常州同惠电子股份有限公司创建于1994年,是一家集研发、制造、销售于一体的国家级高新技术企业。公司于2021年9月整体迁入占地面积45亩,建筑面积30000平米的花园式现代化新厂房。公司现有员工300余人, 7 5 % 以上具有大专及以上学历,研发人员占员工总数的25%以上。
公司紧跟时代发展的脉搏,制定并践行“智能测试、高效测试、精准测试、工业互联”的发展战略,倡导“专业、专注、专心”的匠心精神,始终致力于电子测量测试仪器的技术进步,尤其在精密阻抗测量领域具有三十年测试理论、测试技术和实践经验的积累。公司顺应国家对科学测量仪器高质量发展的高度关注和大力支持,并基于对半导体和新能源行业发展的重要性及良好市场前景的深刻理解,加大投入全力研发半导体和新能源行业产业链所需测试测量仪器,不断打破国外垄断和卡脖子风险,完美实现进口替代,并致力于成为国际一流水平的电子测量测试综合解决方案供应商。
同惠始终把研发投入视为公司发展的基石,多年以来研发投入占公司营收的比例一直保持在 12 % 以上。经过持续高比例的研发投入,公司具备了较强的自主研发能力和技术优势,目前在硬件测试、嵌入式软件与算法、总线、系统集成、工业互联等方面积累了多项核心技术成果,突破了高端电子元器件批量测试效率低、精度差、综合测试能力弱等一系列技术难题和瓶颈。先后成功研制出国内首创甚至国际领先的优秀产品:如六位半台式数字多用表、10MHz精密阻抗分析仪、并行多通道安规测试仪、宽频高速高精度电子变压器综合测试系统、120A大电流电感偏流特性测试系统等都是拥有核心自主知识产权并填补国内空白的重要产品。130MHz超高测试频率的TH2851系列精密阻抗分析仪,基于自动平衡原理在阻抗分析仪领域国际领先。公司最新推出的TH199X系列源表/测量单元、TH510系列功率半导体C-V特性测试仪、TH2690系列飞安表均是填补国内空白,完美实现进口替代的高端产品。公司目前拥有授权专利65件(其中发明38件),在审发明专利43件,软件著作权58件。
经过三十年的技术沉淀与积累,公司产品线不断丰富,产品技术性能不断突破,市场占有率不断提升,已成为中国电子元器件测量仪器领军企业。公司目前主要产品系列为元件参数测试仪器、半导体器件测试仪器、绕线元件测试仪器、线束线缆测试仪器、电气安规测试仪器、微弱信号测试仪器、电力电子测试仪器、台式数字多用表、电源/电池综合性能测试系统等大类400余个型号的测试仪器产品。广泛应用于半导体、新能源、3C消费电子、5G 通讯、电力电子、家用电器等领域的科研与生产测试中。公司始终坚持以创新的解决方案帮助客户解决测量难题、提高测试效率与产品品质,努力为客户创造更大价值。
公司在良好的发展过程中不断取得新的资质和荣誉:“国家高新技术企业”、“国家级专精特新小巨人企业”、“江苏省企业技术中心”、“江苏省工业设计中心”、“江苏省磁性元器件智能电子测量仪器工程技术研究中心”、“江苏省军民融合创新平台”等。公司承担过科技部中小企业创新基金项目2项、江苏省科技成果转化和省工信厅产业转型升级专项资金项目各1项、江苏省重点研发项目2项及其它多项江苏省/常州市科技计划项目。曾获得多项部/省/市级科技奖励,包括江苏省创新创业大赛一等奖、机械工业联合会科学技术二等奖、中国仪器仪表学会科技进步二等奖、江苏省科学技术三等奖3项、常州市科技进步二等奖2项、常州市创新创业大赛一/二/三等奖多项。
“实现顾客满意”是同惠始终坚持的营销准则。公司已建成多层次的市场营销模式,在全国20多个省市建立了营销和服务网络,为客户提供优质的产品和服务,贴近客户、倾听客户,构建与客户合作、沟通和交流的快捷通道,为客户创造价值。海外市场已成为公司发展的重要组成部分,已在北美、欧洲、东南亚、南亚等地建立了营销网络并取得了较好的成果,使来自中国的高科技产品同样能满足世界客户的需要。
公司于2021年1月在新三板精选层挂牌上市,同年11月成为北交所首批上市企业。展望未来,同惠将继续以务实稳健的姿态,肩负起更多社会责任,以国际化的视野和胸怀,奉献创新成果,共享发展价值。同惠一携手同心,惠及
手册目录
Manual Catalog
| 型号 | 产品名称 | 主要参数 | 页码 | |
| 元器件参数测试仪器前言 | P1-4 | |||
| 新品推荐 | ||||
| TH2851/TH2848/TH2840/TH2836/TH2816P/TH510系列 | P5-6 | |||
| 半导体器件C-V特性分析仪 测量频率:1kHz-2MHz, | ||||
| TH510系列 NEW | 半导体器件C-V特性分析仪 | 测量参数:Ciss、Coss、Crss、Rg、 VDs:±200V/±1500V/±3000V | P7-15 | |
| 阻抗分析仪 | 基本精度:0.08% | |||
| TH2851系列NEW TH2848系列 NEW | 精密阻抗分析仪 | 测量频率:10Hz-130MHz | P16-26 | |
| TH2839系列 | 精密阻抗分析仪 | 测量频率:4Hz-10MHz | 基本精度:0.05% | |
| 阻抗分析仪 | 测量频率:20Hz-10MHz | 基本精度:0.05% | P27-34 | |
| LCR数字电桥 | ||||
| TH2840系列 NEW TH2838系列 | LCR数字电桥 | 测量频率:20Hz-2MHz | 基本精度:0.05% 基本精度:0.05% | P35-42 |
| TH2836系列 NEW | 精密LCR数字电桥 | 测量频率:20Hz-2MHz 测量频率:4Hz-8.5MHz | 基本精度:0.05% | P43-49 |
| TH2829系列 | 高频LCR数字电桥 | 测量频率:20Hz-1MHz | 基本精度:0.05% | P50-54 |
| TH2827系列 | 自动元件分析仪 | 基本精度:0.05% | P55-60 P61-63 | |
| TH283X系列 | 精密LCR数字电桥 | 测量频率:20Hz-1MHz | 基本精度:0.05% | |
| TH2816A+ | 紧凌型LCR数字电桥 | 测量频率:50Hz-200kHz | 基本精度:0.05% | P64-67 |
| TH2816B+ NEW TH2816P型 | 精密LCR数字电桥 | 测量频率:50Hz-200kHz | 基本精度:0.05% 基本精度:0.02% | P68-71 |
| TH2817B+型 TH2810B+型 | LCR数字电桥 | 测量频率:50Hz-100kHz | 基本精度:0.1% | P72-75 |
| TH2817C+型 | LCR数字电桥 | 测量频率:100Hz-10kHz | 基本精度:0.1% 基本精度:0.1% | P72-75 |
| TH2810D/11D/ | LCR数字电桥 | 测量频率:50Hz-100kHz | P76-79 | |
| TL2812D型 | LCR 数字电桥 | 测量频率:100Hz-10kHz | 基本精度:0.25% | P80-81 |
| TH2822系列 | 手持式LCR数字电桥 | 测量频率:100Hz-100kHz | 基本精度:0.1% | P82-83 |
| TH2638系列 | 高速精密电容测量仪 | 测量频率:100Hz-1MHz | 基本精度:0.07% | P84-90 |
| 自动变压器测试系统 | ||||
| TH2840X系列 | 自动变压器测试系统 | 测量频率:20Hz-2MHz | 脚位:24-288Pin | P91-97 |
| TH2829X系列 | 自动变压器测试系统 | 测量频率:20Hz-1MHz | 脚位:20-192Pin | P98-102 |
| 电感偏流特性测试系统 | ||||
| TH902A/TH903A型 | 电感偏流特性综合测试系统 | 输出电流:0-60A-120A | 频率响应:0-2MHz | P103-105 |
| TH1779 NEW | 直流偏置电流源 | |||
| TH1778A/ TH1778AS系列 | 直流偏置电流源 | 测量频率:0Hz-2MHz | P106-108 | |
| 同惠电子测量仪器产品线 | P109 | |||
1.频率优先原则
LCR并非万能阻抗类测试仪器,无法测试所有阻抗范围内器件,其测试范围如下图
低电阻范围一用低电阻测试仪测试
无源器件阻抗与频率对应关系如下:
理想电感: 公式: \vert z \vert = \vert x \vert = 2 π \uparrow \downarrow = { { \omega \downarrow } } 理想电容: 公式:|Z|=|Xc|=1/2fC=1/wC所需频率:
频率选择原则:
优先推荐高频LCR电桥,频率越高意味着测试范围越宽。
考虑客户预算的前提下,对于频率的选择,一般遵循以下规律:电容C、电感L越小,则应该选择高的频率
电容C、电感L越大,则应该选择低的频率
2.行业规则
1)电解电容,钮电容普通测试只需要100Hz或者120Hz,有些可能需要100kHz测试串联等效电阻(ESR)
2)测量CBB 等薄膜电容器的测试频率需达到100kHz,有些需要双频测试,可用TH2817B+、TH2817C+
3)高频陶瓷电容测试需要恒定的电平,推荐TH2638系列电容测试仪
4)测试电感,特别是磁性电感,最好选择带直流偏置电流源的电桥,为了与其他品牌测试数值兼容,建议选择信号源内阻可以选择的
5)测量法拉级超大电容器可选择TH2638/A
3.特殊功能和需求
1)需要同时测试电感的电感量和直流电阻:TH2830系列、TH2838系列、TH2839系列、TH2836系列、TH2840系列、
TH2851系列
2)分析换能器压电陶瓷:TH2851、TH2840、TH2839、TH2838、TH2836、TH2829、TH2827等系列
3)单组变压器测试功能:TH2827、TH2817C+
4)一个器件多个参数同时测试:TH2851系列、TH2840系列、TH2829系列
4.使用场合
1)元器件生产厂家,系统集成商,选用带分选和HANDLER接口的LCR
2)元器件使用厂家,建议选择频率范围宽的LCR
3)企业研发部门,学校实验室,建议选择带图形化分析功能的自动元件分析仪
4)维修,现场检测可以选购手持式的TH2821系列,TH2822系列
LCR数字电桥/阻抗分析仪基础知识
串联等效(s)和并联等效(p)
真实世界的不存在纯净电子元器件,一般会包含寄生参数,以电容器为例,电容及寄生参数实际电路图如下:
引线电阻引线电感 本征电容 串联模式Seriesmode 并联模式Parallelmode|>>>|58 HH 。 Cs Rs 北W 简化为 低阻抗件, -0 0 R 。大电容C,小电感L W绝缘电阻 高阻抗器件, z > 10kΩW 小电容C,大电感L
如何选择串并联等效?
