9)宽光束成像仪Wide Beam Imager

集成散射体与成像透镜，用于测量大口径光斑或发散角较大的光源，例如LED,VCSEL等，入光口径达到 4 5mm 。

超大的光斑既不能适用于CCD相机直接探测，而大口径的缩束系统（望远镜）成本高、体积大、像差难以保证。将超大光斑入射到散射体上，再经过CCTVlens成像于CCD芯片上，是一种便利的方法。

10)焦点测量

敦光聚焦的焦点通常具备很高的强度，需要很大的衰减幅度才能直接测量；而工作距离（最长不能超过焦距）的限制又使得无法引入大量的衰减片。OPHIRFSA焦点测量附件用于直接测量高功率聚焦激光的焦斑，在紧凑的距离内提供 { \displaystyle 1 0 ^ { - 1 0 } } 的衰减率。

·最短可支持 7 3mm 焦距
·无畸变直接焦斑探测
·可调衰减率，最高可达 { \boldsymbol { 1 0 } } ^ { - 1 0 }
·最高可测400W激光功率（搭配HP配件最高可到5KW)
·最小可测 3 7 \mu { m } 光斑
·狭缝扫描光束分析仪

2.2狭缝扫描光束分析仪

扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝/小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝/小孔的位置，复原整个光斑的分布。

扫描式光束分析仪的优点：

·取样尺度可以到微米量级，远小于CCD像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；
·采用单点探测器，适应紫外\~中远红外宽范围波段；
·单点探测器具备很高的动态范围，一个探头可同时适应弱光和强光分析。

扫描式光束分析仪的缺点：

·多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；
·不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。
扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备独特的优势。

NanoScan2s系列狭缝扫描式光束分析仪，源自2010年加入OPHIR集团的PHOTONINC。PHOTONINC自1984年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案。

特点和功能：

·可测量连续激光以及大于1kHz重频的脉冲激光
·取样间隔可以调节小到 5 . 7 { n m } ，使其能够极其精确地测量非常小的光斑，
·可显示2D/3D光斑形貌
·扫描速度可调谐
·16位数字化信号采集，35dB高动态范围， 2 0 H z 最刷新频率
·支持用户进行二次开发，便于集成
·探头可添加功率计选项
·硅、锗和热释电探测器可选，测量范围可覆盖很宽的光谱范围和
功率级别
·不加衰减就可以测量较高功率或焦点处光斑
·所有的NanoScan的校准都可以朔源NIST标准以确保最终的精度
·符合国际标准ISO/DIN11146及ISO13694。（1989\~1996年，Photon 公司主持了ISO/DIN委员会的工作，制订出了ISO/DIN11146标准）

软件功能：

NanoScan提供Standard与Professional两种功能版本：

2 . 3 M ^ { 2 } 分析仪

2.3.1M测试简介

M ^ { 2 } 为表征激光传输品质的无量纲数值。其数学定义为：

实际光束束腰宽度 x 远场发散角M²=理想高斯光束束腰宽度 x 远场发散角M ^ { 2 } { = } / { π D _ { 0 } θ _ { 0 } } { 4 λ }

其中： D _ { 0 } 、 θ _ { 0 } 和 λ 表示实际光束传播过程中束腰直径、发散角和波长。

1988年，A.E.Siegman利用 M ^ { 2 } 较科学合理地描述了激光光束质量，并由国际标准组织 (ISO)采纳。 M ^ { 2 } 的定义避免了其他描述光束传播特性的参数如BPP、β、发散角等对波长、口径等参数的依赖，且在光束的 M ^ { 2 } 经过理想光学系统后不会变化，使得不同激光器可以横向比较，使得它成为表征激光光束传输质量的业界通用指标。

按照ISO/DIS标准， M ^ { 2 } 测量不能单独取光路中某一个点的光束参数来确定，它需要先用已知焦距透镜将光束聚焦，通过测量多组束腰位置和远场位置光斑大小以及发散角从而得出 M ^ { 2 } 值。

为了提高 M ^ { 2 } 测量精确度，在束腰位置处测量5个光斑大小和在远场位置（至少两个瑞利长度的距离）处测量5个光斑大小是非常有必要的。这种多次测量模式，一方面确保最小光斑位置可以被找到，另一方面提高了测量结果的精确度。

激光束通过聚焦透镜的光束特性

M ^ { 2 } 测量位置

根据ISO标准，为确保 M ^ { 2 } 及束腰位置准确性，测试过程中透镜相对于光束的位置不能变化，而需要扫描的是光束分析仪与透镜之间的距离。

2.3.2BeamSquared全自动M²分析仪

Spiricon为全球最早推出自动化 M ^ { 2 } 测试仪的公司，其经典型号 M ^ { 2 } -200已成为行业标准测试设备。历经数次迭代革新，全新推出的 M ^ { 2 } 分析仪BeamSquared，自动化程度更高、体积更小、测量速度更快，是激光器研发制造、工业及医疗激光评估的必备设备。

主要特点：

·速度快：1分钟内出结果；
·含自动衰减器；
·连续和脉冲激光均可测量；
·折叠腔，体积小巧；
·全自动分析激光光束质量：光斑大小、能量分布、质心、峰值中心、高斯拟合度、光斑指向稳定性、 M ^ { 2 } 因子、发散角等，所有结果均符合ISO标准；
·一维、二维、四维成像;
·并可输出PDF测量结果报告以及多种格式的日志，
·专利UItraCAL逐点背景扣除技术可得到高精确度测量结果，所有测量参数符合ISO标准，可追溯至NIST标准。

工作原理

BeamSquared包含自动衰减器、束腰生成镜、反射镜和相机四大部分。

精密准直的双程直线扫描光路提供在较短空间内的长行程快速扫描，配合不同的透镜、探测器覆盖宽范围的波段。更新的自动衰减器可提供 N D 1 . 0 ~ 4 . 8 连续可变衰减倍率，保证近场、焦点、焦前焦后都能以最佳的强度进行测量。Spiricon标志性的UItraCAL本底校正处理，在每个测量位置都执行一次，确保光束半径测量的准确性。

BeamSquared 提供四个型号，BSQ-SP204s、BSQ-XC130为自动化系统，分别适用 2 6 6 ~ 1 1 0 0 { n m } 以及 9 0 0 ~ ~ 1700nm范围；BSQ-A不包括相机，用于已有Spiricon光束分析仪的用户升级使用；BSQ-PY-M是手动测量 M ^ { 2 } 的软件系统，配合PyroCAM系列相机，实现交互式手动 M ^ { 2 } 测量，主要用于红外波段。

