同惠发展历程

每一次跨越都是一个里程碑

Companyintroducti公司介绍

常州同惠电子股份有限公司创建于1994年，是一家集研发、制造、销售、服务于一体的国家级高新技术企业。公司于2021年9月整体迁入占地面积45亩，建筑面积30000平米的花园式现代化新厂房。公司现有员工300余人， 7 5 % 以上具有大专及以上学历，研发人员占员工总数的 2 5 % 以上。

公司紧跟时代发展的脉搏，制定并践行“智能测试、高效测试、精准测试、工业互联”的发展战略，倡导“专业、专注、专心”的匠心精神，始终致力于电子测量测试仪器的技术进步，尤其在精密阻抗测量领域具有三十余年测试理论、测试技术和实践经验的积累。公司顺应国家对科学测量仪器高质量发展的高度关注和大力支持，并基于对半导体和新能源行业发展的重要性及良好市场前景的深刻理解，加大投入全力研发半导体和新能源行业产业链所需测试测量仪器，不断打破国外垄断和卡脖子风险，实现进口替代，并致力于成为国际高水平的电子测量测试综合解决方案供应商。

同惠始终把研发投入视为公司发展的基石，多年以来研发投入占公司营收的比例一直保持在 1 5 % 以上。经过持续高比例的研发投入，公司具备了较强的自主研发能力和技术优势，目前在硬件测试、嵌入式软件与算法、总线、系统集成、工业互联等方面积累了诸多核心技术成果，目前拥有授权专利83件（其中发明56件），在审发明专利21件，软件著作权68件。公司先后成功研制出国内首创甚至国际水平的优秀产品：如130MHz超高测试频率的TH2851系列精密阻抗分析仪、TH199X系列源表/测量单元、TH510系列功率半导体C-V特性测试仪、TH2690系列飞安表、TH521系列器件分析仪等，均是填补国内空白，可实现进口替代的高价值产品。

经过三十年的技术沉淀与积累，公司产品线不断丰富，产品技术性能不断突破，市场占有率不断提升，已成为中国电子元器件测量仪器领军企业。公司目前主要产品系列为：元件参数测试仪器、半导体器件测试仪器、绕线元件测试仪器、线束线缆测试仪器、电气安规测试仪器、微弱信号测试仪器、电力电子测试仪器、台式数字多用表、电源/电池综合性能测试系统等大类，400余个型号的测试仪器产品。广泛应用于半导体、新能源、3C消费电子、5G通讯、电力电子、家用电器等领域的科研与生产测试中。公司始终坚持以创新的解决方案帮助客户解决测量难题、提高测试效率与产品品质，努力为客户创造更大价值。

公司在良好的发展过程中不断取得新的资质和荣誉：“国家高新技术企业”、“国家级专精特新小巨人企业”、“江苏省企业技术中心”、“江苏省工业设计中心”、“江苏省磁性元器件智能电子测量仪器工程技术研究中心”等。公司承担过科技部中小企业创新基金项目2项、江苏省科技成果转化和省工信厅产业转型升级专项资金项目各1项、江苏省重点研发项目2项及其它多项江苏省/常州市科技计划项目。曾获得多项部/省/市级科技奖励，包括江苏省创新创业大赛一等奖、机械工业联合会科学技术二等奖、中国仪器仪表学会科技进步二等奖、江苏省科学技术三等奖3项、常州市科技进步二等奖2项、常州市创新创业大赛一/二/三等奖多项。

“实现顾客满意”是同惠始终坚持的营销准则。公司已建成多层次的市场营销模式，在全国20多个省市建立了营销和服务网络，为客户提供优质的产品和服务，贴近客户、倾听客户，构建与客户合作、沟通和交流的快捷通道，为客户创造价值。海外市场已成为公司发展的重要组成部分，已在北美、欧洲、东南亚、南亚等地建立了营销网络并取得了较好的成果，使来自中国的高科技产品同样能满足世界客户的需求。

公司于2021年1月在新三板精选层挂牌上市，同年11月成为北交所首批上市企业。展望未来，同惠将继续以务实稳健的姿态，肩负起更多社会责任，以国际化的视野和胸怀，奉献创新成果，共享发展价值。同惠一携手同心，惠及未来！

手册目录

Manual Catalog

RS232 USBHOST 。 GPIB

LAN

Python (支持测试脚本编程TestScript program)