LCR/阻抗分析仪测试精度比较
| 器件类型 | 范围 | 建议频率 | 等效模式 | 大小 |
| 电容 | C≤10pF | ≥100kHz | 并联 | 小电容 |
10pF| 10kHz-100kHz | 并联 | | ||
1nF| 1kHz-10kHz | 并联 | 中电容 | | |
1nF| 100Hz-1kHz | 并联 | | ||
1uF| 100Hz | 并联/串联 | 大电容 | | |
| C>100μF | 100Hz | 串联/并联 | ||
| 电感 | L | ≥100kHz | 串联 | 小电感 |
| 10μ≤L | 10kHz-100kHz | 串联 | 中电感 | |
| 1mH≤L | 100Hz-1kHz | 串联 | 大电感 | |
| L>1H | 100Hz | 串联/并联 | ||
| 电阻 | R | 0Hz (DCR) | 小电阻 | |
| 100mΩ≤R≤10kΩ | 1kHz | 串联/并联 | ||
10kΩ| 100Hz | 并联 | 中电阻 高阻 | | |
| R>1MΩ | 0Hz (IR) | ----- |
新品推荐
TH510系列半导体C-V特性分析仪
一体化设计:\mathsf { L C R + V _ { S S } } 低压源 + V _ { \mathsf { D S } } 高压源 \vdots 通道切换 ^ { + } 上位机软件单管器件(点测)、模组器件 (列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式四寄生参数(Ciss Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示:标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件:CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描·栅极电压 \mathsf { v } _ { \mathsf { G S } } . 0 - ± 4 0 \vee 漏极电压 \mathsf { V } _ { \mathsf { D S } } . 0 { - } ± 2 0 0 \vee / ± 1 5 0 0 \vee / ± 3 0 0 0 \vee
详见第XX页
TH2851系列精密阻抗分析仪
·测试频率:10Hz-130MHz
·基本阻抗精度: 0 . 0 8 % ,典型值 <= ± 0 . 0 4 5 %
·高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
·高稳定性和一致性
·高速度:最快达2.5ms的测试速度
·高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率 1 2 8 0 ^ { \star } 8 0 0
·点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种测试方式
详见第X×页
TH2848系列LCR数字电桥
·测试频率:4Hz-10MHz
·高分辨率:10.1英寸,分辨率 1 2 8 0 ^ { \star } 8 0 0 ,电容式触摸屏
·高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
·高稳定性和一致性:15个量程配置
·高功率:信号电平:20VAC/100mAAC内置直流偏置:±40VDC/100mADC
·操作便捷:Linux操作底层、触摸操作、嵌入式帮助
·点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
·压电导纳圆测试、介电常数测试
新品推荐
TH2840系列LCR数字电桥
·测试频率:20Hz-2MHz
·高速度:双CPU架构,最快达1800次/s的测试速度
·高分辨:10.1英寸,分辨率 1 2 8 0 ^ { \star } 8 0 0 ,电容式触摸屏
·高稳定性和一致性:14个量程配置
·高功率:信号电平:20V/100mA内置直流偏置:±40V/100mA内置偏流源:2A
·DCR电平:20V/100mA
·点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
TH2836系列精密阻抗分析仪
·测试频率:4Hz-8.5MHz
·高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
·高速度:最快达5.6ms的测试速度
·高分辨:7英寸, 8 0 0 x 4 8 0 分辨率
·10点多参数列表扫描功能
·数学运算功能
·变容二极管自动极性功能
详见第XX页
TH2816P系列精密LCR数字电桥
·测试频率:50Hz-200kHz
·0.02%精度(TH2816P),7位读数(204号 0 . 0 5 % 精度(TH2816A+/TH2816B+)6位读数
·10mVrms-2.0Vrms可编程测试电平
·兼容原有偏流源控制
·高稳定性、高准确性
·最快速度约60次/秒
TH510系列
半导体器件C-V特性分析仪4个型号可选(±200V/±1500V/±3000V)
简要介绍
TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势,针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。
仪器采用了一体化集成设计,二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试,无需频繁切换接线及设置参数,单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试,适用于生产线快速测试、自动化集成。
CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析(此功能为选件)。
仪器设计频率为1kHz-500kHz/2MHz, \mathsf { V } _ { \mathsf { G S } } 电压可达 ± 4 0 \vee \mathsf { v } _ { \mathsf { D } \mathsf { S } } 电压可达 ± 2 0 0 \vee 1 ± 1500V/±3000V,足以满足大多数功率器件测试。
·半导体功率器件二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析
·半导体材料晶圆切割、C-V特性分析
·液晶材料弹性常数分析
·电容元件电容器C-V特性测试及分析,电容式传感器测试分析
应用领域
一体化设计:LCR+栅极电压 { \mathsf { V } } _ { \mathsf { G S } } + 漏极电压 { \mathsf { V } } _ { \mathsf { D S } } { } ^ { + } 通道切换 ^ { + } 上位机软件栅极电压 \mathsf { V } _ { \mathsf { G S } } . 0 - ± 4 0 \vee 漏极电压 \mathsf { V } _ { \mathsf { D S } } . 0 { - } ± 2 0 0 \vee / ± 1 5 0 0 \vee / ± 3 0 0 0 \vee :单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH511E/TH513仅1通道)CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描·电容快速充电技术,实现快速测试·接触检查Cont·通断测试OP_SH自动延时设置CrssPlus功能:解决高频下Crss负值问题高压击穿保护:解决栅极电压过高反冲仪器问题·Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513)Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析:等效模式转换功能,可选Cs或Cp模式·10档分选
性能特点
| 简要参数 | TH511E | TH511 | TH512 | TH513 |
| 通道 | 1 | 2(可扩展至6) | 2(可扩展至6) | 1 |
| 测试频率 | 1kHz-500kHz | 1kHz-2MHz | ||
| 测试参数 | Ciss、Coss、Crss、Rg | |||
| LCR功能 | √ | |||
| VGs范围 | 0-±40V | |||
| VDs范围 | 0-±200V | 0-±1500V0-±3000V | ||
尺寸/重量
体积(mm):430(W)x177(H)x405(D)净重:约16kg
附件
随机附件:电源线一根TH26063B测试夹具(仅TH511和TH512)TH26063C测试夹具 (仅TH511和TH512)TH26063D连接电缆TH26063G测试延长线TH26063J 测试夹具 (仅TH513)
选配件:200V通道板1500V通道板图形扫描软件
功能特点
一台仪器内置了LCR数字电桥、 \mathsf { V } _ { \mathsf { G S } } 电压源、 \mathsf { V } _ { \mathsf { D S } } 电压源、高低压切换矩阵以及上位机软件,将复杂的接线、繁琐的操作集成在支持电容式触摸的Linux系统内,操作更简单。特别适合产线快速化、自动化测试。
B.单管器件测试,10.1时大屏,四种寄生参数同屏显示,让细节一览无遗
MOSFET或IGBT最重要的四个寄生参数:Ciss、Coss、Crss、Rg,Cies、Coes、Cres、Rg均可一键测试,10.1时大屏可同时将测量结果、等效电路图、分选结果等重要参数同时显示,一目了然。
一键测试单管器件器件时,无需频繁切换测试脚位、测量参数、测量结果,大大提高了测试效率。
Dynamic CV测量显示 众
Input Capacitance CssGs-OV, 1300 平 1.0000Hz Vd 2.00V ceyo CV显示 CH1
Onput CarasiteaCapactace CIFE1SV, 86 Ciss 1.36221 nF s 测量显示
faneresgaacaci Co(er) VGs=0V VDs=0V to520V 45 pF / CH2 CH3 -Coss 平 96.5846F 0 提票示
tance,TimeRelatedb Co(tr) 62 H Ciss = Cgs +Cgd 保存
Ttl Sgre hchaege QVs=10V 250 率平 6.14454pF 1 关开 ==520V -nC CHA Crss O
Gate-Drain Charge Qgd 2.7 Coss = Cds + Cgd
Turn-on Delay Time td(on) 25 CHS 频率 1.00000MHz Vg 0.000V 电平 200.0mV Vd 0.000V
TumTimDelay Time VA 55 ns LCHELRg-DSO 2.06449 Ω O Rg-DSO
Fall Time t 40 in1Bin2Bin3Bin4Bin5Bin6Bin7Bin8Bin9Bin10 ContFailOpShFail BinFail
Gate input Resistance Rgf=1MHz,open drain -2 - 0 模块:P+N线:0m开路2022/12/0510.26:30 0 0
同时保存6个通道参数可快速调用切换。
C.列表测试,多个、多芯、模组器件测量参数同屏显示
TH510系列半导体C-V特性分析仪支持最多6个单管器件、6芯器件或6模组器件测试,所有测量参数通过列表扫描模式同时显示测试结果及判断结果。
D.曲线扫描功能(选件)
在MOSFET的参数中,CV特性曲线也是一个非常重要的指标,如右图
TH510系列同时支持多种曲线扫描模型。
TH510系列半导体C-V特性分析仪支持C-V特性曲线分析,可以以对数、线性两种方式实现曲线扫描,可同时显示多条曲线:同一参数、不同Vg的多条曲线;同一Vg、不同参数多条曲线。
E.Cs-V功能,二极管结电容CV特性测试分析
得益于TH510系列功率器件CV特性分析仪内置了2路直流电源,使二极管的CV特性分析成为可能,Cs-V功能可用于测试各种二极管的结电容,并可分析二极管的CV特性。
F.等效模式转换
TH510系列功率器件CV特性分析仪测试结果的电容C均为串联模式Cs,对于部分需求测试并联模式Cp需求的客户,可自行切换。
G.多种独特技术,解决自动化配套测试痛点
在配套自动化设备或者产线时,经常会遇到下列问题,同惠针对多种情况进行了优化。
1)独特技术解决Ciss、Coss、Crss、Rg产线/自动化系统高速测试精度
同惠电子在电容测试行业近30年的经验积累,得以在产线、自动化测试等高速高精度测试场合,都能保证电容、电阻等测试精度。
常规产线测试,提供标准0米测试夹具,直插器件可直接插入进行测试,Ciss、Coss、Crss、Rg测试精度高。
针对自动化测试,由于自动化设备测试工装通常需要较长连接线,大多自动化设备生产商在延长测试线时会带来很大的精度偏差,为此,同惠设计了独特的2米延长线并内置了2米校准,保证Ciss、Coss、Crss、Rg测试精度和0米测试夹具一致。
2)接触检查(Contact)功能,提前排除自动化测试隐患
在高速测试特别是自动化测试中,经常会由于快速插拔或闭合,造成测试治具或工装表面磨损、引线断裂而接触不良,接触不良的造成的最直接后果是误判测试结果而难以发现,在废品率突然增加或发出产品故障原因退回时才会发现,因此是一个极大的隐患。
同惠TH510系列半导体C-V特性分析仪采用了独特的硬件测试方法,采用了四端测量法,每个脚位均有两根线连接,若任意一根线断裂或者接触点接触不良,均可及时发现并提供接触不良点提示,仪器自动停止测试,等待进一步处理。
保障了结果的准确性,同时利于客户及时发现问题,避免了不良品率提高及故障品退回等带来的损失。
3)快速通断测试(OP_SH),排除损坏器件
在半导体器件特性测试时,由于半器件本身是损坏件,特别是多芯器件其中一个芯已经损坏的情况下,测试杂散电容仍有可能被判断为合格,而半导体器件的导通特性才是最重要的特性。