2.4高功率激光在线光束分析仪

高功率激光在使用中，功率和能量、聚焦特性共同决定了最终的使用效果。通常需要考虑的因素有：

·焦斑尺寸和形貌：直接决定聚焦所能达到的功率密度；
·焦斑的位置：决定材料加工时定位是否准确；
·锐利长度：在焊接/打孔/切割等应用中，激光需要以较小的光斑穿透一定的深度。
而在高功率激光系统中，因为激光器、光学系统、加工工件的漂移与变化，上述焦点特性常常发生变化；针对激光焦点前后的全面特性进行测量或监控，对激光加工系统的设计验证、激光加工参数配比确定、在线系统状况监测都非常有必要。
这种监控需要直接对高强度的激光焦点附近进行测量，而很多时候这种测量要求是在线的现场测量。

2.4.1BeamWatch非接触式大功率激光焦点分析仪

OPHIR专利的BeamWatch非接触式轮廓分析仪通过测量瑞利散射，精确捕获和分析波长范围为 9 8 0 \mathsf { n m } - 1 0 8 0 \mathsf { n m } 的高功率工业激光。
该分析仪包括全穿透光束测量技术、无运动部件、轻便紧凑型设计等特征，非常适合于高功率工业激光进行全面分析。

BeamWatch软件

2.4.2BeamWatch Integrated

BeamWatch Integrated在BeamWatch基础上，在特定位置集成了功率探头，可以实时在线测量激光的焦点分布和功率。BeamWatch Integrated分别为150/500两个型号，功率探头距离焦点的距离分别为1 5 0 {mm } 和 5 0 0 \mathsf {mm } 。

主要特点：

·光束腰尺寸最小45um；
·非接触式，功率级范围为1kW至100kW以上;
·千兆以太网接口;
·包含BeamWatch 终端用户或技术员分析软件；
·支持在线实时测量;
·可以和功率计集成；

2.4.3BeamWatchAM增材制造专用激光焦点分析系统

BeamWatchAM是一款集成的激光测量系统，用于测量激光增材制造系统的关键激光束参数。包括腰（焦点)宽度和位置、焦点变化、重心、 M ^ { 2 } 、瑞利长度、倾角等。BeamWatchAM测量技术是基于激光在传播时，空气中氧和氮分子对激光产生瑞利散射。对这种散射光的测量提供了对激光束在观察视图方向上的分析。同时BeamWatchAM内部集成了一个功率计，可测量激光功率。

主要特点：

·光束腰尺寸最小 5 0 \mu { m }
·功率级范围为30W至1000W以上·可测量激光焦点宽度、位置、漂移以及倾斜角度等；
·支持实时在线测量;
·包含功率测试功能；

2.4.4BeamPeek增材制造激光分析系统

BeamPeek集成了激光采样光路，CCD光束分析仪，激光功率计，体积紧凑可直接放置于工位，在近场或焦点处直接探测激光功率以及分析激光光斑，采用被动散热，可测量最大1000W的增材加工激光不大于2分钟，然后自然冷却后进行下一轮测试。

2.5高精度焦点分析仪

以超快、紫外激光加工和表面处理为代表的激光应用已经进入了微纳尺度。激光焦点光斑的尺寸、形状以及光束质量直接决定了加工精度和加工质量。Zolix卓立汉光FSA（Focal Spot Analyzer）系列激光焦斑分析仪是专门为高要求的激光应用开发的焦斑参数分析系统，适用于百飞秒、皮秒、纳秒、CW激光。

FSA 系列焦斑分析仪有效整合了采样镜，高分辨率、高成像质量和高损伤阈值的物镜系统，高倍率衰减光路和专业的光斑分析仪等。精密的机械加工造就了抗干扰的光路系统，能够避免繁琐耗时的外光路搭建和调试。同时在选件和选材上充分适应各类用户的实际应用和实际环境，避免了大量低效益的支出，具有极佳的性价比。整机结构紧凑，小巧坚固；存放、移动和安装十分便捷。可用于多个机台灵活测试，也可用于长期实时监控机台变化。模块化的结构可为客户提供各种灵活实用的定制型号

焦斑分析仪简介

·综合考虑了整体空间利用率、偏振不敏感以及对镜头的保护等因素。
·采用35mmJGS1熔石英双楔，有效通光孔径大于 2 0 m { m } ，偏振方向不敏感。
·一个或多个高品质镜头，确保测试精准。
·内部免调试固定光路，标配四维线性平移台，可选二维旋转台，也可单买主体部分。
·标配定位转接板，拥有四种安装方向。
·软件包含完整的ISO标准功能：
(a）一维、二维彩色、四维直观显示焦斑形貌，优劣即时了解；(b）出厂放大率校准，直读焦斑尺寸；
(c）完整的光斑参数计算功能：直径、中心、重心、椭圆度、功率/能量密度计算（需要Ophir的功率计/能量计配合）；(d）可选配：高斯拟合、焦点位置稳定性测试等。
·特色功能：软硬件支持焦距微调能力，我方工程师和客户可籍此现场矫正实际放大率，适应由于波长变化、中性片光程差异或其他原因导致的放大率变化，确保测量精准。
·功率密度/能量密度较大，NA小于0.05（约3°），且焦点之前可利用距离大于 style 1 0 0 { \mathsf {mm } } ，应当考虑使用本型号。
·L型焦班分析系统的标准版，采用双楔，镜头在双楔之间。
·综合考虑了整体空间利用率、对镜头的保护等因素。
·可进一步升级成为双楔在前的型号，以应对特别大的功率密度/
能量密度。
·合适用户：科研和工业的传统激光用户，高功率高能量激光用户，超长焦透镜用户，小NA客户。
·功率密度/能量密度较小，或/和NA大于0.05（约 3 ^ { \circ } ），或/和焦点之前可利用距离小于 \scriptstyle 1 0 0 { \mathsf {mm } } ，应当考虑使用本型号。
·比STD更好调节；物镜更容易打坏。
·L型焦班分析系统，采用双楔，镜头在双楔之前。如遇弱光，可定制将双楔换为双反射镜。
·02型机架不用匹配镜头尺寸，通用，可按需选择镜头。
·非常方便对焦。
·合适用户：使用小于 \scriptstyle 1 0 0 { \mathsf {mm } } 透镜甚至显微镜头做物镜的用户(表面精密加工）；LD/LED+微透镜的生产线做质检

