDS电压源、高低压切换矩阵以及上位机软件,将复杂的接线、繁琐的操作集成
在支持电容式触摸的Linux系统内,操作更简单。特别适合产线快速化、自动化测试。
功能特点
B.单管器件测试,10.1吋大屏,四种寄生参数同屏显示,让细节一览无遗
A.一体化测试,集成度高、体积小、效率高
C.列表测试,多个、多芯、模组器件测量参数同屏显示
MOSFET或IGBT最重要的四个寄生参数:Ciss、Coss、Crss、
Rg,Cies、Coes、Cres、Rg均可一键测试,10.1吋大屏可同时将
测量结果、等效电路图、分选结果等重要参数同时显示,一目了
然。
一键测试单管器件器件时,无需频繁切换测试脚位、测量参
数、测量结果,大大提高了测试效率。
TO-200 FULLPAK
TH510系列半导体C-V特性分析仪支持最多6个单管器件、6芯器件或6模组器件测试,所有测量参数通过列表扫描模式同时显
示测试结果及判断结果。
同时保存6个通道参数可快速调用切换。
CH1
CH2
A99
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
E.Cs-V功能,二极管结电容CV特性测试分析
得益于TH510系列功率器件CV特性分析仪内置了2路直流
电源,使二极管的CV特性分析成为可能,Cs-V功能可用于测
试各种二极管的结电容,并可分析二极管的CV特性。
TH510系列半导体C-V特性分析仪支持C-V特性曲线分析,可以以对数、线性两种方式实现曲线扫描,可同时显示多条曲线:
同一参数、不同Vg的多条曲线;同一Vg、不同参数多条曲线。
TH510系列同时支持多种曲线扫描模型。
曲线支持散点标记及粗细调节 Ciss-Rg曲线扫描
D.曲线扫描功能(选件)
在MOSFET的参数中,CV特性曲线也是一个非常重要的指标,如右图
A100
A99-A100
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
F.等效模式转换
TH510系列功率器件CV特性分析仪测试结果的电容C均为
串联模式Cs,对于部分需求测试并联模式Cp需求的客户,可自
行切换。
G.多种独特技术,解决自动化配套测试痛点
在配套自动化设备或者产线时,经常会遇到下列问题,
同惠针对多种情况进行了优化。
1) 独特技术解决Ciss、Coss、Crss、Rg产线/自动化
系统高速测试精度
同惠电子在电容测试行业近30年的经验积累,得以在产
线、自动化测试等高速高精度测试场合,都能保证电容、电
阻等测试精度。
常规产线测试,提供标准0米测试夹具,直插器件可直接
插入进行测试,Ciss、Coss、Crss、Rg测试精度高。
针对自动化测试,由于自动化设备测试工装通常需要较长连接线,大多自动化设备生产商在延长测试线时会带来很大的精度
偏差,为此,同惠设计了独特的2米延长线并内置了2米校准,保证Ciss、Coss、Crss、Rg测试精度和0米测试夹具一致。
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
2)接触检查(Contact)功能,提前排除自动化测试隐患
在高速测试特别是自动化测试中,经常会由于快速插拔或闭合,造成
测试治具或工装表面磨损、引线断裂而接触不良,接触不良的造成的最直
接后果是误判测试结果而难以发现,在废品率突然增加或发出产品故障原
因退回时才会发现,因此是一个极大的隐患。
同惠TH510系列半导体C-V特性分析仪采用了独特的硬件测试方法,
采用了四端测量法,每个脚位均有两根线连接,若任意一根线断裂或者
接触点接触不良,均可及时发现并提供接触不良点提示,仪器自动停止测
试,等待进一步处理。
保障了结果的准确性,同时利于客户及时发现问题,避免了不良品率
提高及故障品退回等带来的损失。
接触不良提示
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
A101
可自定义阈值电压大小及开启、关闭
3)快速通断测试(OP_SH),排除损坏器件
在半导体器件特性测试时,由于半器件本身是损坏件,特别是多芯器件其中一个芯已经损坏的情况下,测试杂散电容仍有可
能被判断为合格,而半导体器件的导通特性才是最重要的特性。
因此,对于本身导通特性不良的产品进行C-V特性测试是完全没有必要的,不仅仅浪费了测量时间,同时会由于C-V合格而混
杂在良品里,导致成品出货后被退回带来损失。
TH510系列半导体C-V特性分析仪提供了快速通断测试(OP_SH)功能,可用于直接判断器件本身导通性能。
4)Crss+Plus功能,解决自动化测试系统高频下Crss负值问题
Crss电容通常在pF级,容量较小,测试是个难题。
而在自动化测试系统中,由于过多的转接开关、过长测
测试引线等带来的寄生参数。
因此,测试Crss,特别是在高频测试时通常会出现负
值,
同惠电子凭借在电容器测试行业30年的技术及经验积
累,采用独特的算法的Crss Plus模式,可保证即使是在自动
化测试系统中、高频下也能测的正确的结果。
短路提示
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400-624-1118
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
针对模组式器件如双路(Dual)MOSFET、多组式
IGBT,有些器件会有不同类型芯片混合式封装,TH510系列
CV特性分析仪针对此情况做了优化,常见模组式芯片Demo
已内置,特殊芯片支持定制。
仪器提供了 1 0 档
分选,为客户产品质
量分级提供了可能,
分选结果直接输出至
HANDLER接口。
在与自动化设
备连接时,怎么配置
HANDLER接口输出,
一直是自动化客户的
难题,TH510系列将
HANDLER接口脚位、
输入输出方式、对应信
号、应答方式等完全可
视化,让自动化连接更
简单。
A102
A101-A102
5)漏源高压击穿保护技术,防止损坏测试仪器 7)模组式器件设置,支持定制
8)10档分选及可编程HANDLER接口
6)Interlock互锁功能,确保高压下操作环境安全(仅TH513)
在测试功率器件电容时,漏极D通常会加上高压,特别
是第三代功率半导体器件,电压甚至可高达1000V-3000V,
当漏源瞬间击穿时,常会导致电容器瞬间短路放电,在漏源
电压1500V时,放电电流可高达780A,如此大的瞬间电流,
会反冲至仪器内部电路,并导致损坏。
同惠高压击穿保护技术,解决了此隐患,避免经常由于
高压冲击损坏仪器,降低了维修成本的同时提高了自动化测
试的效率。
在测试功率器件需施加高压,因此对于操作者及其他设
备的安全隔离非常重要,特别是在自动化产线,通常会将高
压设备放置在一个隔离的环境,并通过安全门开启关闭来保
证操作者的安全。
TH510系列功率器件CV特性分析仪配置了Interlock接
口,可与安全门开关连接,在安全门开启时切断高压输出并
禁止仪器启动,只有关闭后才能正常工作。确保了操作者和
设备的安全。
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
I.支持定制化,智能固件升级方式
同惠仪器对于客户而言是开放的,仪器所有接口、指令集均为开放设
计,客户可自行编程集成或进行功能定制,定制功能若无硬件更改,可直
接通过固件升级方式更新。
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件
(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。
固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,
智能搜索仪器内存、外接优盘甚至是局域网内升级包,并自动进行升级。
A103
J.半导体元件寄生电容知识
在高频电路中,半导体器件的寄生电容往往会影响半导体的动态特性,所以在设计半导体元件时需要考虑下列因素:
在高频电路设计中往往需要考虑二极管结电容带来的影响;MOS管的寄生电容会影响管子的动作时间、驱动能力和开关损耗
等多方面特性;寄生电容的电压依赖性在电路设计中也是至关重要,以MOSFET为例。
Rg
H.简单快捷设置
参数可以任意选择,可打开及关闭,关闭参数可有效节约时间和数据传输;延时
时间可自动设置或自行设置;栅极电阻可选漏源短路或漏源开路。
单测设置界面
采用图形化设置界面,功能参数对应
原理图设置一目了然。
列表扫描设置界面 CV扫描设置界面
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
符号 名称 测试原理 影响
Ciss 输入电容 漏源短接,用交流信号测得的栅极和源极之间的容,
Ciss = Cgs +Cgd 影响延迟时间;Ciss越大,延迟时间越长
Coss 输出电容 栅源短接,用交流信号测得的漏极和源极之间的容,
Coss = Cds +Cgd
Crss越大,漏极电流上升特性越差,这不利于MOSFET的损耗。高速驱动需要低电容。
Crss 反向传输电容
源极接地,用交流型号测得的漏极和栅极之间的电
容,也称米勒电容反向传输电容等同于栅漏电容。
Crss = Cgd
影响关断特性和轻载时的损耗。
如果Coss较大,关断dv/dt减小,这有利于噪声。
但轻载时的损耗增加。
Rg 栅极输入电阻 Rg被定义漏源短接,偶尔也被定义为漏极开路
K.标配附件
TH26063B 测试夹具 TH26063C 测试夹具 TH26063G 测试延长线
A104
A103-A104
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
产品型号 TH511E TH511 TH512 TH513
通道数 1 2(可选配4/6通道) 1