简要介绍

·TH521系列功率器件分析仪是一款用于电路设计的综合解决方案，可帮助电力电子电路设计人员选择适合自身应用的功率器件，让其电力电子产品发挥最大价值。它可以评测器件在不同工作条件下的所有相关参数，包括IV参数（击穿电压和导通电阻）、三端FET电容、栅极电荷和功率损耗。用于电路设计的TH521系列功率器件分析仪具有完整的曲线追踪仪功能以及其他功能。

应用领域

·半导体功率器件二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析
·半导体材料晶圆切割、C-V特性分析
·液晶材料弹性常数分析、液晶切割
·电容元件电容器C-V特性测试及分析，电容式传感器测试分析

性能特点

TH521的常规特性

·高达3.5kV/1800A的宽广工作范围
·从 \mathsf { - 5 0 } ^ { \circ } \mathsf { C } 到 + 2 5 0 ^ { \circ } \mathsf { C } 的全自动快速热测试
·自动创建功率器件（半导体和元器件）的技术资料
·自动记录功能可防止数据丢失
·Al辅助编写python测试脚本

TH521IV套件特性

可对封装和晶圆上器件进行全自动快速IV测量(Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等)
·窄IV脉冲宽度（最窄 1 0 \mu \mathbf { s } ^ { { { \prime } } } ）可防止器件自发热，更准确地测试器件实际性能
·示波器视图（时域视图）可以监测实际电压/电流脉冲波形，以便进行准确测量
·配置可以灵活选择（电流范围可从20A到200A、600A或1800A灵活选择），CV和Qg作为选配

TH521套件的完整特性

·IV套件的全部特性
·测量封装器件在 3 . 5 \mathsf { k V } 以内的晶体管输入、输出和反向传输电容(Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres）以及栅极电阻（Rg)
·测量封装器件的栅极电荷（Qg）曲线
·计算功率损耗（传导、驱动和开关损耗）

尺寸/重量

主机 体积（mm）：430(W)x 311 ( H ) x 600 (D)净重：约34.5kg/35kg
扩展器 体积（mm）：425 (W)x 365(H)x 590 (D)净重：约22 kg/33.5kg

附件

标配附件：电源线×2三同轴测试线×12高压三同轴测试线×1DigitalJo线缆×1键盘/鼠标三端器件测试夹具 (TH521-1)

选配附件：Mfcmn连接线缆（TH521-5）Ceg测试夹具（TH521-3)

产品型号

IGBT的可测量参数和图表

BJT的可测量参数和图表

参数

二极管的可测量参数和图表

图形

1 _ { C } - V _ { C E } （20 IB变化时的IC-VCE曲线 hfe-lc\* VCE恒定时的hfcl曲线 \boldsymbol { \mathsf { V } } _ { \mathtt { C E } ^ { \mathtt { k } ^ { \star } } } （204号 VCE恒定时的VBE-IC曲线

图形

1 _ { F } - V _ { F } （204号 正向特性\boldsymbol { \mathsf { I } } _ { \mathsf { R } } { \mathsf { - } } \boldsymbol { \mathsf { V } } _ { \mathsf { R } } （204号 反向特性C-V 电容-反向电压特性

元器件的可测量参数和图像

元器件的可测量参数和图像

继电器

光电耦合器

参数

参数

图形

R-I 传导电阻与传导电流

图形

1 _ { F } - V _ { F } 正向电流与正向电压 \mathsf { I } _ { \mathsf { F P } } { - } \mathsf { V } _ { \mathsf { F P } } （204号 脉冲正向电流与脉冲正向电压 { \mathsf { I } } _ { \mathtt { C } } { - } { \mathsf { V } } _ { \mathtt { C } \ E } （204号 集电极电流与集电极-发射极电压 \boldsymbol { \mathbf { l } } _ { \mathtt { C } } \mathtt { - } \boldsymbol { \mathbf { l } } _ { F } （204号 集电极电流与正向电流 \mathsf { C } _ { ∞ } { - } \mathsf { V } _ { \mathsf { C E } } （204号 集电极-发射极电容与集电极-发射极电压

固态继电器

参数

VE LED正向电压 VR LED反向电压 IF(on) LED工作电流 IF (oft) LED关断电流 R (on) 导通电阻 \mathsf { I } _ { ( { l e a k } ) } （204号 关断状态漏电流 C(out) 输出电容 C (iso) I/O电容 R(1so) I/O绝缘电阻