2.5.1STD型焦斑分析系统

2.5.202型焦班分析系统

2.5.3激光采样衰减器

3.波前位相测试

光束传输中的“波前"通常指等相位面的几何位形，“波前畸变"则指的是该几何位形与高斯光束波前面型的差异。而波前位相畸变则指在传输横截面上的位相分布与理想高斯光束截面位相分布的差异；大多数时候这两个概念可以等效使用。

通常而言，波前位相偏离理想光束会导致发散角变大、聚焦性能变差、成像质量变差等。

如果准确地知道光在某个截面上的振幅和位相分布，那么光在之前、之后的传输特性均严格可知，所以在激光研究和应用中，对波前位相进行测量是一种完整地评估光束质量的方法；而常规的光斑分布测量、发散角测量、M2测量则只能给出部分的信息。

波前位相测试可用如下领域：

·激光领域：超高能激光合束及光束质量评估；工业激光质量评估，包括光强分布、束腰尺寸及位置、发散角、Strehl比、M2、β 因子等测量，还能做特殊的单发激光器M2测试分析等；量子计算等光学系统里的光路对准及波前测量等；
·光学制造领域：光学元器件的组装，包括光学系统装配计量，实时光学对准，在轴/离轴特征分析，如MTF/PSF的自动测量；
·微纳材料加工领域：超表面超透镜性能测试；3D表面形貌测量；光波导测量和折射率mapping；激光损伤阈值计量；
·显微成像领域：通过定量相位成像技术，提供生物科学和材料科学的应用，例如：细胞学应用，光热成像，材料折射率变化mapping，超材料计量，梯度指数(GRIN)光学等；激光等离子体密度测量；气体密度测量；
·消费类电子产品领域：AR/VR里的超透镜测试、光学元件准直和校准；智能手机里的成像镜头质量控制、镜头集成优化、非成像传感器质量控制；
·天文航空领域：激光导星全参数测量；天文望远镜对准；变形镜计量；
·汽车制造领域：自动驾驶里的挡风玻璃、激光雷达窗片、滤波器的透射波前误差测量；自动驾驶ADAS 激光雷达系统测量；自动驾驶 ADAS物镜基准化计量；
·半导体加工领域：半导体加工生产系统里的光路对准及系统计量;

3.1波前传感器SID4

简介

波前传感器用于测量激光波前的位相。其测量方式是将激光截面光斑分割为若干个小区域（取样），每个小区域经过特定的位相元件，将位相信息转化成空间信息并由成像器件探测；成像器件探测到的图像经过反演即可获得激光传输截面上位相的分布。

多年以来哈特曼光阑（Shack Hartmann Mask）被广泛用于波前传感，其取样元件是微透镜阵列。激光传输截面上，在波前倾斜的位置波矢方向也会发生变化(波矢总是垂直于等相面)，将导致激光经过微透镜后的焦点发生偏移，其偏移量正比于取样点位相的空间变化率

这种波前传感方式的缺点主要是：

·成像器件（CCD）需要最少16个像素才能计算焦点的重心，导致分辨率（对位相在空间的取样率）有限；
·微透镜有色散，对不同波长的焦距不同，而位相检测要求严格地测量焦点位置，故一台传感器只适合很小的波长范围，且不适合宽带宽激光(如超宽脉冲激光）；
·对于畸变较大/波前曲率较大的光束，焦斑可能跃出成像器件上的限定范围，导致无法测量；同理，也不适合倾斜波前（斜入射）测量。法国PHASICS公司推出的四波剪切干涉波前传感器，采用二维位相光栅取代微透镜阵列，利用一阶干涉信号的傅里叶变换复原波前位相，将波前传感的性能提升到新的高度：
·高空间分辨率，可达 8 5 2 x 7 2 0 （哈特曼光阑通常 < 1 0 0 x 1 0 0 ) ：
·高动态范围可达 5 0 0 \mu { { m } } ，可直接测量球面波，可在光束任意角度、任意位置测量；
·无色散，响应波长范围只取决于相机，可测量宽带光源、空间啁啾光源；
·对近场强度分布不敏感；
·单次测量可同时获得位相和振幅分布；通过严格的数学，单次测量可获得 M ^ { 2 } 、像差系数、发散角、焦斑及焦深等完全信息；
·可达 \scriptstyle 1 0 \mathsf { n m } (/63 \ @ 6 3 2 . 8 { n m } ）位相精度，1nm位相分辨率。

波前测试原理；左：哈特曼光阑；右：四波剪切干涉

PHASICS公司提供SID4系列波前传感器，覆盖紫外 ~ 中远红外波段，主要应用包括：

·激光：激光光束质量测量、自适应光学、激光系统准直、气体与等离子体密度测量；
·光学计量：镜头与镜头组检测、光学系统准直、表面面型分析、广角视场镜头检测、滤光片及偏振片表征、特种波长光学元件表征、超表面及超透镜测量、外场/真空等环境波前计量；
·定量相位成像：细胞学、组织学；
·微纳材料检测：三维表面分析及断层扫描、光波导结构及折射率分析、激光损伤阈值测量、纳米结构与光热

1)可见光波段波前传感器

2)紫外波段波前传感器

^ { 3 ) } 红外波段波前传感器

4)超快速波前传感器

3.2SID4用于激光测量

激光光束质量评估

SID4几乎可在激光传输路径中的任意位置、以任意角度、测量各种激光（包括球面传输的激光，如光纤出光、聚焦透镜后的激光）的波前位相和振幅，并得到完整的传输特性。所有这些测试都只需要一次曝光。适用于紫外～中远红外激光。

自适应光学

受益于四波剪切方法可以测量发散光束的特征，强激光自适应光学系统中，SID4可以直接放置于聚焦元件之后，使得像差测量包含聚焦元件的面型波差。其中SID4-V可以置于真空靶室内。

气体与等离子体 密度检测

传统 M ^ { 2 } 测试（左）需沿至少10个点测试；位相测量（右）只需一次测试而且同时得到近场、波相差等

激光测试：波前（左）、近场光斑、传输与 M ^ { 2 }

SID4系列具备高精度检测相位变化的能力，即使稀薄的气体或等离子体引入的相位变化也可灵敏地检测到。这个特性可以用来测量喷嘴的喷气密度或激光等离子体、放电等离子体的密度分布。