显示
显示器 10.1英寸(对角线)电容触摸屏
比例 16:9
分辨率 1280×RGB×800
测量参数 Ciss、Coss、Crss、Rg,四参数任意选择
LCR模式 √ ------
测试频率
范围 1kHz-500kHz 1kHz-2MHz
精度 0.01%
分辨率
10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz
1Hz 100.000kHz-999.999kHz
10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz
测试电平
电压范围 5mVrms-2Vrms
准确度 ±(10%×设定值+2mV)
分辨率
1mVrms 5mVrms-1Vrms
10mVrms 1Vrms-2Vrms
VGS电压
范围 0 - ±40V
准确度 1%×设定电压+8mV
分辨率
1mV 0V - ±10V
10mV ±10V - ±40V
VDS电压 范围 0 - ±200V 0 - ±1500V 0 - ±3000V
准确度 1%×设定电压+100mV
输出阻抗 100Ω,±2%@1kHz
数学运算 与标称值的绝对偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ%
校准功能 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD、夹具校准
测量平均 1-255次
AD转换时间(ms/次)
快速+:2.5ms(>5kHz)
快速:11ms
中速:90ms
慢速:220ms
最高准确度 0.5%(具体参考说明书)
Ciss、Coss、Crss 0.00001pF - 9.99999F
Rg 0.001mΩ - 99.9999MΩ
Δ% ±(0.000% - 999.9%)
多功能参数
列表扫描
点数 50点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选
参数 测试频率、Vg、Vd、通道
触发模式
顺序SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX只输出一次
步进STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只
在最后的/EOM才输出
图形扫描
扫描点数 任意点可选,最多1001点
结果显示 同一参数、不同Vg的多条曲线;同一Vg、不同参数多条曲线
显示范围 实时自动、锁定
坐标标尺 对数、线性
扫描参数 Vg、Vd
触发方式 手动触发一次,从起点到终点一次扫描完成,下个触发信号启动新一次扫描
结果保存 图形、文件
技术参数
A105
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元器件参数测试仪
-半导体C-V特性分析
仪
比较器
Bin分档 10Bin、PASS、FAIL
Bin偏差设置 偏差值、百分偏差值、关
Bin模式 容差
Bin计数 0-99999
档判别 每档最多可设置四个参数极限范围,四个测试参数结果设档范围内显示对应档号,超出设定最大
档号范围则显示FAIL,未设置上下限的测试参数自动忽略档判别
PASS/FAIL指示 满足Bin1-10,前面板PASS灯亮,否则FAIL灯亮
存储调用 内部 约100M非易失存储器测试设定文件
外置USB 测试设定文件、截屏图形、记录文件
键盘锁定 可锁定前面板按键,其他功能待扩充
接口
USB HOST 2个USB HOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个
USB DEVICE 通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USB TMC-USB488和USB2.0相符合,阴接头
用于连接外部控制器。
LAN 10/100M以太网,8引脚,两种速度选择
HANDLER 用于Bin分档信号输出
RS232C 标准9针,交叉
RS485 标准差分线
GPIB 24针D-Sub端口(D-24 类),阴接头与IEEE488.1、2和SCPI兼容
开机预热时间 60分钟
输入电压 100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz
供电电源功率 不小于130VA
尺寸(WxHxD)mm 430x177x405
重量 16kg
A106
A105-A106
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
TH2851 精密阻抗分析仪
5个型号可选(10Hz-130MHz)
随机附件: TH26047A 四端对测试夹具
TH26005D 四端对测试夹具
TH26082A 100Ω标准件
TH26010 镀金短路板
TH26061D_P1 校准套件
AR05TTS1000N 贴片电阻
选配件: TH26007A 磁环测试夹具
TH26008A SMD元件测试夹具
TH26009B SMD元件测试钳
TH26048B 四端对测试夹具
TH26062A 四端对测试夹具
TH26063 四端对测试夹具
TH26108C 四端对贴片测试夹具
TH26077 电介质测试夹具
TH26086 TH2851-7mm夹具
TH26088 TH2851磁导率测试夹具
TH26086_CAL TH2851-7mm夹具校准套件
等适用于电桥的夹具配件或定制
附件
体积(mm):428 (W)×220(H)×325(D)
净重:14.5kg
尺寸/重量
• 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和
网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
• 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;
晶体管或集成电路的寄生参数分析
• 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
• 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
• 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
• 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的
介电常数、弹性常数等C-V特性
应用领域
• TH2851系列阻抗分析仪是常州同惠电子采用当前国际先进的自
动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,为国产阻抗测试
仪器的最新高度。
TH2851系列阻抗分析仪彻底改变了传统国产仪器复杂繁琐
的操作界面,基于Windows10操作系统,实现了全电脑化操作界
面,让测试更智能、更简便。
TH2851系列阻抗分析仪也彻底超越了国外同类仪器120MHz
的频率瓶颈;解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺
陷;中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬;采用
单测和分析两种界面,让测试更简单。
快达2.5ms的测试速度、及高达40MΩ的阻抗测试范围可以满
足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质
因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线
电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器
向下扩展了十倍。
简要介绍
• 测试频率:10Hz-130MHz • 基本阻抗精度:0.08%,典型值≤±0.045%
• 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
• 高稳定性和一致性
• 高速度:最快达2.5ms的测试速度
• 高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800
• 点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种
测试方式
• 1601点多参数列表扫描功能
• 四参数测量
• 自动电平控制(ALC)功能
• 4通道图形扫描功能,每通道可显示4条曲线,通道和曲线有14
种分屏显示方式
• 分析功能:等效电路分析、晶体振荡器分析、压电分析、
曲线轨迹对比、介电常数分析(选件)、磁导率分析(选件)
• 强大的分选:LCR模式10档分选
• 图形扫描模式每条曲线单独分选,频率分段扫描并分选
• 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、
E4980A、E4980AL、HP4284A
性能特点
RS232
HANDLER HMDI
GPIB
USB HOST
VGA
LAN
USB DEVICE
SCPI
TH2851系列阻抗分析仪包括以下几种类型:
简要参数 TH2851
- 015
TH2851
- 030
TH2851
- 050
TH2851
- 080
TH2851
- 130
测试频率 10Hz
-15MHz
10Hz
-30MHz
10Hz
-50MHz
10Hz
-80MHz
10Hz
-130MHz
基本精度 0.08%
AC信
号源