图形

\boldsymbol { \mathsf { I } } _ { \mathsf { F } } { \mathsf { - } } \boldsymbol { \mathsf { V } } _ { \mathsf { F } } （204号 正向电流与正向电压 （20 u _ { L } - v （204号 输出电流与输出电压 \mathsf { I } _ { ( { o f f } ) } - \mathsf { V } _ { \mathsf { L } } 关断状态漏电流与负载电压 （204号 \mathsf { C } _ { ( { o u t } ) } \mathsf { - V } _ { \lfloor \mathsf { L } \rfloor } （204号 输出电容与负载电压

技术叁数

MCSMU测量和输出范围

TH530系列

半导体器件雪崩能量测试仪

4个型号可选

RS232 USB HOST HANDLER 。 LAN

OGPIB

简要介绍

TH530系列雪崩测试仪是同惠电子针对于半导体器件UIS（EAS）、EAR参数测量问题的解决方案。

主要用于测量MOSFET、IGBT、Diode和双极性器件（带钳位）的雪崩击穿特性（电压、能量等）。通过给被测器件施加可控制的感性能量，判断出被测器件是否能正常吸收和承受电感释放的能量。经过雪崩测试的器件，就可安全地用于有反向电动势的感性负载上。

尺寸/重量

体积（mm）：350(W)x122(H)x425(D) 重量：约50kg

附件

性能特点

·单通道和双通道N/P或组合器件测试（MOSFET、IGBT以及二极管）
·可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备
·支持单脉冲雪崩测试（EAS)、重复雪崩能量测试(EAR）、重复脉冲至失效测试(RPF)
·高速校准DAC可提升测试精度
·用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠
·漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻，提供报错提示(LED)
·可设栅极驱动电压(最大电压差：30V，最大电压值：28V)适应不同被测件所需
·可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测件当前状态
·高速固态开关、带故障检测功能
·高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉
·7寸24位色TFLCD电容式触摸屏，中英文可选操作界面，用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示
·提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘
·仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故障问题
·配备简单自动校准程序，用户可现场进行校准
·配备多种接口：用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN□。LAN口不仅可用于远程测试控制，在用户需要观测即时测试波形时，可使用LAN口搭配上位机程序查看每一一次的波形数据
·可与TH530-01可编程电感负载箱(0.01至 1 5 9 . 9 { m H } 或外部电感器配合使用
·可外接示波器触发器输出，同步可视化雪崩测试过程，用于准确测量雪崩时间

应用领域

·功率半导体的研发与制造评估半导体器件的雪崩耐量，确保其能承受电路中感性负载关断时产生的高压尖峰，保证出厂质量的可靠性。例如：IGBT、MOSFET、功率二极管。
·电源设备设计与验证验证设备在输出短路等异常情况下，功率器件是否能承受因初级电感和大电流引起的雪崩能量而不损坏。例如：开关电源、逆变器等设备的功率器件。
·新能源汽车与工业驱动确保器件能应对电机启动、堵转等特殊工况下感性负载产生冲击电流和电压尖峰，确保系统安全。例如：电机控制器（如变频器、伺服驱动器）中功率开关器件。

功能特点

A.泄漏测试：可选择启用

每次雪崩测试前，在栅极电压设置为0的情况下，用户设置的泄漏电压会被施加到被测件上，读取电流检测器测量值。根据测试仪的设置，可以在雪崩测试前、测试后或测试前后对被测件进行泄漏测试。这不是测量实际漏电电流，而是确定被测件或测试夹具中是否存在短路的简单测试。

测试仪内部的漏电稳压器电压可从2V设置到为被测试装置雪崩测试设置的漏极电压。漏电流大于1mA会被检测为漏电故障。漏电流最大限制为8mA。

B.雪崩测试原理

当高速开关和被测件接通时，漏极电流增加，到达指定的比较点时，高速开关与栅极关断，断开漏极电压电源。关断时，电感中存储的能量会产生较高的电压，迫使被测件（以NMOS为例）进入雪崩状态，电流路径由续流二极管维持。因此，电感器中存储的所有能量都转移到了被测件上。此时电感上能量即为设定的可控击穿能量，也即NMOS的雪崩能量（EAS）。