传统（位置1）与SID（位置2）自适应光学焦点优化取样点示意

传统方式（左）与SID4（右）自适应光学所获得的光斑效果

喷气密度（上）及激光等离子体（下）密度成像

等离子体密度（左）、气体密度（中）、等离子体电离前沿（右）成像

3.3传递函数 (MTF) 测试系统

Kaleo MTF工作站是专为成像镜头研发、生产而设计的全自动MTF测试系统，可用于镜头设计、原型制作、生产质检等各个步骤。KaleoMTF综合了干涉仪和传函仪的功能，提供完整的镜头特性评估：同轴/离轴MTF、相对照度、多种波长下的波差；即使在高主光线角（CRA）和大视场角（FOA）的条件下，仍可保持高精度。

·单发测量
·全自动测量
·离轴测试无需重新准直
·易于准直
·自动对焦
·手动/电动样品架
·支持多样品架
·精度与干涉仪对等
·直至截止频率的MTF测量
·多波长测试
·高品质准直光源
·多光轴测试

优势：

KaleoMTF配备全套自动机构，可自动实现进出料、多样品切换选择、离轴测试等。

功能：

·在轴/离轴MTF
·Through focus MTF
·透过波相差
·泽尼克多项式系数
·镜头参数:EFL，F#
·镜头出瞳OPD
·像散
·畸变
·场曲
·相对照明

波差测量(左），MTF测量(中），像差分析 (右)

不同波长的彗差、畸变、MTF、透过率曲线

3.4.动态干涉仪

·紫外、可见、近红外、短波红外、中远红外等多个
波长可订制
·纳米级位相分辨率
·超高动态范围， > 6 0 0 条纹数

有别于基于传统Fizeau干涉仪的方法，采用位相检测方法直接构建的动态干涉仪既不需要移动待测元件多次曝光，也不需要采用偏振等复杂的光学手段，针对待测元件进行一次测量即可获得其反射面型或透过波差；Kaleo-Multiwave多色动态干涉仪可用于光学元件面型检测、透过波差测试、大型望远镜系统测试及实时调整等。大动态范围像差测试能力使其可测平面/球面波而无需中继镜，无色差检测能力允许使用多个波长甚至白光进行测试。

Kaleo-Multiwave集成了可切换波长的准直光源，可以对大口径镜片进行直接或对比测量。

Fizeau干涉仪（左）与Kaleo-MTF（右）测试镜片结果比较

3.5自定义光学计量方案

高性能光学元件/光学系统是多种多样的。PHASICS提供基于SID4波前传感器、R-Cube光源及双路分光模块、成像模块等构建的组合测试方案，方便用户根据待测物的特性（如口径、焦距等）订制光学计量系统。

1)R-Cube

R-Cube是一个双通路光源模块，具备激光入口、准直光出口、位相传感器适配口，内置高品质分光镜及准直器。

可根据要求选择光源波长，高品质准直光源通过出瞳后可用于待测元件照明。经出口返回R-Cube内部的光由SID-4位相传感器测量。

出瞳光束可配置物镜构成点光源/球面光束，或扩束器以实现大口径光斑。

·兼容SID4/HR/UV/SWIR/SWIR-HR/DWIR等传感器 ·校准镜光学质量：入/20 @ 632.8nm·有效光束口径：与传感器匹配 ·位相分辨率：<2nmrms·可选光源：365\~3900nm多种波长

测试光路

典型光学元件计量的光路可以R-Cube和SID4为核心灵活搭建：

·Telescope alignment and characterization

凹面镜计量

·Large diameter flat optics characterization: Filters,Windows,Polarizing optics

大口径平面透射元件计量

望远镜评估与校准

·Large diameter lens&objective measurement in any configuration <br>大口径透镜/物镜计量

(以上各图中:1-SID4 波前传感器；2-R-Cube；3-扩束器；4-聚焦物镜；5-标准/参考镜面；6-待测件)

搭建步骤

用户只需要四步构建专属测试系统：第一步，选择SID4传感器：

离轴透镜测量

第二步，选择R-Cube光源：

365，405,530,625,740,780,810,850,940，
1050,1550,3900nm，并提供其它波长订制；

用户可在灵活选择后自行组件光学计量系统，也可由PHASICS设计底板、外壳后整机交付：

3.6定量位相成像

相衬成像是生物领域广泛使用的技术，可以对吸收均一但折射率有起伏的样品进行无标记成像。

有别于传统的相衬成像（在显微成像系统中插入位相板）只能展现位相越变边界处的结构，定量位相成像可以高分辨率完整地检测样品位相的细微变化，充分利用生物细胞、组织等的相位衬度；同时，还能通过位相变化测量其他样品的表面深度、折射率变化等。定量位相成像是一种有非常大潜力的成像技术。

PHASICSSID4Element是1:1高分辨率的位相成像组件，可直接插入用户的成像系统与已有相机中间，将传统成像系统改造为定量位相成像系统；SID4-sC8则是一体式位相传感器，为适合生物用户需求，采用了大面阵、高分辨率、高动态范围、高灵敏度的sCMOS相机。

细胞定量位相成像 (左）和明场显微像(右)

定量位相成像CT (组织四维成像）<br>透明波导折射率分布横向与截面测量

位相成像用于激光损伤研究一损伤的更早诊断

微纳结构光热成像一一通过反射位相变化测量温度分布

4.激光波长计及频谱仪

在激光器应用中，波长及光谱的测量涉及跨度很大的光频谱分析：从 < k H z （204号 ( 1 1 x 1 2 ~ 3 . 3 x 1 0 ^ { - 9 } \mathsf { n m } @ 1 \mu \mathsf { m } 中心波长）甚至更窄的线宽到超快激光上百nm带宽的光谱。除<MHz线宽的激光器一般采用较为复杂的自外差方法测量外，常规基于干涉仪的激光波长计、频谱仪可满足窄线宽激光的测量要求，而对于宽带宽激光则可使用光栅光谱仪。

激光波长/频谱的测试应用场景包括：

·光通讯载波的波长和线宽；DWDM波长分布； ·原子分子物理中超窄线宽激光器的初测; ·超快激光器光谱分析；
·通讯/传感载波的边模和噪声分析； ·干涉/全息等应用对激光器线宽的精确测量；·医疗激光认证及检验检疫；
·TDLAS/遥感遥测中激光器频率的实时测定； ·激光器研发、制造、质检； ....