电压 5mVrms - 2Vrms
电流 200μA - 20mArms
DC偏
置
电压 0V - ±40V
电流 0mA - ±100mA
A5
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
A5-A6
A.高精度
宽带自动调零型自动平衡电桥技术的应用,得以在10Hz-130MHz频率、25mΩ-40MΩ的阻抗范围内都能达到理想的10%测量
精度,其中最高精度达0.08%,远远高于射频反射测量法的阻抗分析仪、网络分析仪的精度。
下图是在速度5、测试频率1MHz,测量100Ω电阻的曲线,
由下图可见其轨迹噪声≦0.003%(≦±0.0015Ω)
B.高稳定性和高一致性 C.高速度
功能特点
A6
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
F.强大的分析图形界面
G.分段扫描功能
最多可以4通道同时显示,每个通道
可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有
十四种分屏显示方法。
分段扫描是在一个扫描周期内,设置不同的频率分段进行扫描,扫描时可设置不同的电平及偏置,扫描结果直接图形显示,
用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。
如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率,通过分段扫描功能可在特定频率范围内扫描测量,无需扫描
不相关频率
单通道四曲线显示
双通道双曲线显示
单通道单曲线
四通道四曲线
10.1吋触摸屏、1280*800分辨率,Windows10系统、中英
文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口,带来的
是无以伦比的操作便捷性。
大屏幕带来更多的好处是,可以把所有测试参数及分选参
数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝
不拥挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意
可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数
可以最多设置1601点的列表扫描,每个点可以单独设置测试
频率、测试电压、直流偏置等测试条件。
D.10.1吋大屏,四种测量参数,让细节一览无遗 E.增强的列表扫描功能
A7
通道 显示窗口 单个窗口可以设置不同扫描
条件
曲线 测量参数 每个窗口可以设置4条曲线
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
A7-A8
H.强大的光标分析能力
TH2851系列精密阻抗分析仪具有强大的光标分析能力,可以通过光标实现如下功能:
1. 读取测量结果的数值(作为绝对数值或者相对于参考点的相对值)
2. 查找曲线上的特定点(光标查找)
3. 分析曲线测量结果,计算统计数据
4. 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放
TH2851 可以在每条曲线上显示 10 个光标,包括了参考光标。
每个光标有一个激励值(坐标系 X 轴对应的数值)和响应值(坐标系 Y 轴对应的数值)。
光标查找功能允许搜索下列条件测量点:
最大值、最小值
峰谷值: 峰值(极大值)、谷值(极小值)、光标左侧最近的峰谷值、光标右侧最近的峰谷值、多重峰谷值
目标值: 距离光标最近的目标值、光标左侧最近的目标值、光标右侧最近的目标值、多重目标值
A8
2) 等效电路分析
现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四
参数三种模型的阻抗器件,等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路
模型用于等效这些器件。
可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲
线进行对比,还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。
等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用
I.强大的图形分析功能
1) 曲线分选功能
可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断,常用于谐振曲线筛选如压电元件等谐振频率。
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
3) 晶体振荡器分析(压电器件分析)
对晶体振荡器进行测量以及性能分析,测量计算后获取晶体的谐振
频率、反谐振频率、品质因数等重要参数。
同时,对于其他压电器件如压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、
压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变压器、大功率超声波发生器、换能器(振
子)、声表面波器件、电声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振
频率、反谐振频率、机械耦合系数等参数。
4) 曲线轨迹对比
曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量,所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用:
a) 针对多种不同被测件
对比不同测量条件下的曲线轨迹
设置不同的频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值
b) 针对同一个被测件
对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性
设置不同频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值
A9
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
J.介电常数分析(选件)
TH2851系列精密阻抗分析仪支持介质材料介电常数、介质损耗分析,需选购测试夹具及分析软件。
1.配置
2.TH26077介质材料测试夹具
1)外形结构
2)基本参数
3)测试原理
4)介电常数公式
TH26077电介质材料测试夹具是设计在TH2851上进行准确的介电常数及介质损耗测量的夹具。通过使用平行板方法测量
固态材料的介电常数,从而消除离散电容。
CP:测试仪器测出的等效并联电容值(F)
ta :被测材料的平均厚度(m)
A :屏蔽电极中测试电极的面积(m2
)
d :屏蔽电极中测试电极的直径(m)
屏蔽电极A1 :38×10-3 [m]
屏蔽电极A2 :5×10-3 [m]
ε0 :自由空间介电常数8.854×10-12 [F/m]
序号 型号 必选项
1 TH2851 阻抗分析仪主机 √
2 TH26077 介质材料测试夹具 √
3 TH2851 介电常数测试软件 √
测试频率 DC-30MHz
测量参数 电容(C)、耗损因数(D)、介电常数(εr', εr'')
测试电极 电极种类 被测材料直径 被测材料厚度
屏蔽电极A1 40mm - 56mm ≤10mm
屏蔽电极A2 10mm - 56mm ≤10mm
测试原理 平行板测量法
清零 开路、短路
屏幕电极A屏蔽端
非屏幕电极B
测试磁场示意图
被测材料
测试电极
Cp
屏幕电极A中心电极
屏蔽电极A1
屏蔽电极A
电极A固定螺钉
千分尺小旋钮
非屏蔽电极B
电极A压力
弹簧
一个控制电极B的螺钉孔
屏蔽电极A2
A10
A9-A10
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
3.介电常数分析软件
该软件为选件,开通后在TH2851界面直接选择对应的参数即可,分别可以单测、列表扫描、曲线扫描,下图为曲线扫描
界面。
K.磁导率分析
TH2851支持磁性材料磁导率测试,在主机的基础上,需选配测试夹具及磁导率分析软件,具体配置如下:
1.配置
2.测试夹具
1)TH26086转接底座 2)TH26088磁导率测试夹具
序号 型号 必选项
1 TH2851 阻抗分析仪主机 √
2 TH26086 测试夹具底座 √
3 TH26088 磁导率测试夹具 √
4 TH2851 磁导率测试软件 √
5 TH26086_CAL夹具校准套件 √
测试频率 DC - 130MHz
最高电压 ±42V 峰值(AC+DC)
工作温度 0°C - 40°C
测试频率 1kHz - 1GHz
样本尺寸 高度h 内径范围b(直径) 外径范围c(直径)
小型部件用 ≤ 3 mm ≥ 3.1 mm ≤ 8 mm
大型部件用 ≤ 8.5 mm ≥ 5 mm ≤ 20 mm
用于将4端对转换成N型7mm底座,适配其他测试夹具
如TH26088磁导率测试夹具。
TH26086为必选项,若未选购,TH26088将无法正确测
量。
TH26088可精确测量环形磁性材料的磁导率。由于该夹
具的结构是环形线圈绕一圈(无漏磁),因此不需要绕环形线
圈的导线,而且允许广泛的频率覆盖。 它配有一个小型和一
个大型夹具,适应各种尺寸,是测量磁性材料的理想结构。
技术参数 技术参数
A11
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
3.测试原理