因此,对于本身导通特性不良的产品进行C-V特性测试是完全没有必要的,不仅仅浪费了测量时间,同时会由于C-V合格而混杂在良品里,导致成品出货后被退回带来损失。
TH510系列半导体C-V特性分析仪提供了快速通断测试(OP_SH)功能,可用于直接判断器件本身导通性能。
4)Crss+Plus功能,解决自动化测试系统高频下Crss负值问题
Crss电容通常在pF级,容量较小,测试是个难题。
而在自动化测试系统中,由于过多的转接开关、过长测测试引线等带来的寄生参数。
因此,测试Crss,特别是在高频测试时通常会出现负值,
同惠电子凭借在电容器测试行业30年的技术及经验积累,采用独特的算法的CrssPlus模式,可保证即使是在自动化测试系统中、高频下也能测的正确的结果。
5)漏源高压击穿保护技术,防止损坏测试仪器
在测试功率器件电容时,漏极D通常会加上高压,特别是第三代功率半导体器件,电压甚至可高达1000V-3000V,当漏源瞬间击穿时,常会导致电容器瞬间短路放电,在漏源电压1500V时,放电电流可高达780A,如此大的瞬间电流,会反冲至仪器内部电路,并导致损坏。
同惠高压击穿保护技术,解决了此隐患,避免经常由于高压冲击损坏仪器,降低了维修成本的同时提高了自动化测试的效率。
6)Interlock互锁功能,确保高压下操作环境安全(仅TH513)
在测试功率器件需施加高压,因此对于操作者及其他设备的安全隔离非常重要,特别是在自动化产线,通常会将高压设备放置在一个隔离的环境,并通过安全门开启关闭来保证操作者的安全。
TH510系列功率器件CV特性分析仪配置了Interlock接口,可与安全门开关连接,在安全门开启时切断高压输出并禁止仪器启动,只有关闭后才能正常工作。确保了操作者和设备的安全。
7)模组式器件设置,支持定制
针对模组式器件如双路(DuaI)MOSFET、多组式IGBT,有些器件会有不同类型芯片混合式封装,TH510系列CV特性分析仪针对此情况做了优化,常见模组式芯片Demo已内置,特殊芯片支持定制。
8)10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可能,分选结果直接输出至HANDLER接口。
在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口输出,一直是自动化客户的难题,TH510系列将HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式等完全可视化,让自动化连接更简单。
Handler AHandler 自定义 Handler脚位 信号 方向 功能 脚位 信号 方向 功能 默认1 BIN1 输出 1 14,15 ExtDCV2 输入 3.3V\~24V2 BIN2 输出 7 16,17,18 +5V 输出 Imax <0.3A 自定义3 BIN3 输出 1 19 Pass 输出 L4 BIN4 输出 气 20 Bin Fail 输出 15 BIN5 输出 1 21 Cont Fail 输出 1BIN6 输出 乙 25 Lock 输入 LBIN7 输出 乙 27,28 ExtDCV1 输入 3.3V \~ 24V8 BIN8 输出 气 29 Alarm 输出 气9 BIN9 输出 乙 30 Index 输出 气10 BIN10 输出 气 31 Eom 输出 气11 OP_SH Fail 输出 气 34,35,36 Com1 输入 GND112,13 ExtTrig 输入 32,33 Com2 输入 GND2
H.简单快捷设置
参数可以任意选择,可打开及关闭,关闭参数可有效节约时间和数据传输;延时时间可自动设置或自行设置;栅极电阻可选漏源短路或漏源开路。
采用图形化设置界面,功能参数对应原理图设置一目了然。
CV测量设置 n
a CH 触发 单次 快速 RgD5开路 CV设图
动米 Ciss Rg Cis-gs P 浏重设置
无量开关 开 开 开 开 梭增设置
8\* 1.000H2 1.00 1.0000A 1.0000MH
电甲 30.00mV 30.00mV 30.00mV 100.0mV 列表设置
Vg 0.00V 0.00V 0.000V 0.000V 曲线设置 00 o60 00 08 工A
保茶 关 关 关 关 0.0000F 0.000 0.000 0.00000 .0000 0.000 0.00000 00000 [专]2022013088
1.支持定制化,智能固件升级方式
同惠仪器对于客户而言是开放的,仪器所有接口、指令集均为开放设计,客户可自行编程集成或进行功能定制,定制功能若无硬件更改,可直接通过固件升级方式更新。
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。
固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,智能搜索仪器内存、外接优盘甚至是局域网内升级包,并自动进行升级。
文件管理 H
名称 大小 修改日期 文件管理
files PIC 2022/07/29 13:51:17 2022/07/2913:52:20 保CV1.cv 13KB2022/06/17 15:32:32CV2.cv 17KB2022/06/29 13:46:23 复制到1screen20220729.png 175KB2022/07/29 13:57:27update510.sec 3.0MB 2022/07/22 10:53:48 重命名0:00:00SV 2022/07/2913:59:0 删除SystemVolumeInformation 2022/03/30 08:58:0 新建文件夫TH2840-2022-05-14增加客户定制 2022/06/11 08:26:102250187-02FX-12B2.t40 469KB 2022/07/01 14:48:14screen20220729.png 175KB2022/07/29 13:58:06TH2829AX_48.5eC 1.9MB2048/01/0100:00:00update2840.sec 3.1MB 2022/06/11 08:26:10日内部:132MB(210MB) 外部:28GB(28GB) 内存:148MB(247MB)202207129 14:07.31
J.半导体元件寄生电容知识
在高频电路中,半导体器件的寄生电容往往会影响半导体的动态特性,所以在设计半导体元件时需要考虑下列因素:在高频电路设计中往往需要考虑二极管结电容带来的影响;MOS管的寄生电容会影响管子的动作时间、驱动能力和开关损耗等多方面特性;寄生电容的电压依赖性在电路设计中也是至关重要,以MOSFET为例。
400-624-1118
| 符号 | 名称 | 测试原理 | 影响 |
| Ciss | 输入电容 | 漏源短接,用交流信号测得的栅极和源极之间的容, Ciss=Cgs+Cgd | 影响延迟时间;Ciss越大,延迟时间越长 |
| Coss | 输出电容 | 栅源短接,用交流信号测得的漏极和源极之间的容, Coss=Cds+Cgd | Crss越大,漏极电流上升特性越差,这不利于MOS- FET的损耗。高速驱动需要低电容。 |
| Crss | 反向传输电容 | 源极接地,用交流型号测得的漏极和栅极之间的电 容,也称米勒电容反向传输电容等同于栅漏电容。 Crss=Cgd | 影响关断特性和轻载时的损耗。 如果Coss较大,关断dv/dt减小,这有利于噪声。 但轻载时的损耗增加。 |
| Rg | 栅极输入电阻 | Rg被定义漏源短接,偶尔也被定义为漏极开路 | |
K.标配附件
| 产品型号 | TH511E | TH511 | TH512 | TH513 | ||
| 通道数 | 1 | 2(可选配4/6通道) | 1 | |||
| 显示 | 显示器 | 10.1英寸(对角线)电容触摸屏 | ||||
| 比例 | 16:9 | |||||
| 分辨率 | 1280×RGB×800 | |||||
| 测量参数 | Ciss Coss、Crss、Rg,四参数任意选择 | |||||
| LCR模式 | √ | |||||
| 测试频率 | 范围 | 1kHz-500kHz 1kHz-2MHz | ||||
| 精度 | 0.01% | |||||
| 分辨率 | 10mHz | 1.00000kHz-9.99999kHz | ||||
| 100mHz | 10.0000kHz-99.9999kHz | |||||
| 1Hz 10Hz | 100.000kHz-999.999kHz | |||||
| 测试电平 | 1.00000MHz-2.00000MHz | |||||
| 电压范围 | 5mVrms-2Vrms | |||||
| 准确度 | ± (10%×设定值+2mV) 5mVrms-1Vrms | |||||
| 分辨率 | 1mVrms 10mVrms | |||||
| 1Vrms-2Vrms | ||||||
| VGs电压 | 范围 准确度 | 0 - ±40V | ||||
| 1%×设定电压+8mV | ||||||
| 分辨率 | 1mV 0V - ±10V | |||||
| 10mV ±10V-±40V 0 - ±3000V | ||||||
| VDs电压 | 范围 准确度 | 0- ±200V 0-±1500V | ||||
| 1%×设定电压+100mV | ||||||
| 输出阻抗 | 100Ω,±2%@1kHz | |||||
| 数学运算 | 与标称值的绝对偏差△,与标称值的百分比偏差△% | |||||
| 校准功能 测量平均 | 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD、夹具校准 1-255次 | |||||
| AD转换时间(ms/次) | 快速+:2.5ms(>5kHz) 快速:11ms | |||||
| 中速:90ms 慢速:220ms | ||||||
| 最高准确度 Ciss、Coss、Crss | 0.5% (具体参考说明书) 0.00001pF-9.99999F | |||||
| Rg | 0.001mΩ-99.9999MΩ | |||||
| △% | ||||||
| 多功能参数 列表扫描 | ± (0.000%-999.9%) | |||||
| 点数 参数 | 50点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选 | |||||
| 触发模式 | 测试频率、Vg、Vd、通道 顺序SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX只输出一次 | |||||
| 步进STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只 | ||||||
| 图形扫描 | 扫描点数 | 在最后的/EOM才输出 | ||||
| 任意点可选,最多1001点 | ||||||
| 结果显示 | 同一参数、不同Vg的多条曲线;同一Vg、不同参数多条曲线 | |||||
| 显示范围 | 实时自动、锁定 | |||||
| 坐标标尺 | 对数、线性 | |||||
| Vg、Vd | ||||||
| 扫描参数 | 手动触发一次,从起点到终点一次扫描完成,下个触发信号启动新一次扫描 | |||||
| 触发方式 结果保存 | 图形、文件 | |||||
| 比较器 | Bin分档 | 10Bin、PASS、FAIL |
| Bin偏差设置 | 偏差值、百分偏差值、关 | |
| Bin模式 | 容差 | |
| Bin计数 | 0-99999 | |
| 档判别 | 每档最多可设置四个参数极限范围,四个测试参数结果设档范围内显示对应档号,超出设定最大 档号范围则显示FAIL,未设置上下限的测试参数自动忽略档判别 | |
| PASS/FAIL指示 | 满足Bin1-10,前面板PASS灯亮,否则FAIL灯亮 | |
| 内部 | 约100M非易失存储器测试设定文件 | |
| 外置USB | 测试设定文件、截屏图形、记录文件 | |
| 存储调用 键盘锁定 | 可锁定前面板按键,其他功能待扩充 | |
| 接口 | USB HOST | 2个USB HOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个 |
| USBDEVICE | 通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USBTMC-USB488和USB2.0相符合,阴接头 | |
| LAN | 用于连接外部控制器。 10/100M以太网,8引脚,两种速度选择 | |
| HANDLER | 用于Bin分档信号输出 | |
| RS232C | 标准9针,交叉 | |
| RS485 | 标准差分线 | |
| GPIB | 24针D-Sub端口(D-24类),阴接头与IEEE488.1、2和SCPI兼容 | |
| 60分钟 | ||
| 开机预热时间 输入电压 | 100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz | |
| 供电电源功率 | 不小于130VA | |
| 尺寸(WxHxD)mm | 430x177x405 | |
| 重量 | 16kg | |
简要介绍
·TH2851系列阻抗分析仪是常州同惠电子采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,为国产阻抗测试仪器的最新高度。
TH2851系列阻抗分析仪彻底改变了传统国产仪器复杂繁琐的操作界面,基于Windows10操作系统,实现了全电脑化操作界面,让测试更智能、更简便。
TH2851系列阻抗分析仪也彻底超越了国外同类仪器120MHz的频率瓶颈;解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷;中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬;采用单测和分析两种界面,让测试更简单。
快达2.5ms的测试速度、及高达40MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。
应用领域
·无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