先锋科技提供基于迈克尔逊干涉仪、菲索（Fizeau）干涉仪的激光波长计、光频谱仪产品，以及光栅光谱仪产品。

4.1BRISTOL激光波长计及频谱仪

美国Bristol公司团队和技术源自老牌波长计厂家Burleigh，是世界上著名的高精度激光波长计生产厂商，具有超过二十年激光波长计开发生产经验。

干涉仪式波长计采用迈克尔逊干涉仪或菲索干涉仪，通过待测激光干涉条纹与干涉臂位移关系的测量来测定激光波长。干涉仪的精度由已知确定波长的标准激光器校准。

得益于内置标准波长激光实时校准，Bristol激光波长计具备业界领先的热机速度而且无需定期校准；大多数波长计采用光纤输入或可选配光纤输入，免去干涉仪需要精确准直的烦恼。所有机型采用USB与电脑连接，但其干涉信号处理均在波长计内部完成，只有计算结果传输至电脑，从而实现较高的数据采样率。

1)连续激光波长计-671系列

671系列是通用性激光波长计，可测量可见～红外连续或准连续激光。

产品特点：

·用于测量连续激光或者准连续激光器，绝对准确度高达（204号 ± 0 . 2 \mathsf { p m }
·内置稳频HeNe激光器实时校准，可以防止震动、温度变化对波长计的影响，完全无需人工干预；
·工作范围375nm-5um;671B可达 1 2 \mu { m }
·具有检测输入激光功率的功能
·便捷的预准直光纤输入口；

871系列脉冲激光波长计的特点是即可以测量连续激光也可以测量脉冲激光，可达 ± 0 . 2 \mathsf { p m } 的绝对准确度，既可以测脉冲激光波长也可以测连续激光。除了激光生产研发单位有广泛应用外，做高精细光谱的科研用户也有广泛应用，包括高精细光谱实验室确认严格激发波长如定标染料激光器、窄线宽OPO激光器的真实波长；全天候激光雷达定标激光中心波长位置等应用。测试范围涵盖 3 7 5 - 2 5 0 0 { { n m } } 常用波段，内置校准用HeNe激光实时校准波长。

3）872A高精度激光波长计

872A高精度激光波长计同样采用菲泽尔干涉仪，既可以测量脉冲激光也可以测量连续波激光，其测量重复频率高达1kHz，波长测量分辨率高达 2 0 0 k 1 - 1 z ，通过其标配的PID控制器，非常适合于各类激光器的稳频工作，由于其可自适应 3 7 5 - 1 7 0 0 { n m } 波段内的激光，客户在切换不同波长做稳频工作时就无需切换与调整相对应的分子吸收池，真正做到了稳定与方便合二为一。

优势特点

·用于测量脉冲连续激光，可达 ± 0 . 2 \mathsf { p p m } ( ± 0 . 2 \mathsf { p m } ) 的绝对准确度
·内置HeNe激光器实时校准，完全无需人工干预
·工作范围可见光-红外
·高达1kHz的测试频率
·便捷的光纤输入口
·USB接口电脑通讯，可用于二次开发

优势特点

·200kHz稳频分辨率 ·单模光纤输入方便接驳待稳频激光 ·1kHz采样频率快速跟踪激光波长漂移 ·USB接口与PID控制器 ·375-1100nm，630-1700nm覆盖范围

3)高精度光频谱仪-771系列

优势特点

·既可测量激光波长，又可同时分析激光的频谱信息
·可以获得高精细度激光纵模结构，纵模稳定性，激光线宽等信息
·波长绝对精度高达 ± 0 . 2 \mathsf { p m }
·内置HeNe激光器实时校准
·工作范围可见光－远红外可选
·便捷的光纤输入口
·USB接口电脑通讯，可用于二次开发

波长计能够以亚ppm的精度确定激光的中心波长，但无法获知线宽或光谱信息，同时对激光输入的线宽有限制。干涉式光频谱仪可以分析激光的频谱，适合需要了解激光的线宽和线形、谱线分布、边模等特性的应用。

4 ) 中远红外光频谱仪-772系列

优势特点

·既可测量激光波长，又可同时分析激光的频谱信息
·可实现低至 5 0 H z 的低重频激光频谱分析
·可以获得高精细度激光纵模结构，纵模稳定性，激光线宽等信息
·4GHz光谱分辨率
· ± 0 . 0 1 \mathsf { n m } 波长准确度
·内置HeNe激光器实时校准
·工作范围 1 \mu { m } - 1 2 \mu { m }
·便捷的光纤输入口
·USB接口电脑通讯，可用于二次开发

772B-MIR激光光谱分析仪将成熟的迈克尔逊干涉仪技术与快速傅里叶变换分析相结合，可以测量1至 1 2 \mu { m } 范围内的连续激光和脉冲激光的光谱特性。772B-MIR系统的独特之处在于它可以测量重复频率低至50Hz的脉冲激光。

4.2掌上式波长计、光谱仪

MOGLabs公司推出的经济型、迷你尺寸的波长计和光谱仪，分别满足ppm级别准确度的波长测试和 0 . 0 2 \mathsf { n m } 级别分辨率的光谱测试，为精密光谱、窄线宽激光器应用等领域用户提供经济、便利的波长测试解决方案。

1) FZW6000激光波长计

特性

400\~1000nm无需校准
·600MHz绝对精度（3o）；典型测量精度 { < } 2 0 0 M H z
·全功能一体式设计，可独立运行
·USB或充电器供电
·以太网及USB接口
·固态熔石英 Etalon500次／秒采样率

选件

·FC/PC或FC/APC输入规格 ·FZW4四路光纤交换机 ·FZW8八路光纤交换机

FZW6000是一台菲索干涉仪，可测量 4 0 0 ~ 1 1 0 0 { n m } 激光波长。小巧的体积集成了显示屏，可直读测量结果，也支持以太网和USB电脑介面。

FZW4/FZW8为MOGLabs提供的4路/8路光纤交换机。配合波长计使用可切换测试多台激光器。同时，FZW4/FZW8还为每路测试提供了PID控制器，可直接用于反馈机构控制。