2)有效磁导率μ'e、μ\"e
1)磁导率基本概念
采用电感测量法测量,在环形磁芯的磁芯上缠绕导线,并放置在一个密闭的圆柱形空间内(TH26088夹具),通过阻抗
分析仪测量导线两端的电感(自感),根据测试电感量及下列公式推导出有效磁导率。
磁导率是材料与磁场的相互作用,等于电感 B
(磁感应强度)与磁场强度 H 的比值
复数相对导磁率 (μ*r) 由实部和虚部组成
实部 (μ'r):储存电能
虚部 (μ"r):消耗能量
也是真空导磁率 (μ0)的复数导磁率μ*r)
损耗角正切 tanδ为无效导磁率,是实部 (μ'r)
和虚部 (μ"r)的比值
Reff 磁芯损耗 (包括线路电阻) 的等效电阻
Leff 环形线圈的电感
RW 线路电阻
N 匝数
磁芯的平均磁路长度 [m]
A 环形磁芯的横截面积 [m2
]
ω 2πf (角频率)
μ0 真空导磁率=4π×10-7 [H/m]
3)相对导磁率μ
A12
A11-A12
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
4.磁导率分析软件
选择开通磁导率分析软件之后,仪器便可以在单测、列表扫描、曲线扫描中直接选择磁导率参数,直接在界面显示测试
结果
A13
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
L.标配附件
M.选配附件
TH26007A磁环测试夹具 TH26108C四端对贴片测试夹具
TH26063四端对测试夹具
TH26047A四端对测试夹具 TH26082A 100Ω标准件 TH26010 镀金短路板 ❶TH26061D_P1 校准套件
❷AR05TTS1000N 贴片电阻
TH26005D四端对测试夹具
TH26008ASMD 元件测试夹具 TH26009B SMD元件测试钳 TH26062A四端对测试夹具
TH26048B四端对测试夹具 TH26077电介质测试夹具 TH26086 TH2851-7mm夹具 TH26088 TH2851磁导率测试夹具
TH26086-CAL
7mm夹具校准套件
·工作频率:DC-40 MHz
·最大偏置:±42 V
·应用:SMD器件,尤其高频小电
容≤3pF或小电感≤1µH,测试频率
≥100kHz,且对D和Q要求高的器件
·工作频率: DC-120MHz
·最大直流偏置: ±42V
·应用:小型磁环单匝电感量测
试,尺寸大小可定制
·工作频率: DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:测试螺栓电容器,
DC_LINK电容
·工作频率:DC-120 MHz
·最大直流偏置: ±42 V
·应用:用于导线类器件的阻抗
测试,带屏蔽接地端
·工作频率:DC-120 MHz
·最大直流偏置: ±42 V
·工作频率: DC-120MHz
·最大直流偏置: ±42V
·应用:SMD 器件,尤其高频小
电容≤3pF或小电感≤1µH。测
试 频率≥100kHz
·工作频率:DC-15 MHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:用于各种 SMD 器件测试
·工作频率: DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:测试电动汽车用薄膜大容
量DC_LINK电容
·工作频率:DC-30 MHz
·DUT尺寸:10mm – 56mm
·DUT厚度:≤10mm
·应用:固体材料的介电分析
·工作频率:DC-130 MHz
·应用:四端对接口转7mm接口
·工作频率:DC-130 MHz
·DUT尺寸:≤20mm
·DUT厚度:≤8.5mm
·应用:磁性材料复数磁导率分析
·工作频率:DC-13 MHz
·最大直流偏置:±42 V
·应用:用于各种直插式轴向和径
向阻抗器件
A13-A14
A14
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
技术参数
产品型号 TH2851-015 TH2851-030 TH2851-050 TH2851-080 TH2851-130
显示 10.1英寸TFT LCD显示器1280×RGB×800,电容式触摸屏
读数 6位显示分辨率
AC测量参数 Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、复数Z、|Z|、复数Y、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
DC测量参数 VDC、IDC、DCR
测试频率
范围 10Hz - 15MHz 10Hz - 30MHz 10Hz - 50MHz 10Hz - 80MHz 10Hz - 130MHz
最高分辨率 1mHz
频率相对误差 ≤±0.0007%
测试电平
AC电压 5mV - 2Vrms
分辨率 1mV
AC电流 50μA - 20mArms
分辨率 10μA
DC偏置
电压 0V - ±40V
电压分辨率 1mV
电流 0mA - ±100mA
电流分辨率 40μA
测试端配置 四端对
输出阻抗 25Ω/100Ω
典型测量时间(速度)
五档:1(快速) - 5(精确)
1:2.5ms 2:10ms 3:40ms 4:80ms 5:400ms
(不包括通讯时间的算数平均值,每个频率测试速度会略有不同)
最高准确度
1kHz:0.08%
1MHz:0.08%
2MHz:0.5%
10MHz:1%
130MHz:5.0%
测量显示范围 a 1×10-18; E 1×1018
Cs、Cp ±1.00000 aF - 999.999 EF
Ls、Lp ±1.00000 aH - 999.999 EH
D ±0.00001 - 9.99999
Q ±0.01 - 9999.99
R、Rs、Rp、X、Z ±1.00000 aΩ - 999.999 EΩ
G、B、Y ±1. 00000 aS - 999.999 ES
Vdc ±1.00000 aV - 999.999 EV
Idc ±1.00000 aA - 999.999 EA
θr ±1.00000 rad - 3.14159 rad
θd ±0.0001 deg - 180.000 deg
Δ% ±0.0001% - 999.999%
多功能参数列表扫描 1601点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选
扫描参数:测量参数、测试频率、AC电压、AC电流、DC BIAS电压、DC BIAS电流
图形扫描
参数 频率、ACV、ACI、DCV、DCI
类型 对数、线性、频率分段
点数 2-1601
通道数 4
曲线数 4条/通道
分屏显示 16种(通道和曲线)
等效电路分析 3元件模型:4个、4元件模型:3个
晶体振荡器分析 有
曲线轨迹比对 有
分选 LCR模式10档分选;扫描模式每条曲线单独分选
接口 RS232C,USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI
开机预热时间 60分钟
输入电压 100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz
功耗 最大150VA
尺寸(WxHxD)mm3 428x220x325
重量 14.5kg A15
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
TH2848 精密阻抗分析仪
4个型号可选(4Hz-10MHz)
附件
体积(mm):430 (W)×177(H)×265(D)
净重:11kg
尺寸/重量
• 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和
网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
• 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;
晶体管或集成电路的寄生参数分析
• 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
• 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
• 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
• 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
• 液晶材料:
液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
• 压电材料及器件:
压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变
压器、大功率超声波发生器、换能器(振子)、声表面波器件、电
声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振频率、反谐振频率、
机械耦合系数等参数
应用领域
• TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前国际先进的
自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻
抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸
电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技