·半导体元件:LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDc特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
·其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
·介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
·磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
·半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
性能特点
·测试频率:10Hz-130MHz
·基本阻抗精度: 0 . 0 8 % ,典型值 S { \scriptstyle ± 0 . 0 4 5 % }
·高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
·高稳定性和一致性
·高速度:最快达2.5ms的测试速度
·高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率 1 2 8 0 ^ { \star } 8 0 0
·点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种测试方式
·1601点多参数列表扫描功能
·四参数测量
·自动电平控制(ALC)功能
·4通道图形扫描功能,每通道可显示4条曲线,通道和曲线有14种分屏显示方式
·分析功能:等效电路分析、晶体振荡器分析、压电分析、曲线轨迹对比、介电常数分析(选件)、磁导率分析(选件)
·强大的分选:LCR模式10档分选
·图形扫描模式每条曲线单独分选,频率分段扫描并分选
·高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHTE4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A
| 简要参数 | TH2851 - 015 | TH2851 - 030 | TH2851 - 050 | TH2851 - 080 | TH2851 - 130 | |
| 测试频率 | 10HMHz | 10HZHz | 10HMHz | 10HZHz | 10HMHz | |
| 基本精度 | 0.08% | |||||
| AC信 号源 | 电压 电流 | 5mVrms-2Vrms 200uA - 20mArms | ||||
| DC偏 置 | 电压 | 0V - ±40V | ||||
| 电流 | 0mA-±100mA | |||||
尺寸/重量
体积(mm):428 (W)×220(H)×325(D)净重:14.5kg
附件
| 时件 | ||
| 随机附件: TH26047A 四端对测试夹具 | ||
| TH26005D | 四端对测试夹具 | |
| TH26082A | 100Ω标准件 | |
| TH26010 | 镀金短路板 | |
| TH26061D_P1 | 校准套件 | |
| AR05TTS1000N | 贴片电阻 | |
| 选配件: | TH26007A | |
| 磁环测试夹具 | ||
| TH26008A | SMD元件测试夹具 | |
| TH26009B | SMD元件测试钳 | |
| TH26048B | ||
| 四端对测试夹具 | ||
| TH26062A | 四端对测试夹具 | |
| TH26063 | 四端对测试夹具 | |
| TH26108C | 四端对贴片测试夹具 | |
| TH26077 | 电介质测试夹具 | |
| TH26086 | TH2851-7mm夹具 | |
| TH26088 | TH2851磁导率测试夹具 | |
| TH26086_CAL | TH2851-7mm夹具校准套件 | |
功能特点
A.高精度
宽带自动调零型自动平衡电桥技术的应用,得以在10Hz-130MHz频率、25mΩ-40MΩ的阻抗范围内都能达到理想的 1 0 % 测量精度,其中最高精度达 0 . 0 8 % ,远远高于射频反射测量法的阻抗分析仪、网络分析仪的精度。
B.高稳定性和高一致性
下图是在速度5、测试频率1MHz,测量100Ω电阻的曲线,由下图可见其轨迹噪声 <= 0 . 0 0 3 % ( <= ± 0 . 0 0 1 5 \Omega { . } 中
C.高速度
开路短路负载偏置关保持2021-3-1112:19:49
D.10.1时大屏,四种测量参数,让细节一览无遗
10.1时触摸屏、1280\*800分辨率,Windows10系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口,带来的是无以伦比的操作便捷性。
大屏幕带来更多的好处是,可以把所有测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝不拥挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数
TH2851PrecisionImpedance Analyzer
1 量频率 100 MHz 交流量程 Auto(50 Ω) 交流电流监控 15.89 mA 测量设置测量速度 3 直流偏置 0 mV 测量频率
2 测量电平 500 mV 平均次数 1 交流电压监控 102.8 mV 100 MHz测量速度参数!美
3 |Z| 6.47269 Ω 0号 0.00000 直流偏置参数2 测量电平 >运鲜 美0z(deg) -61.42 deg 号 0.00000 交流量程 >
5 参数3 平均次数其 美
6 R -3.09644 Ω 0.00000Ω 触发模式参数4 触发延时
7 运 美 0msX -5.68400 Ω 号 0.00000Ω 交直流监控退出BN122800 39 0开路短路负载偏置关合格测量2021-3-1111:31:17
E.增强的列表扫描功能
可以最多设置1601点的列表扫描,每个点可以单独设置测试频率、测试电压、直流偏置等测试条件。
测量频率 平均 测量电平 4100 kHz 500mV Auto(5kCl) 0 mu 29.6493kC) -58.2271 deg 53.6534 pF 0.03096 表总菜单
2 143.84 ktz 500mV Auto(5 k) 0mV 20.7474kΩ -88.3788 deg 53.3075pF 002830
31 206.91kHz 500 52.9682 pF 002005297.64 kHz 0.02381 逐点测量
5 428.13 kHz 0.02204
6 615.85kHz 0.02075885.87 kHz 0.01872 列表设置 ,1.2743MHz 500 T 500 7341 0.01703
10 21.83MH 校准设置 .3.7927
137.8476 MHz 500mm 0.00853 0.01023 测量参数 A0m 4 1084 1 测量度 AA69.519Mt 500mV Auto(50 C) 0mV 21.07300 54.8900 88.8729 pF 0.703070.54565 触发模式 ,分选设置 .BIN2BN3BN4 BN7BN8BN9BN 10
F.强大的分析图形界面
最多可以4通道同时显示,每个通道可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有十四种分屏显示方法。
| 通道 | 显示窗口 | 单个窗口可以设置不同扫描 条件 |
| 曲线 | 测量参数 | 每个窗口可以设置4条曲线 |
G.分段扫描功能
分段扫描是在一个扫描周期内,设置不同的频率分段进行扫描,扫描时可设置不同的电平及偏置,扫描结果直接图形显示,用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。
如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率,通过分段扫描功能可在特定频率范围内扫描测量,无需扫描不相关频率
H.强大的光标分析能力
TH2851系列精密阻抗分析仪具有强大的光标分析能力,可以通过光标实现如下功能:
1.读取测量结果的数值 (作为绝对数值或者相对于参考点的相对值)
2. 查找曲线上的特定点 (光标查找)
3. 分析曲线测量结果,计算统计数据
4. 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放
TH2851可以在每条曲线上显示10个光标,包括了参考光标。
每个光标有一个激励值(坐标系×轴对应的数值)和响应值(坐标系Y轴对应的数值)。光标查找功能允许搜索下列条件测量点:
最大值、最小值
峰谷值:峰值(极大值)、谷值(极小值)、光标左侧最近的峰谷值、光标右侧最近的峰谷值、多重峰谷值目标值:距离光标最近的目标值、光标左侧最近的目标值、光标右侧最近的目标值、多重目标值
1.强大的图形分析功能
1)曲线分选功能
可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断,常用于谐振曲线筛选如压电元件等谐振频率。
2)等效电路分析
现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件,等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。
可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲线进行对比,还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。
等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用
| 模型 | 三参数 A | |||||||
| 000 | B 1 C1 | C C1 | D | |||||
| R1 | 0-000 L1 R1 | 000 Wlo L1 C1 R1 | ||||||
| W 高磁漏电感 | R1 大阻值电阻 | 电容 | ||||||
| 拟合对象 | 100 四参数 | |||||||
| 模型 | E F G 000 L1 | |||||||
| C0 | R0 o-W | olW 00 | 。 R1 | |||||
| 。 R | ||||||||
| 拟合对象 | 000 W 共振器 | R1 W 电感等效串联电阻 | W 电容 | |||||
3)晶体振荡器分析(压电器件分析)
对晶体振荡器进行测量以及性能分析,测量计算后获取晶体的谐振频率、反谐振频率、品质因数等重要参数。
同时,对于其他压电器件如压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变压器、大功率超声波发生器、换能器(振子)、声表面波器件、电声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振频率、反谐振频率、机械耦合系数等参数。
开路超路负载相位偏置夹具测量2022-4-2714:07:29
4)曲线轨迹对比
曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量,所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用:
a)针对多种不同被测件
对比不同测量条件下的曲线轨迹
设置不同的频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值
b)针对同一个被测件
对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性
设置不同频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值
图表顿车 8z0-01 Cp-02 8ed-02 Cp-03 6ed-43 戴据列表
100.00 6 188105734 1.82828F730708g 设置频率
1.00 .77719nl 89204004g 42.9706de 1.70715F 2 1.772F 42000 增加行
30.0000MH 71.9529d .532 11.9489deg
50.0000 MH 30060eg 删除行
80.0000M0 -88.5884 pF 63.4726 deg 5967pF 63.4613 0eg
100.000MHz 48.6229 pF 58.6142 -48.6203pF 58.6145deg -48.6203F 58.6050eg 计算30. 606 6337 p 01.4186deg导出数据退出
J.介电常数分析(选件)
TH2851系列精密阻抗分析仪支持介质材料介电常数、介质损耗分析,需选购测试夹具及分析软件。
| 序号 型号 | 必选项 | |
| 1 | TH2851 阻抗分析仪主机 | √ |
| 2 | TH26077 介质材料测试夹具 | √ |
| 3 | TH2851 介电常数测试软件 | √ |
2.TH26077介质材料测试夹具
TH26077电介质材料测试夹具是设计在TH2851上进行准确的介电常数及介质损耗测量的夹具。通过使用平行板方法测量固态材料的介电常数,从而消除离散电容。
1)外形结构
2)基本参数
| 测试频率 | DC-30MHz | ||
| 测量参数 | 电容(C)、耗损因数(D)、介电常数(εε") | ||
| 测试电极 | 电极种类 | 被测材料直径 | 被测材料厚度 |
| 屏蔽电极A1 | 40mm-56mm | ≤10mm | |
| 屏蔽电极A2 | 10mm-56mm | ≤10mm | |
| 测试原理 清零 | 平行板测量法 | ||
| 开路、短路 | |||
3)测试原理
4)介电常数公式
{ \mathsf C } _ { \mathsf P } :测试仪器测出的等效并联电容值(F)
\mathfrak { t } _ { { a } } :被测材料的平均厚度(m)