2)MWM高分辨率光谱仪

特性

·pm(GHz）精度
·pW灵敏度
· 3 7 0 { n m } ~ 1 1 2 0 { n m ^ { * } }
·瞬时识别多模状态
·高达1250次/秒测试速率
·适用连续及脉冲激光
·内置PID反馈，模拟输出
·自主设备，内置显示，可电池驱动
·支持USB及以太网界面

应用

·激光频率测试
·识别激光多模运转
·判断吸收线
·气体光谱
·拉曼荧光
·\*每台光谱仪覆盖约 2 0 \mathsf { n m } 波长范围

MWM识别ECDL的两个相距约 0 . 1 { n m } 的纵模

MWM是一台高分辨率的微型光谱仪。其输入灵敏度可低至pW，而光谱分辨率达到pm量级。可通过面板直读也可用电脑采集。

4.3小型光栅光谱仪

小型光栅光谱仪可用于测量较宽光谱的光源，例如飞秒激光器、LED、半导体激光器等。AVESTA生产的 7 5mm 焦距、 1 5 0 {mm } 焦距光谱仪及红外光谱仪，尺寸介于掌上光谱仪与大型光栅光谱仪之间，中心波长可选/可调节，兼顾分辨率与覆盖范围，适合飞秒激光测试等既要求足够的覆盖范围也要求足够的分辨率的应用。

1)紫外-近红外系列

ASP-75、ASP-150分别为 7 5mm 焦距、 1 5 0 {mm } 焦距的小型光谱仪，采用阵列式探测器。
ASP-75可指定中心波长，而ASP-150可通过旋转光栅转换中心波长。

2)红外扫描光谱仪

ASP-IR采用红外单点探测器，扫描式探测。光谱仪支持脉冲信号同步，可测试低重频的重复输出红外激光。

4.4掌上型光谱仪

美国 StellarNet公司专业生产掌上式光谱仪，覆盖 1 9 0 ~ 2 6 0 0 { n m } 。
采用不同的光栅、探测器，覆盖范围可达 9 0 0 \mathsf { n m } ，分辨率可低至 0 . 0 5 \mathsf { n m } 。

5.激光防护

在任何激光器运行的场合，人身安全防护都拥有最高优先级。

美国Laservision公司成立于1995年，是全球知名的激光防护产品制造商，产品经NIST或CE认证。

产品包含：激光防护眼镜、激光防护窗、激光防护帘、激光防护墙、激光防护面罩等系列产品，远销全球各地，广泛应用于医学，工业，科研和军事等领域，被客户所认可。

·激光护目镜：吸光度值（OD值）高达 ^ { 1 3 + } ，为用户提供最卓越的防护性能；
·激光防护窗：拥有多种尺寸和防护等级，便于系统集成，亦可根据用户要求订制；
·激光防护帘：均按照美国ANSIZ136.1标准进行测试，最大可承受300W/cm的激光功率密度；
·激光防护墙：双层铝并内嵌聚合物结构，最大可承受10000kW/cm2的激光功率密度。

激光防护眼镜

P5B02 聚酸酯 OD2 @ 532nm T5B02 玻璃 OD 1+ @ 400-700nm聚碳
P5B03 酸酯 OD1@ 633nmP5H02 聚碳酸酯 OD 5+ @ 700-820nm
P5D04 聚碳 OD 5+ @ 9000-11000nm酸酯OD 6+ @ 585-600nm OD 3+ @ 630-690nm
P5E02 聚酸 P5E03 聚碳酸酯OD 5+ @ 600-605nm OD 6+ @ 690-710nmOD 4+ @ 2050-3000nm OD 9 + @180-315nm
P5D07 聚酸酯 T5E02 玻璃OD 5+@ 10600nm OD ^ { 8 + } @315-532nmOD 7+ @ 190-565nm OD 7+@ 190-315nm
T5E06 玻璃 P5E01 聚碳酸酯OD 5+ @ 565-578nm OD 6+ @ 315-532nmOD 3+@ 810-940nm OD 5+ @ 190-375nm聚碳 OD 4+@ 940-980nm OD 4+ @ 730-855nm
P5C02 酸酯 P5F01 聚碳酸酯OD 7+ @ 980-1064nm OD 7+@ 755-840nmOD 4+ @ 630-690nm OD 2+ @ 630-650nmOD 7+ @ 690-970nm OD 3+@ 650-690nm
T5H03 玻璃 T5H04 玻璃OD 6+ @ 690-1300nmOD 5+ @ 970-1100nmOD 8+@ 1064nmOD 4+ @ 770-800nm OD 5+@ 780-800nm聚碳 OD 6+ @ 800-980nm OD 7+ @ 800-860nm
P5H01 酸酯 OD 7+@ 980-1065nm OD 3+ @ 860-900nmOD 5+@ 1065-1100nm OD 4+@ 900-950nmOD 7+ @ 190-535nm T5K11 玻璃镀膜 OD 5+ @ 950-1000nmOD 2+@ 633-650nm OD 7+ @ 1000-1600nm
T5L03 玻璃 OD 3+ @ 650-690nm OD 5+ @ 1600-2400nmOD 6+@ 690-1300nm OD 4+ @ 2400-2900nmOD 8+ @ 1064nm OD 5+@ 2900-10600nmOD 8+ @ 190-315nm OD 3+ @ 850-900nmOD 6+ @ >315-532nm OD 4+@ 900-950nm
P5L02 聚酸酸 OD 4+ @898-890m T5K02 玻璃 OD7+ @1000-1400mOD 5+ @ 940-<980nm OD 5+@1600-2400nmOD 7+ @ 980-1065nm OD 5+@ 2900-10600nmOD 7+@ 190-535nm OD 3+ @ 800-830nmOD 3+@ 850-900nm OD 4+@ 830-900nmOD 4+ @ 900-950nm OD 5+ @ 900-1060nm
T5M01 玻璃 OD 5+@ 950-1000nm P5K01 聚碳酸酯 OD 7+ @ 1060-1090nmOD 7+@ 1000-1600nm OD 6+ @ 1090-1400nmOD 5+@ 1600-2400nmnD 5+@29nn-1060nnm OD 3+ @ 1400-1650nm