术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。
TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,
标配了压电导纳圆、介电常数测试功能,让阻抗分析功能得以进一
步提升。
得益于采用了10.1吋、分辨率达1280*800的电容式触摸屏,
TH2848系列精密阻抗分析仪采用了四参数显示、所有设置、监
视、分选参数、状态等可以在同一屏显示,避免了频繁切换的繁琐
操作。
简要介绍
• 高分辨率:10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏
• 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
• 高稳定性和一致性:15个量程配置
• 高功率:信号电平:20VAC/100mAAC
内置直流偏置:±40VDC/100mADC
• 高速度:双CPU架构,最快达400次/s(2.5ms)测试速度
• 操作便捷:Linux操作底层、触摸操作、嵌入式帮助
• 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
• 四参数测量
• 一键记录、一键截屏
• 201点多参数列表扫描功能
• 图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏
• 压电导纳圆测试、介电常数测试
• 强大的分选:LCR模式:10档分选
图形分析模式:支持曲线条件分选
• 高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,
兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A
性能特点
RS232
RS485 HANDLER
GPIB
USB HOST
外部DCI
LAN
USB DEVICE
SCPI
TH2848系列阻抗分析仪包括以下几种类型:
简要参数 TH2848-02L TH2848-
02
TH2848-
05
TH2848-
10
测试频率 4Hz-2MHz 4Hz
-2MHz
4Hz
-5MHz
4Hz
-10MHz
基本精度 0.05%
AC
信 号
源
电压 5mVrms - 2Vrms 5mVrms - 20Vrms
电流 0mArms - 20mArms 0mArms - 100mArms
DC
偏置
电压 0V - ±10V 0V - ±40V
电流 0mA - ±100mA 0mA - ±100mA
独立电压源 0V - ±10V
DCR
测 试
信号
电压 100mV-1V
电流 0mA - 10mA
多功能参数列表
扫描
图 形
分 析
扫描
图形扫描
压电导纳圆
介电常数
A5
随机附件: TH26011BS 四端对测试夹具
TH26048 四端对测试盒
TH26010 短路片
选配件: TH26007A 磁环测试夹具
TH26008A SMD元件测试夹具
TH26009B SMD元件测试钳
TH26047 四端对测试夹具
TH26048B 四端对测试夹具
TH26062A 四端对测试夹具
TH26063 四端对测试夹具
TH26108C 四端对贴片测试夹具
TH26077 电介质测试夹具
等适用于电桥的夹具配件或定制
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
A.高精度
TH2848系列精密阻抗分析仪采用了宽带自动调零型自动平衡电桥技术,与普通运放I/V型自动平衡电桥相比,它能在更宽的
频率范围内保证更高的频率精度!下图以同惠电桥为例,对比了自动平衡电桥与普通电桥在0-10MHz频率范围内的精度差别。目
前同惠的宽带自动调零型自动平衡电桥有TH2839系列、TH2838系列和TH2828系列。
功能特点
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
B.高稳定性和一致性
C.10.1寸大屏,四种测量参数,让细节一览无遗
TH2848系列精密阻抗分析仪,除了宽带自动调零型自动平衡电桥原理带来的高精度和高稳定性之外,仪器内置了15个测试量
程,也是稳定性和一致性的有力保障。
10.1寸触摸屏、1280*800分辨率,Linux系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN接口,带来的是无以伦比的操作便捷
性。
大屏幕带来更多的好处是,可以把4个测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝不拥
挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意可调。
和早期LCR对比,操作便捷性、显示完整性一目了然。
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
D.压电器件分析功能
E.介电常数分析功能
对于其他压电器件如压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变压器、大功率超声波发生器、换能器
(振子)、声表面波器件、电声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振频率、反谐振频率、机械耦合系数等参数。
对于需要专业性的压电导纳圆测试,TH2848系列精密阻抗分析仪也内置了,无需购买上位机即可在仪器图形扫描分析界面直
接实现。
在材料分析领域,介电常数分析是一个基本的内容,TH2848系列精密阻抗分析仪内置了介电测试功能,可以将介电常数当成
阻抗分析仪的常规测试项目一样进行单测、列表扫描、图形扫描分析。
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
F.增强的多功能参数列表扫描功能
G.强大的图形分析界面
最多支持201点列表扫描,每个扫描点可设置4个测量参数,4个测量参数有独立开关,列表扫描每个点的频率、电平、偏置、
功能、延时都可以独立设置,满足了大多数客户的需求。
改进的列表扫描分选结果输出:每行可以指定不同的输出,或任意几行合并结果输出,所有结果可在HANDLER接口直接输
出。
4个扫描轨迹,1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
H.10档分选及可编程HANDLER接口
I.智能固件升级方式
仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可能,分选结果直接输出至HANDLER接口
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。
TH2848系列精密阻抗分析仪固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,智能搜索仪器内存、外接优
盘甚至是局域网内升级包,并自动进行升级。
在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口输出,一直是自动化客户的难题,TH2848系列精密阻抗分析仪将
HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式等完全可视化,让自动化连接更简单。
HANDLE接口压电默认为外部,可编程切换内部5V
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
J.大内存,支持更多配置文件及图片存储
K.全接口配置,联机再无忧虑
TH2848系列升级了更大的内存,除去系统占用空间,用户可使用空间将近6GB,可存储更多的设置文件及屏幕截图
TH2848标配了目前测试仪器通讯所有常见接口,和电脑、PLC通讯再无障碍。
同时支持外接USB存储扩展,外置USB存储支持设置文件、屏幕截图、数据记录文件。
数据记录文件默认存储在外置存储。
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
L.标配附件
M.可选测试附件
TH26047A四端对测试夹具 TH26005D四端对测试夹具
·工作频率:DC-120 MHz
·最大直流偏置: ±42 V
·应用:用于导线类器件的阻抗
测试,带屏蔽接地端
·工作频率:DC-120 MHz
·最大直流偏置: ±42 V
TH26007A磁环测试夹具 TH26108C四端对贴片测试夹具
TH26063四端对测试夹具
TH26008ASMD 元件测试夹具 TH26009B SMD元件测试钳 TH26062A四端对测试夹具
TH26048B四端对测试夹具 TH26077电介质测试夹具
·工作频率:DC-40 MHz
·最大偏置:±42 V
·应用:SMD器件,尤其高频小电
容≤3pF或小电感≤1µH,测试频率
≥100kHz,且对D和Q要求高的器件
·工作频率: DC-120MHz
·最大直流偏置: ±42V
·应用:小型磁环单匝电感量测
试,尺寸大小可定制
·工作频率: DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:测试螺栓电容器,
DC_LINK电容
·工作频率: DC-120MHz
·最大直流偏置: ±42V
·应用:SMD 器件,尤其高频小
电容≤3pF或小电感≤1µH。测
试频率≥100kHz
·工作频率:DC-15 MHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:用于各种 SMD 器件测试