A:屏蔽电极中测试电极的面积 ( \mathsf { m } ^ { 2 } )
d:屏蔽电极中测试电极的直径(m)屏蔽电极A1: 3 8 x 1 0 ^ { - 3 } [m]屏蔽电极A2: 5 x 1 0 ^ { - 3 } [m]
\scriptstyle \mathbf { \varepsilon } _ { 0 } :自由空间介电常数 8 . 8 5 4 x 1 0 ^ { - 1 2 } [F/m]
3.介电常数分析软件
该软件为选件,开通后在TH2851界面直接选择对应的参数即可,分别可以单测、列表扫描、曲线扫描,下图为曲线扫描界面。
K.磁导率分析
TH2851支持磁性材料磁导率测试,在主机的基础上,需选配测试夹具及磁导率分析软件,具体配置如下:
| 序号 | 型号 | 必选项 |
| 1 | TH2851 阻抗分析仪主机 | √ |
| 2 | TH26086 测试夹具底座 | √ |
| 3 | TH26088 磁导率测试夹具 | √ |
| 4 | TH2851 磁导率测试软件 | √ |
| 5 | TH26086_CAL夹具校准套件 | √ |
2.测试夹具
1)TH26086转接底座
用于将4端对转换成N型7mm底座,适配其他测试夹具如TH26088磁导率测试夹具。
TH26086为必选项,若未选购,TH26088将无法正确测量。
| 测试频率 | DC - 130MHz |
| 最高电压 | ±42V 峰值 (AC+DC) |
| 工作温度 | 0° C-40°C |
2)TH26088磁导率测试夹具
TH26088可精确测量环形磁性材料的磁导率。由于该夹具的结构是环形线圈绕一圈(无漏磁),因此不需要绕环形线圈的导线,而且允许广泛的频率覆盖。它配有一个小型和一个大型夹具,适应各种尺寸,是测量磁性材料的理想结构。
| 测试频率 | 1kHz- 1GHz | ||
| 样本尺寸 | 高度h | 内径范围b (直径)外径范围c (直径) | |
| 小型部件用 | ≤3mm | ≥3.1mm | ≤8mm |
| 大型部件用 | ≤8.5mm ≥5mm | ≤20 mm | |
1)磁导率基本概念
磁导率是材料与磁场的相互作用,等于电感B(磁感应强度)与磁场强度H的比值复数相对导磁率 ( \mu ^ { \star } ) 由实部和虚部组成实部 ( \mu _ { r } ^ { \prime } ) :储存电能虚部 ( \mu ^ { \mathfrak { n } } ) :消耗能量也是真空导磁率 ( \mu _ { 0 } ) 的复数导磁率 \smash { \mathbf { * } \mathbf { \vert * \vert ^ { \star } , } } )损耗角正切tanδ为无效导磁率,是实部 ( \mu _ { r } ^ { \prime } ) 和虚部 ( \mu ^ { { ~ \mathfrak { n } ~ } } \mathfrak { r } ) 的比值
2)有效磁导率μ'、μ"。
采用电感测量法测量,在环形磁芯的磁芯上缠绕导线,并放置在一个密闭的圆柱形空间内(TH26088夹具),通过阻抗分析仪测量导线两端的电感(自感),根据测试电感量及下列公式推导出有效磁导率。
3)相对导磁率μ
| Reff | 磁芯损耗(包括线路电阻)的等效电阻 |
| Leff | 环形线圈的电感 |
| Rw | 线路电阻 |
| N | 匝数 |
| 磁芯的平均磁路长度[m] | |
| A | 环形磁芯的横截面积[m] |
| ① | 2πf(角频率) |
| μ。 | 真空导磁率=4π×107[H/m] |
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4.磁导率分析软件
选择开通磁导率分析软件之后,仪器便可以在单测、列表扫描、曲线扫描中直接选择磁导率参数,直接在界面显示测试结果
2851Prec
1 测量频车 100.000MH 交流量程 Auto(50 0) 交流电流监控 4.996 mA 测量设置测量速度 3 直流侯置 0V
N 测量电平 500 mV 均次数 交流电压监控 429.0 μV 触发模式 ,
” 0.841714 屏蔽电板ur" -0.14904 介质厚度
591 破环高度
· tanδ -0.17706 环外坏内… |Z) 0.08587 Ω 退出
截图保存于D:\PrintScre 22-11-25 09:15:14
400-624-1118
Page A13-A14
L.标配附件
TH26047A四端对测试夹具
工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
应用:用于导线类器件的阻抗
测试,带屏蔽接地端
TH26005D四端对测试夹具
工作频率:DC-120 MHz
最大直流偏置:±42V
M.选配附件
TH26007A磁环测试夹具
·工作频率:DC-120MHz
·最大直流偏置:±42V
应用:小型磁环单匝电感量测
试,尺寸大小可定制TH26008ASMD元件测试夹具·工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
应用:SMD器件,尤其高频小电容≤3pF或小电感≤1uH。测试频率≥100kHzTH26009BSMD元件测试钳工作频率:DC-15MHz
最大直流偏置:±42V
应用:用于各种SMD器件测试TH26108C四端对贴片测试夹具·工作频率:DC-40MHz
最大偏置:±42V
应用:SMD器件,尤其高频小电容≤3pF或小电感≤1uH,测试频率≥100kHz,且对D和Q要求高的器件
TH26062A四端对测试夹具
工作频率:DC-100kHz
最大直流偏置:±42V
应用:测试电动汽车用薄膜大容
量DC_LINK电容
TH26048B四端对测试夹具
工作频率:DC-13MHz
最大直流偏置: ± 4 2 V
应用:用于各种直插式轴向和径
向阻抗器件
TH26063四端对测试夹具
·工作频率:DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
应用:测试螺栓电容器,
DC_LINK电容
TH26077电介质测试夹具·工作频率:DC-30MHzDUT尺寸:10mm-56mm·DUT厚度:≤10mm应用:固体材料的介电分析
TH26086TH2851-7mm夹具工作频率:DC-130MHz应用:四端对接口转7mm接口
TH26088TH2851磁导率测试夹具
工作频率:DC-130MHz
DUT尺寸:≤20mm
·DUT厚度:≤8.5mm
应用:磁性材料复数磁导率分析
TH26086-CAL7mm夹具校准套件
| 产品型号 | TH2851-015 | TH2851-030 | TH2851-050 | TH2851-080 | TH2851-130 | |
| 显示 | 10.1英寸TFTLCD显示器1280×RGB×800,电容式触摸屏 | |||||
| 读数 | 6位显示分辨率 | |||||
| AC测量参数 | Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、复数Z、IZ|、复数Y、IY|、R、X、G、B、0、D、Q、VAc、lAC | |||||
| DC测量参数 | ||||||
| 测试频率 | 范围 最高分辨率 | VDc、Ibc、DCR | 10Hz - 50MHz | 10Hz -80MHz 10Hz - 130MHz | ||
| 10Hz - 15MHz 10Hz - 30MHz | ||||||
| 1mHz 频率相对误差≤±0.0007% | ||||||
| 测试电平 | AC电压 | 5mV - 2Vrms | ||||
| 分辨率 | ||||||
| 1mV | ||||||
| AC电流 分辨率 | 50μA - 20mArms 10uA | |||||
| DC偏置 | 电压 | |||||
| 电压分辨率 | 0V- ±40V | |||||
| 1mV 电流 | ||||||
| 电流分辨率 | 0mA- ±100mA | |||||
| 40uA | ||||||
| 测试端配置 | 四端对 | |||||
| 输出阻抗 | 25Ω/100Ω 五档:1(快速)-5(精确) | |||||
| 典型测量时间 (速度) | 1:2.5ms2:10ms 3:40ms 4:80ms 5:400ms (不包括通讯时间的算数平均值,每个频率测试速度会略有不同) 1kHz:0.08% 1MHz:0.08% | |||||
| 最高准确度 2MHz:0.5% | ||||||
| 测量显示范围 | 10MHz:1% 130MHz:5.0% a 1×1018;E 1×1018 | |||||
| Cs、Cp | ±1.00000 aF - 999.999 EF | |||||
| Ls、Lp | ±1.00000 aH - 999.999 EH | |||||
| D | ±0.00001- 9.99999 | |||||
| Q | ±0.01-9999.99 | |||||
| R、Rs、Rp、X、Z | ±1.00000 aΩ - 999.999 EΩ | |||||
| G、B、Y | ±1.00000 aS- 999.999 ES | |||||
| Vdc | ±1.00000aV-999.999EV | |||||
| Idc | ±1.00000 aA-999.999 EA | |||||
| 0 | ±1.00000 rad -3.14159 rad | |||||
| 0d | ±0.0001 deg - 180.000 deg | |||||
| △% | ±0.0001% - 999.999% | |||||
| 多功能参数列表扫描 | 1601点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选 | |||||
| 参数 | 扫描参数:测量参数、测试频率、AC电压、AC电流、DCBIAS电压、DC BIAS电流 频率、ACV、ACI、DCV、DCI | |||||
| 类型 | 对数、线性、频率分段 | |||||
| 点数 | ||||||
| 图形扫描 | 2-1601 | |||||
| 通道数 | 4 | |||||
| 曲线数 分屏显示 | 4条/通道 | |||||
| 等效电路分析 | 16种 (通道和曲线) | |||||
| 晶体振荡器分析 | 3元件模型:4个、4元件模型:3个 | |||||
| 有 | ||||||
| 曲线轨迹比对 | 有 | |||||
| 分选 | LCR模式10档分选;扫描模式每条曲线单独分选 | |||||
| 接口 | RS232C,USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI | |||||
| 开机预热时间 | 60分钟 | |||||
| 输入电压 | 100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz | |||||
| 功耗 | 最大150VA | |||||
| 尺寸(WxHxD)mm³ | 428x220x325 | |||||
| 重量 | 14.5kg | |||||
简要介绍
·TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了当前国际先进的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。
TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳圆、介电常数测试功能,让阻抗分析功能得以进一步提升。
得益于采用了10.1时、分辨率达 2 8 0 ^ { \star } 8 0 0 的电容式触摸屏,TH2848系列精密阻抗分析仪采用了四参数显示、所有设置、监视、分选参数、状态等可以在同一屏显示,避免了频繁切换的繁琐操作。
应用领域
·无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
·半导体元件:LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDc特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
·其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
·介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
·磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
·半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
·液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
·压电材料及器件:压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变压器、大功率超声波发生器、换能器(振子)、声表面波器件、电声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振频率、反谐振频率、机械耦合系数等参数
性能特点
·高分辨率:10.1英寸,分辨率 1 2 8 0 ^ { \star } 8 0 0 ,电容式触摸屏
·高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
·高稳定性和一致性:15个量程配置
·高功率:信号电平: 2 0 \mathsf { V } _ { \mathsf { A C } } / 1 0 0 \mathsf { m A } _ { \mathsf { A C } } (204号内置直流偏置: ± 4 0 \mathsf { V } _ { \mathsf { D C } } / 1 0 0 \mathsf { m A } _ { \mathsf { D C } }
·高速度:双CPU架构,最快达400次/s(2.5ms)测试速度
·操作便捷:Linux操作底层、触摸操作、嵌入式帮助
·点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