C.测试结果波形

TH530可捕捉被测设备的电压和电流波形，测试仪可将波形保存到测试结果文件中，在显示屏幕上用户最多可查看最近四次的波形数据。

为便于用户查看，测试仪默认同时显示电压电流波形，用户仍可触摸“电压”或“电流”来单独查看对应波形。

常州同惠微电子教学实验系统

>>>顺应科技发展，引领人才教育

科技是第一生产力，人才是第一资源。

教育的首要任务是快速提升人才培养质量，顺应新时代的发展步伐，从产业需求及国际形势出发，我国急需培养出一大批能够开展理论研究、半导体设计、掌握工艺流程以及研发管理的复合型人才，这就对高等教育的专业基础实践课程提出了更高的要求。

同惠电子成立以来一直专注于测量测试领域，结合自身在微电子和半导体领域的测量测试经验，多年的产学研合作经验以及上下游厂商对于人才能力的要求，针对性的设计了微电子实验系统，将实践落实到教学，测试理念引入到教学环节中，为微电子和半导体实践教学提供了新的方向。

微电子教学平台基本特点

1.丰富的实验项目

微电子教学实验系统提供了多达九种实验项目，涵盖了微电子学、集成电路设计等方面。这些实验项目旨在帮助学生全面了解微电子学的基本原理和集成电路设计的方法。

2.灵活的实验配置

根据不同的教学需求和实验课程设置，微电子教学实验系统支持多种不同的实验配置。学生可以根据自己的兴趣和需求选择合适的实验项目，进行个性化的学习和实践。

实验平台采用模块化设计，可根据不同教学需求、实验课程、方案预算等进行任意配置。

3.先进的实验设备

微电子教学实验系统采用了先进的实验设备和技术，如科技产品：半导体CV特性测试仪、数字示波器、双通道数字源表、信号源等，这些设备可以为学生提供真实的现实微电子设计、制造及测试环境，有利于学生毕业后更快适应微电子行业环境。

4.易于操作的学习平台

微电子教学实验系统采用了直观的操作界面和友好的人机交互设计，图文化教学使学生能够轻松地学习到微电子、集成电路、测试仪器的基本原理及实验操作。同时，实验台还提供了详细的实验步骤和故障排除指南，帮助学生解决实验过程中遇到的问题。

.微电子教学实验系统总体方案

1.肖特基势垒特性及杂质的测量

3.场效应晶体管直流参数测试

N沟道增强型MOSFET工作原理图

N沟道增强型MOSFET转移特性

N沟道增强型MOSFET输出特性曲线

4.PN结直流特性测试及PN结参数的变温测试

稳压二极管工作原理

稳压二极管伏安特性

5.双极型晶体管直流参数的测量

BJT共射极转移特性曲线

8.MOS器件动态开关特性测试

9.集成运放特性分析测试（上、下）

集成运放的符号

三．微电子教学实验系统仪器配置清单

四.微电子教学实验系统仪器技术参数

J400-624-1118

五．实验与课程

微电子教学实验系统支持下列实验及课程体系：

TH2852/TH2853

简要介绍

·TH2852/TH2853系列阻抗分析仪是常州同惠电子采用当前国际先进的射频IV法原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。

TH2852/TH2853系列阻抗分析仪也彻底超越了国内外同类仪器3GHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。

快达0.4ms的测试速度、及高达60kΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。自动电长度测量和测试端外置的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将射频IV阻抗测试能力突破3GHz达到5GHz。

尺寸/重量

体积（mm）：428 (W)×220(H)×280(D)净重：14kg

性能特点

·测试频率：1MHz-5GHz
·基本精度： ± 0 . 3 % (典型值）
·高精度：采用射频IV法，在GHz能仍保持很高的测试精度
·高稳定性和一致性
·高速度：最快达 : 0 . 4 { m s } / 点的测试速度
·高分辨：10.1英寸电容式触摸屏，分辨率 1 2 8 0 ^ { \star } 8 0 0
·点测、列表、扫描、等效电路分析，自动化分选
·1601点多参数列表扫描功能
·四参数测量
·4通道图形扫描功能，每通道可显示4条曲线，通道和曲线有14种分屏显示方式
·分析功能：等效电路分析、晶体振荡器分析、压电分析、曲线轨迹对比、介电常数分析（选件）、磁导率分析（选件）
·强大的分选：LCR模式10档分选
·图形扫描模式每条曲线单独分选，频率分段扫描并分选
·高兼容性：支持SCPI指令集
·集成史密斯圆图，不需要网络分析仪即可调试射频阻抗匹配
·测试头外置 ^ + 自动电气长度测量及校准，将晶圆、PCB高精度测试频率提高至5GHz