·工作频率: DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:测试电动汽车用薄膜大容
量DC_LINK电容
·工作频率:DC-30 MHz
·DUT尺寸:10mm – 56mm
·DUT厚度:≤10mm
·应用:固体材料的介电分析
·工作频率:DC-13 MHz
·最大直流偏置:±42 V
·应用:用于各种直插式轴向和径
向阻抗器件
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
技术参数
产品型号 TH2848-02L TH2848-02 TH2848-05 TH2848-10
显示
显示器 10.1英寸(对角线)电容触摸屏
比例 16:9
分辨率 1280×RGB×800
测量参数
方式 四参数任意选择
AC Cp、Cs、Lp、Ls、Rp、Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC、
DC RDC
压电 Ct、Dt、Fs、Fp、Fp-Fs、Zmin、Zmax、F1、F2、F2-F1、Gmax、C0、C1、R1、L、
Kp、Keff、Kt、K31、K33、Qm、ε、εr
介电 Cp、D、ε、|ε|、εr'、εr''、tanδ、Q
测试频率
范围 4Hz-2MHz 4Hz-2MHz 4Hz-5MHz 4Hz-10MHz
精度 0.01%
分辨率
0.1mHz 4.0000Hz-99.9999Hz
1mHz 100.000Hz-999.999Hz
10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz
1Hz 100.000kHz-999.999kHz
10Hz 1.00000MHz-9.99999MHz
A C测试信
号模式
额定值
(ALC OFF)
设定电压为测试端开路时Hcur电压
设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流
恒定值
(ALC ON)
保持DUT上电压与设定值相同
保持DUT上电流与设定值相同
测试电平
电压范围 0Vrms - 2Vrms
0mVrms-20Vrms F≤1MHz
0mVrms-15Vrms 1MHz<F≤2MHz
0mVrms-2Vrms 2MHz<F≤5MHz
0mVrms-1Vrms 5MHz<F≤10MHz
准确度 ±(10%×设定值+2mV)(AC≤2Vrms)
±(10%×设定值+5mV)(AC>2Vrms)
分辨率
0.1mVrms 0mVrms-0.2Vrms
0.2mVrms 0.2Vrms-0.5Vrms
0.5mVrms 0.5Vrms-1Vrms
1mVrms 1Vrms-10Vrms
10mVrms 10Vrms-20Vrms
电流范围 0mArms-20mArms 0mArms-100mArms
分辨率
(100Ω内阻)
1μArms 0Arms-2mArms
2μArms 2mArms-5mArms
5μArms 5mArms-10mArms
10μArms 10mArms-100mArms
RDC测试
电压范围 100mV-1V
分辨率 100μV
电流范围 0mA-10mA
分辨率 10μA
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
DC偏置
电压范围 0V-±10V 0V-±40V
准确度 1%×设定电压+5mV AC≤2V
2%×设定电压+8mV AC>2V
分辨率 0.1mV 0V - ±5V
1mV ±5V - ±40V
电流范围 0mA - ±100mA
分辨率 1μA 0mA-50mA
10μA 50mA-100mA
电压源
电压范围 -10V - 10V
分辨率 1mV
电流范围 -45mA - +45mA
输出阻抗 100Ω
测试端配置 四端对
测试电缆长度 0m、1m
输出阻抗 100Ω,±1%@1kHz
数学运算 与标称值的绝对偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ%
等效方式 串联、并联
校准功能 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD
测量平均 1-255次
量程选择 自动AUTO、手动HOLD
触发模式 连续、单次
触发延时 0-60s
特有功能 一键截屏、一键记录,嵌入式帮助系统
量程配置
LCR 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、
20kΩ、50kΩ、100kΩ
RDC
10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、
100kΩ
测量时间(ms/次)
{频率≥100kHz}
快速:2.5ms
中速:90ms
慢速:220ms
最高准确度 0.05%(具体参考说明书)
测量显示范围 a 1×10-18; E 1×1018
Cs、Cp 0.00001pF - 9.99999F
Ls、Lp 0.00001μH - 99.9999kH
D 0.00001 - 9.99999
Q 0.00001 - 99999.9
R、Rs、Rp、X、Z、RDC 0.001mΩ - 99.9999MΩ
G、B、Y 0.00001μs - 99.9999S
VDC ±0V - ±999.9999V
IDC ±0A - ±999.9999A
θr -3.14159 - 3.14159
θd -179.999° - 179.999°
Δ% ±(0.000% - 999.9%)
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
多功能参数
列表扫描
点数 201点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选
参数 测试频率、AC电压、AC电流、DC BIAS电压、DC BIAS电流、带介电常数测试功能基于此
列表的各点参数设置实现
触发模式
顺序SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX只输出一次
步进STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器
结果只在最后的/EOM才输出
其他特点 1. 扫描参数与测试参数都有多种复制功能
2. 每个扫描点均可设置延时
比较器 每个扫描点最多可测量四个测试参数,每个参数均可设置上下限,所有测试参数都合格输
出PASS信号,否则输出FAIL信号,未设上下限则不判断
图形扫描
扫描点数 51、101、201、401、801点可选
结果显示 每个参数的极值以及光标所在点的扫描参数值与对应的测试参数值
压电测试 集成压电导纳圆测试解决方案
扫描轨迹 1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏
显示范围 实时自动、锁定
坐标标尺 对数、线性
扫描参数 频率、AC电压、AC电流、DCV BIAS/DCI BIAS
触发
方式
单
次 手动触发一次,从起点到终点一次扫描完成,下个触发信号启动新一次扫描
连
续 从起点到终点无限次循环扫描
结果保存 图形、文件
比较器
Bin分档 10Bin、PASS、FAIL
Bin偏差设置 偏差值、百分偏差值、关
Bin模式 容差、连续
Bin计数 0-99999
档判别 每档最多可设置四个参数极限范围,四个测试参数结果设档范围内显示对应档号,超出设
定最大档号范围则显示FAIL,未设置上下限的测试参数自动忽略档判别
PASS/FAIL
指示 满足Bin1-10,前面板PASS灯亮,否则FAIL灯量
数据缓存 201个测量结果可分批读取
存储调用 内部 仪器内置8GB存储空间,除去系统占用后用户可使用空间约6GB
外置USB 测试设定文件、截屏图形、记录文件
键盘锁定 可锁定前面板按键
接口
USB HOST 2个USB HOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个
USB
DEVICE
通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USB TMC-USB 488和USB2.0相符合,
阴接头用于连接外部控制器。
LAN 10/100M以太网,8引脚,两种速度自适应
HANDLER 用于Bin分档信号输出
GPIB 标配
RS232C 标准9针,交叉
RS485 标配
开机预热时间 60分钟
输入电压 100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz
供电电源功率 不小于130VA
尺寸(WxHxD)mm 430x177x265
重量 11kg
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* 参数如有修改 恕不另行通知 以最新资料为准
元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
A15-A16
TH2839 精密阻抗分析仪
2个型号可选(频率可达10MHz)
随机附件: TH26011BS 四端对测试夹具
TH26005C 四端对测试盒
TH26010 短路片
选配件: TH26007A 磁环测试夹具
TH26008A SMD元件测试夹具
TH26009B SMD元件测试钳
TH26047 四端对测试夹具
TH26048 四端对测试夹具
TH26062A 四端对测试夹具
TH26063 四端对测试夹具
TH26108C 四端对贴片测试夹具
TH26077 电介质测试夹具