·四参数测量
·一键记录、一键截屏
·201点多参数列表扫描功能
·图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏
·压电导纳圆测试、介电常数测试
·强大的分选:LCR模式:10档分选图形分析模式:支持曲线条件分选
·高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A
| 简要参数 | TH2848-02L | TH2848- 02 | TH2848- 05 | TH2848- 10 | ||
| 测试频率 | 4Hz-2MHz | 4HMHz | 4HMHz | 4HMHz | ||
| 基本精度 | 0.05% | |||||
| AC 信号 源 | 电压 | 5mVrms -2Vrms | 5mVrms-20Vrms | |||
| 电流 | 0mArms-20mArms | 0mArms-100mArms | ||||
| DC 偏置 | 电压 | OV-±10V | OV-±40V | |||
| 电流 | 0mA-±100mA | 0mA-±100mA | ||||
| 独立电压源 | 0V- ±10V | |||||
| DCR 测试 信号 电流 | 电压 | 100mV-1V | ||||
| 0mA-10mA | ||||||
| 多功能参数列表 | ||||||
| 图形 分析 扫描 | 图形扫描 | 回 | 回 | 回 | ||
| 压电导纳圆 | 区 | 回 | 回 | 回 | ||
| 介电常数 | 区 | 回 | 回 | |||
尺寸/重量
体积(mm):430( W ) { x } 1 7 7 ( 1 1 ) { x } 2 6 5 ( \mathsf { D } ) 净重:11kg
附件
| 随机附件: | TH26011BS | 四端对测试夹具 |
| 选配件: | TH26048 | 四端对测试盒 |
| TH26010 | 短路片 | |
| TH26007A | 磁环测试夹具 | |
| TH26008A | SMD元件测试夹具 | |
| TH26009B | SMD元件测试钳 | |
| TH26047 | 四端对测试夹具 | |
| TH26048B | 四端对测试夹具 | |
| TH26062A | 四端对测试夹具 | |
| TH26063 | 四端对测试夹具 | |
| TH26108C | 四端对贴片测试夹具 | |
| TH26077 | 电介质测试夹具 |
功能特点
A.高精度
TH2848系列精密阻抗分析仪采用了宽带自动调零型自动平衡电桥技术,与普通运放I/V型自动平衡电桥相比,它能在更宽的频率范围内保证更高的频率精度!下图以同惠电桥为例,对比了自动平衡电桥与普通电桥在0-10MHz频率范围内的精度差别。目前同惠的宽带自动调零型自动平衡电桥有TH2839系列、TH2838系列和TH2828系列。
B.高稳定性和一致性
TH2848系列精密阻抗分析仪,除了宽带自动调零型自动平衡电桥原理带来的高精度和高稳定性之外,仪器内置了15个测试量程,也是稳定性和一致性的有力保障。
同惠LCR数字电桥量程一览表
C.10.1寸大屏,四种测量参数,让细节一览无遗
10.1寸触摸屏、 1 2 8 0 ^ { \ast } 8 0 0 分辨率,Linux系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN接口,带来的是无以伦比的操作便捷性。
大屏幕带来更多的好处是,可以把4个测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝不拥挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意可调。
和早期LCR对比,操作便捷性、显示完整性一目了然。
D.压电器件分析功能
对于其他压电器件如压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变压器、大功率超声波发生器、换能器(振子)、声表面波器件、电声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振频率、反谐振频率、机械耦合系数等参数。对于需要专业性的压电导纳圆测试,TH2848系列精密阻抗分析仪也内置了,无需购买上位机即可在仪器图形扫描分析界面直接实现。
E.介电常数分析功能
在材料分析领域,介电常数分析是一个基本的内容,TH2848系列精密阻抗分析仪内置了介电测试功能,可以将介电常数当成阻抗分析仪的常规测试项目一样进行单测、列表扫描、图形扫描分析。
F.增强的多功能参数列表扫描功能
最多支持201点列表扫描,每个扫描点可设置4个测量参数,4个测量参数有独立开关,列表扫描每个点的频率、电平、偏置、功能、延时都可以独立设置,满足了大多数客户的需求。
改进的列表扫描分选结果输出:每行可以指定不同的输出,或任意几行合并结果输出,所有结果可在HANDLER接口直接输出,
列表设置 介
点数 20 触发模式 连续 列表模式 顺序 介电常数
比较 开 介电常数 开 合并结果输出 关
Pt 开 显平开 票开 参数1/4·开 延时 输出 功能 上限 开
1 1.50000kHz 1.000V 0.0000V Cp 09 Bin1
2 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp US Bin2
3 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin3 尺寸 1
4 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin4
5 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin5
6 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin6 独立输出
7 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin7
8 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin8
9 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp ... 0s Bin9
10 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin10
11 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s Bin1
12 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s
13 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s
14 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s
15 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp 0s
16 1.00000kHz 1.000V 0.0000V Cp . 0s .= 哥 线缆:0m2023/10/0709:03:35
G.强大的图形分析界面
4个扫描轨迹,1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏
H.10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可能,分选结果直接输出至HANDLER接口
在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口输出,一直是自动化客户的难题,TH2848系列精密阻抗分析仪将HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式等完全可视化,让自动化连接更简单。
HANDLE接口压电默认为外部,可编程切换内部5V
1.智能固件升级方式
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。TH2848系列精密阻抗分析仪固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,智能搜索仪器内存、外接优盘甚至是局域网内升级包,并自动进行升级。
系统设置 n 文件管理 n
模式 系统设置 名称 /大小 修改日期 文件管理
总线式 自动局域网 系统信息 GO 20220108 保存469KB
按键讯响 开 系统语言 中文 123.t40 469KB 2022/02/15 10:39:50 重命名
合格讯响 关 口令密码 关 消息日志 2201329-OA3PC-2.40 453KB 2022/03/29 15:15:26 删除
不合格讯响 关 时间日期 2022/04/13 11:21:11 2220329-QA3PC.t40 453KB2016/04/25 15:35:41
R5232 系统检测 2250187-02FX-1282.40 469 KB2022/01/24 12:08:28 新建文件夹
特地址 115200 模式 SP32 许可证 PUSTL 46 2072/03/17 1653642 软件升级
局域网 short.t40 469KB 2022/03/26 10:23:54
主机名 TH2840CS 端口号 45454 DTH2829-48-LK.t40 4.53KB 20126/04/25 09.58.29
IP地址 192 168 13 221 MAC地址 80:f5:b5:e3:8f:34 usb 1970/01/01 00:00:00
子网掩码 255 255 255 0 DNS1地址 0 0 0
网关地址 192 168 13 1 DNS2地址 0 0
工具Preset 软件升级 品内部:143MB(210MB) 外部:28GB(28GB) 内存:116MB(247MB)2022/04/13 11:21:11 2022/04/06 10.17:37
J.大内存,支持更多配置文件及图片存储
TH2848系列升级了更大的内存,除去系统占用空间,用户可使用空间将近6GB,可存储更多的设置文件及屏幕截图
同时支持外接USB存储扩展,外置USB存储支持设置文件、屏幕截图、数据记录文件。
数据记录文件默认存储在外置存储。
K.全接口配置,联机再无忧虑
TH2848标配了目前测试仪器通讯所有常见接口,和电脑、PLC通讯再无障碍。
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L.标配附件
TH26047A四端对测试夹具
工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
应用:用于导线类器件的阻抗
测试,带屏蔽接地端
TH26005D四端对测试夹具
工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
M.可选测试附件
TH26007A磁环测试夹具
·工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
应用:小型磁环单匝电感量测
试,尺寸大小可定制TH26008ASMD元件测试夹具工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
应用:SMD器件,尤其高频小电容≤3pF或小电感≤1uH。测试频率≥100kHz
TH26009BSMD元件测试钳·工作频率:DC-15MHz最大直流偏置:±42V应用:用于各种SMD器件测试
TH26108C四端对贴片测试夹具工作频率:DC-40MHz最大偏置:±42V应用:SMD器件,尤其高频小电容≤3pF或小电感≤1uH,测试频率≥100kHz,且对D和Q要求高的器件
TH26062A四端对测试夹具
·工作频率:DC-100kHz
最大直流偏置:±42V
应用:测试电动汽车用薄膜大容
量DC_LINK电容
TH26048B四端对测试夹具
工作频率:DC-13MHz
最大直流偏置: ± 4 2 V
应用:用于各种直插式轴向和径
向阻抗器件
TH26063四端对测试夹具
·工作频率:DC-100kHz
·最大直流偏置:±42V
应用:测试螺栓电容器,
DC_LINK电容
TH26077电介质测试夹具工作频率:DC-30MHzDUT尺寸:10mm-56mmDUT厚度:≤10mm应用:固体材料的介电分析
| TH2848-02L | TH2848-02 | TH2848-05 | TH2848-10 | |||
| 产品型号 | 10.1英寸(对角线)电容触摸屏 | |||||
| 显示 | 显示器 比例 | 16:9 | ||||
| 分辨率 | ||||||
| 方式 | 1280×RGB×800 四参数任意选择 | |||||
| 测量参数 | AC | Cp、Cs、Lp、Ls、Rp、Rs、IZ|、IY|、R、X、G、B、0、D、Q、VAc、lAc\ | ||||
| DC | RDc | |||||
| 压电 | Ct、Dt、Fs、Fp、Fp-Fs、Zmin、Zmax、F1、F2、F2-F1、Gmax、CO、C1、R1、L、 | |||||
| 介电 | Kp、Keff、Kt、K31、K33、Qm、ε、εr | |||||
| 范围 | Cp、D、ε、|ε|、εr'、εr"、tanδ、Q 4Hz-2MHz 4Hz-2MHz | |||||
| 测试频率 | 精度 | 4Hz-5MHz 4Hz-10MHz | ||||
| 0.01% 0.1mHz 4.0000Hz-99.9999Hz | ||||||
| 1mHz 100.000Hz-999.999Hz | ||||||
| 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 分辨率 100mHz | 10.0000kHz-99.9999kHz | |||||
| 1Hz | 100.000kHz-999.999kHz | |||||
| 10Hz | 1.00000MHz-9.99999MHz | |||||