附件

应用领域

·无源元件：电容器、电感器、PCB电感、磁芯、电阻器、无线充电线圈、NFC/RFID感应线圈、音圈、助听器、电机线圈、晶振、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
·半导体元件：LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
·其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
·介质材料：塑料、陶瓷、印刷电路板和其它材料的介电常数和损耗角评估
·磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
·半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

功能特点

A.高精度

宽带射频IV法电桥技术的应用，得以在1MHz-5GHz频率、120mΩ-60kΩ的阻抗范围内都能达到理想的 10 % 测量精度，其中最高测试精度达 ± 0 . 3 % ，远远高于网络分析仪的测试精度。

B.高稳定性和高一致性

测试条件：速度5，输出功率-10dBm(141mV)，TH2852-1测试头被测件50Ω标准件。

C.高速度

同惠LCR数字电桥最快测试速度对比一览表测试速度(ms)

D.10.1时大屏，四种测量参数，让细节一览无遗 E.增强的列表扫描功能

10.1时触摸屏、 1 2 8 0 ^ { * } 8 0 0 分辨率，Windows10系统、中英文操作界面，支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口，带来的是无以伦比的操作便捷性。

大屏幕带来更多的好处是，可以把所有测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕，而且看起来绝不拥挤和杂乱，同时可以显示四种测量参数，四种测量参数任意可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数。

可以最多设置1601点的列表扫描，每个点可以单独设置测试频率、测试电压、直流偏置等测试条件。

最多可以4通道同时显示，每个通道可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有十四种分屏显示方法。

单通道四曲线显示

单通道单曲线

双通道双曲线显示

四通道四曲线

G.分段扫描功能

分段扫描是在一个扫描周期内，设置不同的频率分段进行扫描，扫描时可设置不同的电平及偏置，扫描结果直接图形显示，用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。

如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率，通过分段扫描功能可在特定频率范围内扫描测量，无需扫描不相关频率。

H.强大的光标分析能力

TH2852系列精密阻抗分析仪具有强大的光标分析能力，可以通过光标实现如下功能：

1.读取测量结果的数值 (作为绝对数值或者相对于参考点的相对值）
2. 查找曲线上的特定点（光标查找）
3. 分析曲线测量结果，计算统计数据
4. 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放

TH2852系列可以在每条曲线上显示10个光标，包括了参考光标。
每个光标有一个激励值（坐标系×轴对应的数值）和响应值（坐标系Y轴对应的数值）。光标查找功能允许搜索下列条件测量点：

最大值、最小值

峰谷值：峰值（极大值）、谷值（极小值）、光标左侧最近的峰谷值、光标右侧最近的峰谷值、多重峰谷值目标值：距离光标最近的目标值、光标左侧最近的目标值、光标右侧最近的目标值、多重目标值

I.强大的图形分析功能

1）曲线分选功能

可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断，常用于谐振曲线筛选如压电元件等谐振频率。

2）等效电路分析

现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件，等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。

可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲线进行对比，还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。

等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用。

3）曲线轨迹对比

曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量，所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用：

a）针对多种不同被测件
对比不同测量条件下的曲线轨迹
设置不同的频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值
b）针对同一个被测件
对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性
设置不同频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值
图表 数据频率 Cp-01 Bzd-01 Cp-02 0zd-02 Cp-03 Bzd-03
10.0000KHz 1.92628nF89.8309 dg 1.02621nF -89.8313deg 1.92618nF-8D.8307 deg 设置频丰
100.000kHz 1.91827nF89.7293deg 1.91825nF8.7304deg 1.91829nF89.7303 deg 130.000MHz
1.00000MHz 1.90820nF 89.2040deg 1.90815nF 88.2056 deg 1.90824nF892050deg
10.0000MHz 2.77719nF -82.9706 dg 2.77713nF8.086G8g 2.77729nF -82.9870deg 增加行
30.0000MHz -817.482 pF 71.9480 deg -817.508pF 71.9529 deg -817.532pF 71.9499 deg
50.0000MHz -237.232pF 66.3085deg -237.232pF 66.3086 deg 237.237 pF 66.308 deg 删除行
80.0000MHz -88.5954pF 63.4817 deg -88.5984pF 63.4726deg -88.5967pF 63.4813deg
100.000MHz -48.6229pF 58.6142deg -48.6203pF 58.6145deg -48.6203pF 58.8095 deg 计算
130.000MHz -15.6565pF 31.4636 deg -15.0696pF 31.4995deg -15.6337pF 31.4186 deg导出数据退出