等适用于电桥的夹具配件或定制
附件
体积(mm): 400(W)×132(H)×425(D)
净重:15kg
尺寸/重量
• 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和
网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
• 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特
性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
• 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
• 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
• 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
• 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的
介电常数、弹性常数等C-V特性
应用领域
• TH2839系列是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功
的新一代阻抗测试仪器,其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测
试速度、20Hz-10MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以
满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品
质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试
线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪
器向下扩展了十倍。
TH2839系列支持2V交流测试信号和40V直流偏置的高功率测
试条件、增强的多参数列表扫描/多参数图形分析能力将有利于用
户扩展元件全面评价的能力。
TH2839系列是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试
的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料
(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。
TH2839系列以其性能可以实现如IEC和MIL标准的各种测试。
简要介绍
• 高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
• 高稳定性和一致性:高达15个测试量程配置
• 高速度:最快达5.6ms的测试速度
• 高分辨:7英寸,800×480分辨率
• 201点多参数列表扫描功能
• 图形化扫描功能
• 数学运算功能
• 变容二极管自动极性功能
• 一键截屏功能
• 一键记录功能
• 10档分选功能,分选结果声光报警
• 超大的存储空间:
内置:40组设定文件
扩展:可通过USB存储器存储500组设定文件、图像文件、
数据记录文件
• 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4980A、
E4980AL、HP4284A
性能特点
RS232
HANDLER
GPIB
USB HOST
LAN
USB DEVICE
SCPI
TH2839系列阻抗分析仪包括以下几种类型:
简要参数 TH2839 TH2839A
测试频率 20Hz – 10MHz 20Hz – 5MHz
基本精度 0.05%
AC信号源 电压 5mVrms – 2Vrms
电流 50μArms – 20mArms
DC偏置 电压 0V – ± 40V
电流 0mA – ± 100mA
外部DC BIAS 控制最多6台TH1778系列偏流源,达120A。
独立电压源 -10V – 10V
A16
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
单测显示 列表扫描显示
液晶CV特性曲线 频响分析(换能器找谐振点)
阻抗扫描曲线
Cs Rs扫描曲线
A.高精度
宽带自动调零型自动平衡电桥与普通运放I/V型自动平衡电桥相比,它能在更宽的频率范围内保证更高的频率精度!下图以
同惠电桥为例,对比了自动平衡电桥与普通电桥在0-10MHz频率范围内的精度差别。目前同惠的宽带自动调零型自动平衡电桥有
TH2839系列、TH2838系列和TH2828系列。
D.功能与界面
B.高稳定性和高一致性 C.高速度
功能特点
A17
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
A17-A18
图F-1 电容串联等效模型Cs-Rs-Ls 图F-2 电容器的阻抗频率
F.DC-LINK动力电容测量
E.材料介电常数测试
TH2839系列配合专用材料测试夹具TH26077以及上位机软件可方便、精确的测量材料在不同频率下的介电常数。
由于于自然界中不存在纯净的电容,会包含寄生参数,我们一般认为实际电容是由本身电容 Cs、引线电阻 Rs(ESR),引线电
感 Ls (ESL)串联构成,等效电路如图F-1所示。
根据阻抗频率图大家可以看到,在频率远小于谐振频率时,Ls造成的影响忽略不计,可以等效为只有Cs和Rs串联。当频率接
近谐振点时,Ls的作用就不能忽略不计,对我们的测量结果影响很大,当频率远大于谐振频率时,Cs的作用降低,可以近似认为
是Rs和Ls的串联。
以前大容量电容一般应用在低频领域,所以客户对Ls漠不关心,只关注Cs、Rs,随着新能源汽车的发展,越来越多的大容量
电容应用在新能源里面,实际使用的频率越来越高,这时候引线电感Ls的大小直接能影响电容的质量评定,所以需要精确测量。
客户测试大电容的Cs、ESR、ESL常见方法一般有两种:
高低频测试法:先用低频去测试Cs、Rs,然后用高频测试Ls,Rs。这种测试方法要求高低两种测试频率必须远离谐振点,
才能降低Ls,Cs造成的误差影响。所以经常有客户用≥1MHz去测试大电容来得到Ls值,但是因为Cs的存在,同时1MHz这个频率
离谐振点并不足够远,所以这种方法测试得到的Cs,Ls这两个值都只能算是近似值,精度有限。
谐振法:根据阻抗频率图大家可以看到大电容的谐振点阻抗最低,所以用扫频仪产生信号源,同时测试电容的阻抗,寻找
谐振点,然后通过计算就能算出Cs和Ls。
若上述两种方法仍无法满足客户测试需求,建议采用同惠TH2638A双频测试方案来测试大电容,其测试准确度与速度远远高
于上述两种方法。
引线电阻R 引线电感Ls
Cs Rs Ls
A18
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
文件保存:
硬件连接方式:RS232C、USB、GPIB、LAN
数据图像保存格式:TXT、XLS、MDB、CSV、BMP、JPG、PNG
其它功能:自动记录、设置文件保存、用户管理等
保存格式 单次自动保存 列表自动保存结果
单次 列表 扫描
G.上位机软件
1).通用上位机软件
测试方式:
A19
2).压电陶瓷上位机软件
分析设置:
分析结果:
主要参数图 主副参数(导纳圆)
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
A20
A19-A20
3).阻抗分析软件(等效电路分析软件)
通过3-4个元器件将电路的阻抗和频率特征建模分析即为等效电路分析。
现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的3-4个器件组成的电路模型。TH2839阻抗分析仪上位机提供了7种基本的电路
模型用于等效这些器件。本软件还提供了自动匹配功能,即如果被测件为黑盒时,本软件自动匹配与之最符合的模型并进行参数
的计算。您可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲线进行对比,还可以通过您输入的参数按照您选
的模型进行拟合。此功能等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用。
图一:计算中 图二:拟合完成 图三:等效电路模型 图四:保存文档
A14
H.选配附件
TH26007A磁环测试夹具 TH26108C四端对贴片测试夹具
TH26063四端对测试夹具
TH26008ASMD 元件测试夹具 TH26009B SMD元件测试钳 TH26047四端对测试夹具
TH26048四端对测试夹具 TH26062A四端对测试夹具 TH26077电介质测试夹具
·工作频率:DC-40 MHz
·最大偏置:±42 V
·应用:SMD器件,尤其高频小电
容≤3pF或小电感≤1µH,测试频率
≥100kHz,且对D和Q要求高的器件
·工作频率: DC-120MHz
·最大直流偏置: ±42V
·应用:小型磁环单匝电感量测
试,尺寸大小可定制
·工作频率: DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:测试螺栓电容器,
DC_LINK电容
·工作频率:DC-120 MHz
·最大直流偏置: ±42 V
·应用:用于导线类器件的阻抗
测试,带屏蔽接地端
·工作频率: DC-120MHz
·最大直流偏置: ±42V
·应用:SMD 器件,尤其高频小
电容≤3pF或小电感≤1µH。测
试 频率≥100kHz