| 设定电压为测试端开路时Hcur电压 | ||||||
| AC测试信 号模式 (ALC ON) | 额定值 (ALC OFF) 恒定值 | 设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流 | ||||
| 保持DUT上电压与设定值相同 保持DUT上电流与设定值相同 | ||||||
| 测试电平 | 电压范围 | 0Vrms -2Vrms ±(10%×设定值+2mV) | 0mVrms-20Vrms | F≤1MHz | ||
| 0mVrms-15Vrms | 1MHz | |||||
| 0mVrms-2Vrms | 2MHz | |||||
| 0mVrms-1Vrms | 5MHz | |||||
| 准确度 | (ACs2vrm) | |||||
| 分辨率 | 0.1mVrms 0mVrms-0.2Vrms | |||||
| 0.2mVrms | 0.2Vrms-0.5Vrms | |||||
| 0.5mVrms | 0.5Vrms-1Vrms | |||||
| 1mVrms | 1Vrms-10Vrms | |||||
| 10mVrms 10Vrms-20Vrms | ||||||
| 电流范围 | 0mArms-20mArms 0mArms-100mArms | |||||
| 1μArms 0Arms-2mArms 2uArms 2mArms-5mArms | ||||||
| 分辨率 (100Ω内阻) | ||||||
| 5uArms | 5mArms-10mArms | |||||
| 10μArms 100mV-1V | 10mArms-100mArms | |||||
| 电压范围 100uV | ||||||
| RDc测试 | 分辨率 | |||||
| 电流范围 | 0mA-10mA | |||||
| 分辨率 | 10μA | |||||
| 电压范围 | 0V-±10V | 0V-±40V | ||
| 准确度 | 1%×设定电压+5mV | AC≤2V | ||
| 2%×设定电压+8mV AC>2V | ||||
| DC偏置 分辨率 | 0.1mV | OV - ±5V | ||
| ±5V- ±40V | ||||
| 电流范围 | 1mV 0mA- ±100mA | |||
| 0mA-50mA | ||||
| 电压源 | 分辨率 10μA 电压范围 | 1uA | 50mA-100mA | |
| -10V - 10V | ||||
| 分辨率 1mV | ||||
| 电流范围 | -45mA - +45mA | |||
| 输出阻抗 | ||||
| 100Ω 四端对 | ||||
| 测试电缆长度 | 0m、1m | |||
| 输出阻抗 | 100Ω,±1%@1kHz | |||
| 数学运算 | 与标称值的绝对偏差△,与标称值的百分比偏差△% | |||
| 等效方式 | 串联、并联 | |||
| 校准功能 | 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD | |||
| 测量平均 | ||||
| 量程选择 | 1-255次 | |||
| 触发模式 | 自动AUTO、手动HOLD | |||
| 连续、单次 | ||||
| 触发延时 特有功能 | 0-60s 一键截屏、一键记录,嵌入式帮助系统 | |||
| 量程配置 | LCR | 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、 | ||
| RDc | 20kΩ、50kΩ、100kΩ | |||
| 10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、 200Ω、500Ω、1k2、2kQ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50k2、 快速:2.5ms 中速:90ms | ||||
| 测量时间(ms/次) 最高准确度 | 慢速:220ms 0.05% (具体参考说明书) | |||
| 测量显示范围 | a 1×10-18;E 1×1018 | |||
| Cs、Cp | 0.00001pF -9.99999F | |||
| Ls、Lp | 0.00001μH-99.9999kH | |||
| 0.00001- 9.99999 | ||||
| D | 0.00001- 99999.9 | |||
| Q | 0.001mΩ-99.9999MΩ | |||
| R、Rs、Rp、X、Z、Rpc | ||||
| G、B、Y | 0.00001μs -99.9999S | |||
| VDc | ±0V - ±999.9999V | |||
| Ibc | ±0A- ±999.9999A | |||
| -3.14159 - 3.14159 | ||||
| 0d | -179.999°- 179.999° | |||
| △% | ± (0.000%- 999.9%) | |||
| 多功能参数 列表扫描 | 点数 | 201点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选 | |
| 参数 | 测试点AC电压、AC电流、DCBIAS电压、DCBIAS电流、带介电常数测试功能基于此 | ||
| 触发模式 | 顺序SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX只输出一次 步进STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器 | ||
| 结果只在最后的/EOM才输出 | |||
| 其他特点 | 1.扫描参数与测试参数都有多种复制功能 2.每个扫描点均可设置延时 | ||
| 图形扫描 | 每个SS信号,多可测量四A测试参数,每个参数可设置上下限,所有测试参数都合格输 | ||
| 扫描点数 | 51、101、201、401、801点可选 | ||
| 结果显示 | 每个参数的极值以及光标所在点的扫描参数值与对应的测试参数值 | ||
| 压电测试 | 集成压电导纳圆测试解决方案 | ||
| 扫描轨迹 | 1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏 | ||
| 显示范围 | 实时自动、锁定 | ||
| 坐标标尺 | 对数、线性 | ||
| 扫描参数 单 | 频率、AC电压、AC电流、DCVBIAS/DCIBIAS | ||
| 触发 次 | 手动触发一次,从起点到终点一次扫描完成,下个触发信号启动新一次扫描 | ||
| 方式 连 续 | 从起点到终点无限次循环扫描 | ||
| 比较器 | 结果保存 | 图形、文件 | |
| Bin分档 | 10Bin、PASS、FAIL | ||
| Bin偏差设置 | 偏差值、百分偏差值、关 | ||
| Bin模式 | 容差、连续 | ||
| Bin计数 | 0-99999 | ||
| 档判别 | 每档最多可设置四个参数极限范围,四个测试参数结果设档范围内显示对应档号,超出设 定最大档号范围则显示FAIL,未设置上下限的测试参数自动忽略档判别 | ||
| PASS/FAIL 指示 | 满足Bin1-10,前面板PASS灯亮,否则FAIL灯量 | ||
| 数据缓存 | 201个测量结果可分批读取 | ||
| 存储调用 | 内部 | 仪器内置8GB存储空间,除去系统占用后用户可使用空间约6GB | |
| 键盘锁定 | 外置USB | 测试设定文件、截屏图形、记录文件 | |
| 接口 | 可锁定前面板按键 | ||
| USB HOST USB | 2个USBHOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个 通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USBTMC-USB488和USB2.0相符合, | ||
| DEVICE | 阴接头用于连接外部控制器。 | ||
| LAN HANDLER | 10/100M以太网,8引脚,两种速度自适应 用于Bin分档信号输出 | ||
| GPIB | 标配 | ||
| RS232C | 标准9针,交叉 | ||
| RS485 | 标配 | ||
| 开机预热时间 | 60分钟 | ||
| 输入电压 | 100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz | ||
| 供电电源功率 | 不小于130VA | ||
| 尺寸(WxHxD)mm | 430x177x265 | ||
| 重量 | 11kg | ||
简要介绍
·TH2839系列是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,其 0 . 0 5 % 的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、20Hz-10MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。
TH2839系列支持2V交流测试信号和40V直流偏置的高功率测试条件、增强的多参数列表扫描/多参数图形分析能力将有利于用户扩展元件全面评价的能力。
TH2839系列是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。
TH2839系列以其性能可以实现如IEC和MIL标准的各种测试。
应用领域
·无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
·半导体元件:LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
·其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
·介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
·磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
·半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
性能特点
·高精度:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
·高稳定性和一致性:高达15个测试量程配置
·高速度:最快达5.6ms的测试速度
·高分辨:7英寸, 8 0 0 x 4 8 0 分辨率
·201点多参数列表扫描功能
·图形化扫描功能
·数学运算功能
·变容二极管自动极性功能
·一键截屏功能
·一键记录功能
·10档分选功能,分选结果声光报警
·超大的存储空间:内置:40组设定文件扩展:可通过USB存储器存储500组设定文件、图像文件、数据记录文件
·高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A
| 简要参数 | TH2839 | TH2839A | |
| 测试频率 | 20Hz- 10MHz | 20Hz - 5MHz | |
| 基本精度 | 0.05% | ||
| AC信号源 | 电压 | 5mVrms-2Vrms | |
| 电流 | 50μArms-20mArms | ||
| DC偏置 | 电压 | OV-±40V | |
| 电流 | 0mA-±100mA | ||
| 外部DCBIAS | 控制最多6台TH1778系列偏流源,达120A。 | ||
| 独立电压源 | -10V-10V | ||
尺寸/重量
体积(mm): 4 0 0 ( \mathsf { W } ) { x } 1 3 2 ( \mathsf { H } ) { x } 4 2 5 ( \mathsf { D } ) 净重:15kg
附件
| 随机附件: | TH26011BS | 四端对测试夹具 |
| 选配件: | TH26005C | 四端对测试盒 |
| TH26010 | 短路片 | |
| TH26007A | 磁环测试夹具 | |
| TH26008A | SMD元件测试夹具 | |
| TH26009B | SMD元件测试钳 | |
| TH26047 | 四端对测试夹具 | |
| TH26048 | 四端对测试夹具 | |
| TH26062A | 四端对测试夹具 | |
| TH26063 | 四端对测试夹具 | |
| TH26108C | 四端对贴片测试夹具 | |
| TH26077 | 电介质测试夹具 | |
| 等适用于电桥的夹具配件或定制 | ||
功能特点
A.高精度
宽带自动调零型自动平衡电桥与普通运放I/V型自动平衡电桥相比,它能在更宽的频率范围内保证更高的频率精度!下图以同惠电桥为例,对比了自动平衡电桥与普通电桥在0-10MHz频率范围内的精度差别。目前同惠的宽带自动调零型自动平衡电桥有TH2839系列、TH2838系列和TH2828系列。
以Z=1kΩ为例,测试条件:电平=1V,电缆长度=0米,测试速度:MED
B.高稳定性和高一致性
C.高速度
D.功能与界面
<列表扫描且示> 测票方式:STEPNO. 频率[Hz] Cp[F1 D1 档示001100.000 1.03699u 0.0022400211.2000k 1.01957μ 0.01165003 22.3000k 1.01906u 0.01378 特款00433.4000k 1.02364u 0.0159500544.500k 1.03223μ 0.01710 到品00766.7000 1.06220u 0.01970 曲线009 88.9000k 1.11077u 0.02386010100.000k 1.14291μ 0.02678 保存数OFF生用软键选择
E.材料介电常数测试
TH2839系列配合专用材料测试夹具TH26077以及上位机软件可方便、精确的测量材料在不同频率下的介电常数。
F.DC-LINK动力电容测量
由于于自然界中不存在纯净的电容,会包含寄生参数,我们一般认为实际电容是由本身电容Cs、引线电阻Rs(ESR),引线电感Ls (ESL)串联构成,等效电路如图F-1所示。