激光防护面罩

镜框选型表

Laservision激光防护面罩采用坚韧耐用、轻巧的丙烯酸树脂，在保证您的安全的同时提供最大的舒适度。

激光防护帘/墙

Laservision研发的大面积激光防护系统，将激光防护产品线补充完整。通过这些防护系统可以针对所有需要屏蔽激光的场所，提供相应的激光安全解决方案。

激光防护窗

Laservision激光防护窗是理想的激光观测窗口和外壳。为方便大多数激光应用，激光防护玻璃可以按照您的要求进行定制。

WINDOWS山 一

光通讯与传感

1.通讯用波长计及频谱仪---127

1.1.光通讯专用波长计---127

1.2.高分辨率光频谱仪BOSA---130

1.3.高分辨率被动器件分析仪 HDCA---131

2.通讯光源---132
2.1.可调谐窄线宽激光器---132
2.2.其他光源---135

3.通讯仪器设备---137

3.1.高速电子学设备---137

3.2.光学滤波器---140

3.3.光测试与控制---145

4.光通讯器件---152

5.OCT与传感---154
5.1.OCT快速扫频光源---154
5.2.扫频OCT系统---155
5.3.3-D 形貌仪---156
5.4.FMCW LiDAR---157
5.5.中红外扫频光源---157
5.6.OCT部件---158
5.7.临床眼科诊断仪---160
5.8.硅晶圆检测仪---161

您的应用---220

光通讯与传感

简介

光通讯无疑是激光发明以来对人类生产生活影响最大、最深远的应用之一。

5G和数据中心对光通讯的速度和容量持续提出更高要求，以相干光通讯为代表的新一代通讯技术的发展和应用，要求对通讯载波、器件、设备、系统进行更精细准确的测量。这些测量从传统的波长测试、光强及其响应的测试，逐步扩展到位相、偏振、线宽及位相噪声等更多项目、更高精度的测量。

以光纤传感为代表的光学传感技术，和光通讯有着内在的联系。其本质是通过检测光纤本身或插入器件因温度、压力、应变等变化而导致的传输特性变化，实现远程、抗干扰的自动化传感监控。

而采用相干技术开发的OCT成像、形貌测试以至相干激光雷达，也在医学成像、先进工业、智能驾驶等领域展露头角。所有这些应用都需要稳定的、强相干的激光光源，以及对激光的振幅、位相、频谱、偏振等进行检测和操控。先锋科技在这一领域提供丰富的产品：

·通讯专用激光波长计、OSA;
·通讯波段可调谐窄线宽光源；
·多种光通讯器件和设备检测设备；
·光学滤波器；
·偏振控制和测量；
·空间光调制器；
·快扫描 OCT光源及OCT系统.

1.通讯用波长计及频谱仪

波长计在光通讯中既可以用作载波信号的波长测试，也可接合可调谐光源、光功率计，构成器件或设备检测系统。常规的波长计（本手册"激光测量"部分第4章节）可实现单个波长的快速测试和高精度的光频谱分析。但对于DWDM类光源，常常需要针对包含多个激光波长的信号直接测试。本节主要介绍DWDM专用波长计，及通讯波段高分辨率的频谱仪。

1.1.光通讯专用波长计

Bristol专门为光通讯研发设计的波长计，主要针对光通讯波段的高精度波长测试，支持连续激光和调制信号，支持光功率检测；专为DWDM设计的波长计还可支持多个波长同时测量。

1）338系列快速波长计

338系列光通讯激光多波长计专门为密集波分复用DWDM应用研发与优化，工作范围1270nm-1680nm(179－236THz)，O/E/S/C/L/U几乎全波段，精度高达 ± 0 . 2 \mathsf { p p m } ，测试速率为 2 5 H z 。

2）438系列波长计

438系列光通讯激光多波长计专门为密集波分复用DWDM应用研发与优化，工作范围1000nm-1680mm(179-300THz)，O/E/S/C/L/U几乎全波段，精度高达 ± 0 . 2 \mathsf { p } \mathsf { p } \mathsf { m } ，可以在 7 0 H z 频率下同时监测多至1000个信道。

产品特点：

·可测试CW或调制激光，绝对准确度可达 ± 0 . 2 opm
·测试范围1000nm-1680nm(179-300THz)涵盖全部光纤通讯波段
·内置长寿命HeNe激光器实时校准，完全无需人工干预
·可同时监测1000个DWDM通道，测试刷新频率高达4Hz
·可同时检测各通道激光功率。
·标配USB2.0和以太网接口，可增配GPIB接口方便用户架构自动检测系统

专业应用：

·DWDM研发与生产；
·无源器件测试；
·光收发器测试；
·光纤波长损失特性分析；
·光学传感；

3）1kHz在线高速激光波长计828

828高速光通讯激光波长计专门为密集波分复用DWDM应用研发与优化，工作范围1250nm-1650nm(182-240THz)，O/E/S/C/L/U几乎全波段，精度高达 ± 0 . 2 \mathsf { p p m } ，在线测试速率可达1kHz。

·可测试连续激光，绝对准确度可达 ± 1pm @ 1550nm
·测试范围1250nm-1650nm(182-240THz)涵盖全部光纤通讯波段
·内置长寿命频率标准激光器实时校准，完全无需人工干预
·测试速率高达1kHz
·可同时检测激光功率。
·标配USB2.0和以太网接口，可增配GPIB接口方便用户架构自动检测系统·Tunable激光器的研发与生产；
·DWDM研发与生产；
·无源器件测试；
·光收发器测试;
·光纤波长损失特性分析；
·光学传感；

1.2.高分辨率光频谱仪BOSA

BOSA是位于西班牙的Aragon Photonics 公司基于其专利技术开发的超高分辨率光频谱仪（OSA）。BOSA的名称来源于 Brillouin ^ + （204号OSA，仪器采用受激布里渊散射（Stimulated Brillouin Scattering,SBS）技术，实现10MHz超高分辨率、 0 . 5 \mathsf { p m } 精度，并可非常便利的扩展被动元件测试、偏振特性测试、位相测试及复频谱分析，等功能。得益于受激布里渊散射锐利的滤波曲线和边模抑制能力，BOSA在具备-70dBm高灵敏度的基础上提供 > 8 0 0 \mathsf { B } 的免伪讯（spurious free）动态范围，为真实还原精细频谱信息以及位相信息提供有力的保证。