·工作频率:DC-15 MHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:用于各种 SMD 器件测试
·工作频率: DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
·应用:测试电动汽车用薄膜大容
量DC_LINK电容
·工作频率:DC-120 MHz
·DUT尺寸:10mm – 56mm
·DUT厚度:≤10mm
·应用:固体材料的介电分析
·工作频率:DC-13 MHz
·最大直流偏置:±42 V
·应用:用于各种直插式轴向和径
向阻抗器件
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
技术参数
产品型号 TH2839 TH2839A
测试信号源
信号源输出阻抗 100Ω, ±1% @1kHz
测试频率
范围 20Hz-10MHz 20Hz-5MHz
分辨率
20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz
100.000Hz - 999.999Hz 10mHz
1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz
10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz
100.000kHz - 999.999kHz 10Hz
1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz
AC测试信号模式
额定值(ALC OFF):设定电压为测试端开路时Hcur电压
设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流
恒定值(ALC ON):保持DUT上电压与设定值相同
保持DUT上电流与设定值相同
AC信号
电压范围 F≤ 1MHz 5mVrms- 2Vrms
F >1MHz 5mVrms - 1Vrms
分辨率
5mVrms - 0.2Vrms 100μVrms
0.2Vrms - 0.5Vrms 200μVrms
0.5Vrms - 1Vrms 500μVrms
1Vrms - 2Vrms 1mVrms
电流范围 50μArms - 20mArms
分辨率
50μArms - 2mArms 1 μArms
2mArms - 5mArms 2 μArms
5mArms - 10mArms 5 μArms
10mArms - 20mArms 10μArms
Rdc测试
电压范围 100mV - 2V
分辨率 100μV
电流范围 0mA - 20mA
分辨率 1μA
DC偏置
电压范围 0V - ± 40V
分辨率
0V - 5V 100μV
5V - 10V 1mV
10V - 20V 2mV
20V - 40V 5mV
电流范围 0mA - ± 100mA
分辨率
0 A - 50mA 1μA
50mA - 100mA 10μA
电压源
电压范围 -10V - 10V
分辨率 1mV
电流范围 -45mA - +45mA
输出阻抗 100Ω
显示器
尺寸/类型 7英寸 (对角线)TFT LCD显示器
比例 16:9
分辨率 800×RGB×480
A21
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
A21-A22
测量功能
测试参数
Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp
Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs
Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc
Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc
R-X, Z-θd, Z-θr
G-B, Y-θd, Y-θr
Vdc-Idc
数学功能 A(X+B)+C, X为测试参数,A、B、C为输入参数
等效电路 串联、并联
偏差测量 与标称值的绝对偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ%
校准功能 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD
量程选择 自动AUTO、手动HOLD
量程
LCR 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、
50kΩ、100kΩ,共15档
Rdc 1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ,
共15档
触发模式 INT、MAN、EXT、BUS
触发延迟 0 s - 999 s,分辨率100μs
测试端配置 四端对
测试电缆长度 0m, 1m, 2m
测量平均 1-255次
测量时间
(ms)
速度模式 20Hz 100Hz 1kHz 10kHz 100kHz 1MHz 10MHz
FAST 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6
MED 380 180 110 92 89 88 88
LONG 480 300 240 230 220 220 220
测量显示范围 a 1×10-18; E 1×1018
Cs, Cp ±1.00000 aF - 999.999 EF
Ls,Lp ±1.00000 aH - 999.999 EH
D ±0.00001 - 9.99999
Q ±0.01 - 9999.99
R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ±1.00000 aΩ - 999.999 EΩ
G,B,Y ±1. 00000 aS - 999.999 ES
Vdc ±1.00000 aV - 999.999 EV
Idc ±1.00000 aA - 999.999 EA
θ r ±1.00000 rad - 3.14159 rad
θ d ±0.0001 deg - 180.000 deg
Δ% ±0.0001% - 999.999%
基本测量准确度 0.05%(详见说明书)
列表扫描
扫描点数 最多201点
多参数扫描
每个扫描点均可任意设置功能(主、副参数)、频率、AC电平、DC偏置(电压或电流)、速度等
常规测试参数;
每个扫描点均支持开路、短路、负载校准;
扫描结果列表可任意选择所需显示参数。
触发模式
顺序SEQ 当一次触发后,在所有扫描点测量。/EOM/INDEX只输出一次。
步进STEP 每次触发执行一个扫描点测量。每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只在最后的/EOM才输
出。
列表扫描比较器 可为每个扫描点设置一对下限和上限。
主副参数均有上下限合并分选,不设置不分选。
列表扫描时间标记 在顺序模式中,将触发点设定为0时,通过定义时间就可在每个测量点记录测量开始的时间。
A22
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400-624-1118
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元器件参数测试仪
-阻抗分析仪
图形扫描分析
扫描点数 51、101、201、401、801点可选
扫描轨迹 主/副参数可选择
显示范围 自动、锁定
坐标标尺 对数、线性
扫描参数 频率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流电压源
扫描结果显示 主/副参数最大值/最小值、设定点主/副参数值
扫描图形存储 扫描图形可存储于仪器内部FLASH、外部USB存储器或上传上位机。
比较器
Bin分档 主参数 9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT
副参数 HIGH、IN、LOW
Bin极限设置 绝对值、偏差值、百分偏差值
Bin计数 0 - 999999
PASS/FAIL指示 满足主参数为9 BIN之一、副参数为IN,前面板PASS灯ON,否则FAIL ON
测量辅助功能
数据缓冲存储功能 201个测量结果可分批读取
保存/调用功能 40组仪器内置非易失存储器测试设定文件
500组仪器USB存储器测试设定文件/截屏图形/记录文件
键盘锁定功能 可锁定前面板按键
接口
USB HOST端口 通用串行总线插座,A类;FAT16/FAT32格式。U盘存储或条形码扫描
USB DEVICE端口 通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USBTMC-USB488和USB 2.0相符合,阴接头用
于连接外部控制器。
LAN 10/100BaseT以太网,8引脚,两种速度选择
HANDLER接口 用于Bin分档信号输出
外部DC BIAS控制 控制TH1778/TH1778S偏置电流源,最多一台TH1778+5台TH1778S (120A MAX)
RS232C 标准9针,交叉
GPIB (选件) 24针D-Sub端口(D-24 类),阴接头与IEEE488.1、2和SCPI兼容。
SCANNER(选件) 与TH2819X、TH2829X SCANNER接口兼容
基本准确度因子曲线:
注:测试信号电平: 0.3Vrms – 1Vrms
上部数值(无括号的数值)适用于中速和慢速,
下部数值(括号中的数值)适用于快速。
A23