根据阻抗频率图大家可以看到,在频率远小于谐振频率时,Ls造成的影响忽略不计,可以等效为只有Cs和Rs串联。当频率接近谐振点时,Ls的作用就不能忽略不计,对我们的测量结果影响很大,当频率远大于谐振频率时,Cs的作用降低,可以近似认为是Rs和Ls的串联。
以前大容量电容一般应用在低频领域,所以客户对Ls漠不关心,只关注Cs、Rs,随着新能源汽车的发展,越来越多的大容量电容应用在新能源里面,实际使用的频率越来越高,这时候引线电感Ls的大小直接能影响电容的质量评定,所以需要精确测量。
客户测试大电容的Cs、ESR、ESL常见方法一般有两种:
0高低频测试法:先用低频去测试Cs、Rs,然后用高频测试Ls,Rs。这种测试方法要求高低两种测试频率必须远离谐振点,才能降低Ls,Cs造成的误差影响。所以经常有客户用≥1MHz去测试大电容来得到Ls值,但是因为Cs的存在,同时1MHz这个频率离谐振点并不足够远,所以这种方法测试得到的Cs,Ls这两个值都只能算是近似值,精度有限。
0谐振法:根据阻抗频率图大家可以看到大电容的谐振点阻抗最低,所以用扫频仪产生信号源,同时测试电容的阻抗,寻找谐振点,然后通过计算就能算出Cs和Ls。
若上述两种方法仍无法满足客户测试需求,建议采用同惠TH2638A双频测试方案来测试大电容,其测试准确度与速度远远高于上述两种方法。
1).通用上位机软件
测试方式:
硬件连接方式:RS232C、USB、GPIB、LAN数据图像保存格式:TXT、XLS、MDB、CSV、BMP、JPG、PNG其它功能:自动记录、设置文件保存、用户管理等
2).压电陶瓷上位机软件
3).阻抗分析软件(等效电路分析软件)
通过3-4个元器件将电路的阻抗和频率特征建模分析即为等效电路分析。
现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的3-4个器件组成的电路模型。TH2839阻抗分析仪上位机提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。本软件还提供了自动匹配功能,即如果被测件为黑盒时,本软件自动匹配与之最符合的模型并进行参数的计算。您可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲线进行对比,还可以通过您输入的参数按照您选的模型进行拟合。此功能等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用。
A模型文档.txt-记事本 区
文件(F)编疆()格式()查看(V)助0H)
Fitted Circut □-L1-
|-C1-|--Ri-
TypeA
R1:1.713KΩ
C1:328.376pF
L1:1.872uH立
H.选配附件
TH26007A磁环测试夹具
工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
应用:小型磁环单匝电感量测
试,尺寸大小可定制TH26008ASMD元件测试夹具·工作频率:DC-120MHz
最大直流偏置:±42V
应用:SMD器件,尤其高频小电容≤3pF或小电感≤1uH。测试频率≥100kHz
TH26009BSMD元件测试钳工作频率:DC-15MHz最大直流偏置:±42V应用:用于各种SMD器件测试
TH26108C四端对贴片测试夹具·工作频率:DC-40 MHz最大偏置:±42V应用:SMD器件,尤其高频小电容≤3pF或小电感≤1uH,测试频率≥100kHz,且对D和Q要求高的器件
TH26047四端对测试夹具
·工作频率:DC-120 MHz
最大直流偏置:±42V
应用:用于导线类器件的阻抗
测试,带屏蔽接地端
TH26048四端对测试夹具 TH26063四端对测试夹具 TH26062A四端对测试夹具 TH26077电介质测试夹具
工作频率:DC-13MHz
最大直流偏置: ± 4 2 V
应用:用于各种直插式轴向和径
向阻抗器件
·工作频率:DC-100kHz最大直流偏置: ± 4 2 4 应用:测试螺栓电容器,DC_LINK电容
工作频率:DC-100kHz
最大直流偏置:±42V
应用:测试电动汽车用薄膜大容
量DC_LINK电容
·工作频率:DC-120MHz·DUT尺寸:10mm-56mm·DUT厚度:≤10mm·应用:固体材料的介电分析
| 产品型号 | TH2839 | TH2839A | |
| 测试信号源 | |||
| 信号源输出阻抗 | 100Ω,±1% @1kHz | ||
| 测试频率 | 范围 | 20Hz-10MHz | 20Hz-5MHz |
| 20.0000Hz - 99.9999Hz | 1mHz | ||
| 100.000Hz - 999.999Hz 10mHz | |||
| 1.00000kHz- 9.99999kHz | 100mHz | ||
| 10.0000kHz-99.9999kHz 1Hz | |||
| 100.000kHz- 999.999kHz 10Hz | |||
| 1.00000MHz- 10.00000MHz 100Hz 额定值(ALCOFF):设定电压为测试端开路时Hcur电压 | |||
| AC测试信号模式 AC信号 | 恒定值(ALC ON): 设定电流为电压端短路从Hur流出电流 保持DUT上电流与设定值相同 | ||
| 电压范围 分辨率 | Fs1MHz 5mVrms-Vvms | ||
| 5mVrms - 0.2Vrms 100μVrms | |||
| 0.2Vrms - 0.5Vrms 200μVrms | |||
| 0.5Vrms - 1Vrms 1Vrms - 2Vrms | 500uVrms | ||
| 1mVrms | |||
| 电流范围 | 50uArms - 20mArms | ||
| 分辨率 | 50uArms - 2mArms 1 μArms 2mArms - 5mArms | ||
| 5mArms - 10mArms | 2 uArms | ||
| 10mArms - 20mArms | 5 μArms | ||
| Rdc测试 | 电压范围 | 10uArms 100mV-2V | |
| 100uV | |||
| 分辨率 | 0mA-20mA | ||
| 电流范围 分辨率 | 1uA | ||
| 分辨率 DC偏置 电流范围 | 电压范围 | ||
| OV- ± 40V | |||
| 0V - 5V 100uV | |||
| 5V- 10V 1mV | |||
| 10V- 20V 20V- 40V | 2mV | ||
| 5mV | |||
| 0mA-± 100mA | |||
| 电压范围 | 分辨率 50mA- 100mA | 0A-50mA 1uA | |
| 10uA | |||
| -10V- 10V 1mV | |||
| 分辨率 | |||
| 电流范围 输出阻抗 | -45mA- +45mA | ||
| 100Ω | |||
| 显示器 | |||
| 尺寸/类型 | 7英寸 (对角线)TFTLCD显示器 | ||
| 比例 | 16:9 | ||
| 分辨率 | 800×RGB×480 | ||
| 测量功能 Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs | Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp Lp-D,Lp-Q,Lp-G,Lp-Rp,Lp-Rdc | ||||||||
| 测试参数 数学功能 | Ls-D,Ls-Q,Ls-Rs,Ls-Rdc,Rdc R-X, Z-0d, Z-0r G-B, Y-0d,Y-0r Vdc-Idc | ||||||||
| 等效电路 | A(X+B)+C,X为测试参数,A、B、C为输入参数 | ||||||||
| 偏差测量 | 串联、并联 | ||||||||
| 校准功能 | 与标称值的绝对偏差△,与标称值的百分比偏差△% | ||||||||
| 量程选择 | 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD | ||||||||
| LCR | 自动AUTO、手动HOLD | ||||||||
| 量程 | Rdc | 100m、10、1共0、200、50、10、200、500、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kQ、20k、 | |||||||
| 10、10Q、20Q、50、10、20n、5000、1kQ、2k2、5k2、10kQ、20kQ、50kQ、100kD, | |||||||||
| 触发模式 触发延迟 | INT、MAN、EXT、BUS | ||||||||
| 测试端配置 | 0s-999 s,分辨率100μs | ||||||||
| 测试电缆长度 | 四端对 | ||||||||
| 0m, 1m, 2m | |||||||||
| 测量平均 速度模式 | 1-255次 | ||||||||
| 测量时间 (ms) | FAST | 20Hz 330 | 100Hz 100 | 1kHz 20 | 10kHz 7.7 | 100kHz 5.7 | 5.6 | 5.6 | |
| MED | 380 | 180 | 110 | 92 | 89 | 88 | 88 | ||
| LONG | 480 | 300 | 240 | 230 | 220 | 220 | 220 | ||
| 测量显示范围 | a 1×10-18; E | 1×1018 | |||||||
| Cs, Cp | |||||||||
| Ls,Lp | ±1.00000 aF - 999.999 EF | ||||||||
| D | ±1.00000 aH- 999.999 EH | ||||||||
| Q | ±0.00001- 9.99999 | ||||||||
| R, Rs, Rp, X, Z, Rdc | ±0.01- 9999.99 | ||||||||
| G,B,Y | ±1.00000 aΩ - 999.999 EΩ | ||||||||
| Vdc | ±1.00000 aS - 999.999 ES | ||||||||
| Idc | ±1.00000 aV-999.999 EV | ||||||||
| 0r | ±1.00000 aA - 999.999 EA | ||||||||
| 0d | ±1.00000 rad-3.14159 rad | ||||||||
| Δ% | ±0.0001 deg - 180.000 deg | ||||||||
| 基本测量准确度 | ±0.0001% -999.999% | ||||||||
| 列表扫描 | 0.05%(详见说明书) | ||||||||
| 扫描点数 最多201点 | |||||||||
| 多参数扫描 | 每个扫描点均可任意设置功能(主、副参数)、频率、AC电平、DC偏置(电压或电流)、速度等 视测试均支持开路、短路、负载校准; 扫描结果列表可任意选择所需显示参数。 | ||||||||
| 顺序SEQ 触发模式 | 当一次触发后,在所有扫描点测量。/EOM/INDEX只输出一次。 | ||||||||
| 步进STEP | 每次触发执行一个扫描点测量。每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只在最后的/EOM才输 | ||||||||
| 列表扫描比较器 | 可为每个扫有上限合并分限置不分选。 | ||||||||
| 列表扫描时间标记 | 在顺序模式中,将触发点设定为0时,通过定义时间就可在每个测量点记录测量开始的时间。 | ||||||||
| 图形扫描分析 | ||
| 扫描点数 | 51、101、201、401、801点可选 | |
| 扫描轨迹 | 主/副参数可选择 | |
| 显示范围 | 自动、锁定 | |
| 坐标标尺 | 对数、线性 | |
| 扫描参数 | 频率、ACV、ACI、DCVBIAS/DCIBIAS、直流电压源 | |
| 扫描结果显示 | 主/副参数最大值/最小值、设定点主/副参数值 | |
| 扫描图形存储 | 扫描图形可存储于仪器内部FLASH、外部USB存储器或上传上位机。 | |
| 比较器 | ||
| Bin分档 | 主参数 | 9BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT |
| 副参数 | HIGH、IN、LOW | |
| Bin极限设置 | 绝对值、偏差值、百分偏差值 | |
| Bin计数 | 0 -999999 | |
| PASS/FAIL指示 | 满足主参数为9BIN之一、副参数为IN,前面板PASS灯ON,否则FAILON | |
| 测量辅助功能 | ||
| 数据缓冲存储功能 | 201个测量结果可分批读取 | |
| 保存/调用功能 | 40组仪器内置非易失存储器测试设定文件 500组仪器USB存储器测试设定文件/截屏图形/记录文件 | |
| 键盘锁定功能 | 可锁定前面板按键 | |
| 接口 | ||
| USB HOST端口 | 通用串行总线插座,A类;FAT16/FAT32格式。U盘存储或条形码扫描 | |
| USB DEVICE端口 | 通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USBTMC-USB488和USB2.0相符合,阴接头用 于连接外部控制器。 | |
| LAN | 10/100BaseT以太网,8引脚,两种速度选择 | |
| HANDLER接口 | 用于Bin分档信号输出 | |
| 外部DC BIAS控制 | 控制TH1778/TH1778S偏置电流源,最多一台TH1778+5台TH1778S (120AMAX) | |
| RS232C | 标准9针,交叉 | |
| GPIB (选件) | 24针D-Sub端口(D-24类),阴接头与IEEE488.1、2和SCPl兼容。 | |
| SCANNER(选件) | 与TH2819X、TH2829X SCANNER接口兼容 | |
注:测试信号电平:0.3Vrms-1Vrms上部数值(无括号的数值)适用于中速和慢速,下部数值(括号中的数值)适用于快速。