J.介电常数分析（选件）

TH2852系列精密阻抗分析仪支持介质材料介电常数、介质损耗分析，需选购测试夹具及分析软件。

2.TH26089介质材料测试夹具

TH26089电介质材料测试夹具是设计在TH2852系列上进行准确的介电常数及介质损耗测量的夹具。通过使用平行板方法测量固态材料的介电常数，从而消除离散电容。

1）TH26089外形结构

2）基本参数

3）测试原理

非屏幕电极B

4）介电常数公式

{ \mathsf C } _ { \mathsf P } ：测试仪器测出的等效并联电容值（F）\mathfrak { t } _ { \mathfrak { a } } ：被测材料的平均厚度（m）A：屏蔽电极中测试电极的面积 ( \mathsf { m } ^ { 2 } ) 3d：屏蔽电极中测试电极的直径（m）\scriptstyle \mathbf { \varepsilon } _ { 0 } ：自由空间介电常数 8 . 8 5 4 x 1 0 ^ { - 1 2 } [F/m]

3.介电常数分析软件

该软件为选件，开通后在TH2852系列界面直接选择对应的参数即可，分别可以单测、列表扫描、曲线扫描，下图为曲线扫描界面。

K.磁导率分析

TH2852系列支持磁性材料磁导率测试，在主机的基础上，需选配测试夹具及磁导率分析软件，具体配置如下：

2.测试夹具

1）TH26088外型结构

2）TH26088磁导率测试夹具

TH26088可精确测量环形磁性材料的磁导率。由于该夹具的结构是环形线圈绕一圈（无漏磁），因此不需要绕环形线圈的导线，而且允许广泛的频率覆盖。它配有一个小型和一个大型夹具，适应各种尺寸，是测量磁性材料的理想结构。

3.测试原理

1）磁导率基本概念

磁导率是材料与磁场的相互作用，等于电感B（磁感应强度）与磁场强度H的比值复数相对导磁率 ( \mu ^ { \star } ) 由实部和虚部组成实部 ( \mu _ { r } ^ { \prime } ) ：储存电能虚部 ( \mu ^ { \mathfrak { n } } ) ：消耗能量也是真空导磁率 ( \mu _ { 0 } ) 的复数导磁率 \smash { \boldsymbol { * } \boldsymbol { \mu } _ { { ~ } } ^ { \star } } , ）损耗角正切tanδ为无效导磁率，是虚部 ( \mu ^ { { ~ \mathfrak { n } ~ } } \mathfrak { r } ) 和实部 ( \mu _ { r } ^ { \ast } ) 的比值

2）有效磁导率μ'、μ"。

采用电感测量法测量，在环形磁芯的磁芯上缠绕导线，并放置在一个密闭的圆柱形空间内（TH26088夹具），通过阻抗分析仪测量导线两端的电感（自感），根据测试电感量及下列公式推导出有效磁导率。

3）相对导磁率μ

J400-624-1118

4.磁导率分析软件

选择开通磁导率分析软件之后，仪器便可以在单测、列表扫描、曲线扫描中直接选择磁导率参数，直接在界面显示测试结果

· 交程 交流电光 1996 测量设置消量老泉 3 真记保置 0v
2 果电子 500 miV 均费 交流电压监控 429.0 gV 精发模式 ,98.1 L 触发延时
3 ur' 0.84171 文汽控
4 9费： 电视
s ur" -0.14904 0.00000 介质厚度0R3 福环高度
· KRtanδ -0.17706 P1 0.00000 建环外径
， 984 环内径//) 0.08587 Ω 退出

L.标配附件

M.选配附件

简要介绍

·TH2851系列阻抗分析仪是常州同惠电子采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的新高度。

TH2851系列阻抗分析仪彻底改变了传统国产仪器复杂繁琐的操作界面，基于Windows10操作系统，实现了全电脑化操作界面，让测试更智能、更简便。

TH2851系列阻抗分析仪也彻底超越了国外同类仪器120MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。

快达2.5ms的测试速度、及高达40MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。

应用领域

·无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
·半导体元件：LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDc特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
·其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
·介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
·磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
·半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

性能特点

·测试频率：10Hz-130MHz

·基本阻抗精度： 0 . 0 8 % ，典型值 ± 0 . 0 4 5 %
·高精度：采用自动平衡电桥技术，四端对测试配置
·高稳定性和一致性
·高速度：最快达2.5ms的测试速度
·高分辨：10.1英寸电容式触摸屏，分辨率1280\*800
·点测、列表扫描、图形扫描、等效电路、晶体振荡器分析五种测试方式
·1601点多参数列表扫描功能
·四参数测量
·自动电平控制（ALC）功能
·4通道图形扫描功能，每通道可显示4条曲线，通道和曲线有14种分屏显示方式
·分析功能：等效电路分析、晶体振荡器分析、压电分析、曲线轨迹对比、介电常数分析（选件）、磁导率分析（选件）
·图形扫描模式每条曲线单独分选，频率分段扫描并分选
·高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHTE4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

尺寸/重量

体积（mm）：428 ( \mathsf { W } ) { x } 2 2 0 ( \mathsf { H } ) { x } 3 2 5 ( \mathsf { D } ) 净重：14.5kg

附件

功能特点

A.高精度

宽带自动调零型自动平衡电桥技术的应用，得以在10Hz-130MHz频率、25mΩ-40MΩ的阻抗范围内都能达到理想的 1 0 % 测量精度，其中最高精度达 0 . 0 8 % ，远远高于射频反射测量法的阻抗分析仪、网络分析仪的精度。

B.高稳定性和高一致性

下图是在速度5、测试频率1MHz，测量100Ω电阻的曲线，由下图可见其轨迹噪声 <= 0 . 0 0 3 % 0 <= ± 0 . 0 0 1 5 \Omega , 1

C.高速度

同惠LCR数字电桥最快测试速度对比一览表测试速度（ms）0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 万 80 85 90
TH2852/TH2853TH2851 1TH2840TH2839TH2838TH2826 1T876TH2810+TL2812DTL2812DTH2810+TH2817+TH2816TH2826TH2830TH2828 TH2827TH2829TH2838 TH2839TK2840TH2851TH2852/K2853
速度（m） 84 19 19 33 5 13 32 13 9 5.6 5.6 0.56 2.5 0.4

D.10.1寸大屏，四种测量参数，让细节一览无遗 E.增强的列表扫描功能

10.1寸触摸屏、1280\*800分辨率，Windows10系统、中英文操作界面，支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口，带来的是无以伦比的操作便捷性。

大屏幕带来更多的好处是，可以把所有测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕，而且看起来绝不拥挤和杂乱，同时可以显示四种测量参数，四种测量参数任意可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数

可以最多设置1601点的列表扫描，每个点可以单独设置测试频率、测试电压、直流偏置等测试条件。

TH2851Precision Impedance Analyzer
1 测量频率 100 MHz 交流量程 Auto(50 Ω) 交流电流监控 15.89 mA 测量设置测量速度 3 直流置 0mV 测量频率
2 测量电平 500 mV 平均次数 1 交流电压监控 102.8mV 100MHz测量速度修费！E1
3 |Z) 6.47269 Ω 考 0.00000Ω 直流偏置快验2 测量电平 ,θz(deg) -61.42 deg 舞卡 0.00000 交 ,
5,
D R -3.09644 Ω 0.00000Ω 触发模式参数4 触发延时
7 关 0msX -5.68400 Ω 0.00000Ω 交直流监控退出BN1228开路 短路 负载编置关合格测量 2021-3-11 11:31:17

开路知路负载偏置关 不合格 测量 2021-3-11 11:00:56

F.强大的分析图形界面

最多可以4通道同时显示，每个通道可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有十四种分屏显示方法。

单通道四曲线显示

单通道单曲线

双通道双曲线显示

四通道四曲线

G.分段扫描功能

分段扫描是在一个扫描周期内，设置不同的频率分段进行扫描，扫描时可设置不同的电平及偏置，扫描结果直接图形显示，用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。

如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率，通过分段扫描功能可在特定频率范围内扫描测量，无需扫描不相关频率

12 \*参数如有修改恕不另行通知以最新资料为准

H.强大的光标分析能力

TH2851系列精密阻抗分析仪具有强大的光标分析能力，可以通过光标实现如下功能：

1.读取测量结果的数值 (作为绝对数值或者相对于参考点的相对值)
2. 查找曲线上的特定点（光标查找）
3. 分析曲线测量结果，计算统计数据
4. 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放

TH2851可以在每条曲线上显示10个光标，包括了参考光标。
每个光标有一个激励值（坐标系×轴对应的数值）和响应值（坐标系Y轴对应的数值）。光标查找功能允许搜索下列条件测量点：

最大值、最小值

峰谷值：峰值（极大值）、谷值（极小值）、光标左侧最近的峰谷值、光标右侧最近的峰谷值、多重峰谷值目标值：距离光标最近的目标值、光标左侧最近的目标值、光标右侧最近的目标值、多重目标值

1.强大的图形分析功能

1）曲线分选功能

可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断，常用于谐振曲线筛选如压电元件等谐振频率。

2）等效电路分析

现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四参数三种模型的阻抗器件，等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路模型用于等效这些器件。

可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲线进行对比，还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。

等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用

3）晶体振荡器分析（压电器件分析）

对晶体振荡器进行测量以及性能分析，测量计算后获取晶体的谐振频率、反谐振频率、品质因数等重要参数。

同时，对于其他压电器件如压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变压器、大功率超声波发生器、换能器（振子）、声表面波器件、电声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振频率、反谐振频率、机械耦合系数等参数。

开路短路数位编置测量2022-4-2714:07:29

4）曲线轨迹对比

曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量，所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用：

a）针对多种不同被测件
对比不同测量条件下的曲线轨迹
设置不同的频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值
b）针对同一个被测件
对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性
设置不同频率点，计算出所有曲线在该频率点的测量值

J.介电常数分析（选件）

TH2851系列精密阻抗分析仪支持介质材料介电常数、介质损耗分析，需选购测试夹具及分析软件。

2.TH26077介质材料测试夹具

TH26077电介质材料测试夹具是设计在TH2851上进行准确的介电常数及介质损耗测量的夹具。通过使用平行板方法测量固态材料的介电常数，从而消除离散电容。

1）外形结构

2）基本参数

3）测试原理

非屏幕电极B

4）介电常数公式

{ \mathsf C } _ { \mathsf P } ：测试仪器测出的等效并联电容值（F）
\mathfrak { t } _ { \mathfrak { a } } ：被测材料的平均厚度（m）
A：屏蔽电极中测试电极的面积 ( \mathsf { m } ^ { 2 } ) 1
d：屏蔽电极中测试电极的直径 ( m ）屏蔽电极A1： 3 8 x 1 0 ^ { - 3 } [m]屏蔽电极A2： 5 x 1 0 ^ { - 3 } [m]
\scriptstyle \mathfrak { E } _ { 0 } ：自由空间介电常数 8 . 8 5 4 x 1 0 ^ { - 1 2 } [F/m]

3.介电常数分析软件

该软件为选件，开通后在TH2851界面直接选择对应的参数即可，分别可以单测、列表扫描、曲线扫描，下图为曲线扫描界面。

K.磁导率分析

TH2851支持磁性材料磁导率测试，在主机的基础上，需选配测试夹具及磁导率分析软件，具体配置如下：

2.测试夹具

1）TH26086转接底座

用于将4端对转换成N型7mm底座，适配其他测试夹具如TH26088磁导率测试夹具。

TH26086为必选项，若未选购，TH26088将无法正确测量。

2）TH26088磁导率测试夹具

TH26088可精确测量环形磁性材料的磁导率。由于该夹具的结构是环形线圈绕一圈（无漏磁），因此不需要绕环形线圈的导线，而且允许广泛的频率覆盖。它配有一个小型和一个大型夹具，适应各种尺寸，是测量磁性材料的理想结构。

1）磁导率基本概念

磁导率是材料与磁场的相互作用，等于电感B（磁感应强度）与磁场强度H的比值复数相对导磁率 ( \mu ^ { \star } ) 由实部和虚部组成实部 ( \mu _ { r } ^ { \prime } ) ：储存电能虚部 ( \mu ^ { \ast } ) ：消耗能量也是真空导磁率 ( \mu _ { 0 } ) 的复数导磁率 * \mu ^ { \star } , ）损耗角正切tanδ为无效导磁率，是虚部 ( \mu ^ { { ~ \tiny ~ \mathfrak ~ { ~ * ~ } ~ } } ) 和实部 ( \mu _ { r } ^ { \prime } ) 和的比值

2）有效磁导率μ'、μ"。

采用电感测量法测量，在环形磁芯的磁芯上缠绕导线，并放置在一个密闭的圆柱形空间内（TH26088夹具），通过阻抗分析仪测量导线两端的电感（自感），根据测试电感量及下列公式推导出有效磁导率。

3）相对导磁率μ