下一代超高速光通讯在更充分利用频谱资源（如光正交频分复用Optical OFDM技术、偏振复用技术）的基础上，在信号和传输领域也许先进调制技术、相干调制及相干探测技术等。这些技术所涉及的光源、调制器、无源器件、探测器、传输网络，无一不需要对光频谱、位相、啁啾、偏振、时域振幅等物理量及其变化和噪声作完整、准确、精细的测量。BOSA 正是适合此类先进应用的全能型仪器。

产品特点：

·全光学方案，专利SBS 技术，真实频谱；
·10MHz频谱分辨率， 0 . 5 \mathsf { p m } 波长准确度； 2 0 \mathsf { n m / s } 快速测量；
·C，L，O波段覆盖；
·正交分量（偏振）相关的频谱、位相、啁啾、时域信号测量；
·光器件插损、回损、波长及偏振敏感分析测试；
·复光学频谱仪，振幅、位相、啁啾等全面分析，无带宽限制，不依赖于调制格式；
·高灵敏度、高免伪讯动态范围。

专业应用：

·OFDM;
·无源器件分析；
·主动器件分析；
·位相信息分析；
·可调谐光源研发与生产；
·光纤传感；
·光频梳测试；

1.3.高分辨率被动器件分析仪HDCA

同样利用BOSA受激布里渊散射超高分辨率光频谱仪架构，针对于被动器件测试的需求，HDCA高分辨率被动器件分析仪将原 BOSA针对于被动器件插损/回损/偏振相关损耗等选项功能也一并集成进了标配功能，特别适合于快速，简便，超高精度的对光纤通讯被动器件做日常检测。

产品特点：

·全光学方案，专利SBS技术，真实频谱；
·10MHz频谱分辨率，0.5pm波长准确度； 2 0 \mathsf { n m / s } 快速测量；
·C，L，O波段覆盖；
·正交分量（偏振）相关的频谱、位相、啁啾、时域信号测量；
·光器件插损、回损、波长及偏振敏感分析测试；
·复光学频谱仪，振幅、位相、啁啾等全面分析，无带宽限制，不依赖于调制格式;
·高灵敏度、高免伪讯动态范围。

专业应用：

·OFDM;
·无源器件分析；
·主动器件分析；
·位相信息分析；
·可调谐光源研发与生产；
·光纤传感；
·光频梳测试;

2.通讯光源

在光通讯器件、链路测试中大量用到通讯波段的窄线宽可调谐光源以及其他光源设备。这些光源可与光功率计、频谱仪、波长计等构成测试系统。

2.1.可调谐窄线宽激光器

可调谐窄线宽激光器通常是一台外腔式半导体激光器（ECDL）输出通讯波段、线宽可达 { \tt < } 1 0 0 k { \sf H z } 、功率可达15dBm的激光。根据性能的不同，分为可调谐（可在一定范围内初调、精调、设定波长）及可连续扫描两种。通常后者造价较高，而前者则适合大多数不需要自动扫频的场合。

这类光源的典型应用包括：

·器件与光模块测试：光学滤波器，插入器，FBG，耦合器，分束器，隔离器，光路由器/交换机，WSS及波长阻断器，DWDM 件.

·硅光子器件（如环境微腔）表征， 量子点表征
·精密光谱学
·光学本振
·相干光通讯
·光学传感
·传输链路/光放大器测试

2.1.1.TLG-220、TLG-320可调谐激光器

TLG-220为日本Alnair Labs公司提供的台式可调谐窄线宽光源，最多可支持4个通道输出；TLG-320为插槽式多通道光源，适合自动化测试产线使用。

TLG-220（上）、TLG-320（下)

TLG-320不支持面板控制与显示，只能通过电脑控制。其输出指标基本相同：

·<100kHz线宽；
·1MHz调谐分辨率
·最高四通道；可选模块式设计·25GHzITU格点可调谐
·远程控制

2.1.2.WSL可调谐激光器

WSL为日本Santec公司生产的台式可调谐光源，提供C波段和L波段输出。

2.1.3.TSL系列连续扫频激光器

Figure1. TheTSL Series

连续扫频窄线宽激光器是Santec公司的拳头产品。采用Littrow架构的ECDL，可实现通讯波段单纵模 < 1 0 0 k H z 线宽的输出，13dBm功率，无跳模扫频范围达到\mathsf { 1 0 0 n m } ，每秒可扫描 2 0 0 \mathsf { n m } 。

SantecTSL分为5系列和7系列。其中5系列分为A，C，P三个级别，又按照波段范围分为O（1260\~1350nm）、ES（1355\~1485nm）、CL（1500\~1630nm）、SCL（1480\~1630nm）、LU（1560\~1680nm）多个型号；7系列性能更高，主要针对CL、SCL波段。

Figure2.Littman-MetcalfConfiguration

1250 1350 1450 1550 1650 (nm) extemalcavity continuously tuning lasers 1480 SCL-band(TSL-710) 1640 1560 U-band(TSL-550）1680 1500 CL-band(TSL-550)1630 1480 SCL-band(TSL-550) 1630 1355 ES-band (TSL-550） 1485 1260 sb.and 1360 1260 420(Full-bandTSL) 1680 "Pleaseselectnecessarybandforsystem. O-band E-band S-band C L-bandU-band 1260 1360 1460 1530 1565 * 6 2 5 675

2.2.其他光源

2.2.1.宽带ASE光源

Alnair Labs ASE-200型宽带光源提供C或L波段宽光谱输出，最高功率可达23dBm。稳定性可达0.005dB/5mins，0.02dB/8hrs。宽带光源可结合滤波器构成单色光源或可调谐光源，也可结合OSA构成器件测试系统。主要应用包括：

·光纤传感
·FBG测试，DWDM器件测试
·OCT
·激光陀螺仪

2.2.2.紧凌型光纤飞秒激光器

PFL-200采用Alnair Labs独特的碳纳米管可饱和吸收体锁模，避免了普通光纤飞秒激光器SESAM可饱和吸收体的寿命问题。全保偏设计，输出450fs变换极限脉冲。模块式版本仅有手掌大小，5VDC供电，开机即用。

供电 尺寸

2.2.3.掺饵光纤放大器

Alnair Labs提供两款EDFA，<3W功耗、最高输出20dBm的EFA-200C以及50dB光学增益、噪声系数3.8dB的低噪声EDFA LNA220。

1）低功耗EDFAEFA-200C

2）低噪声EDFALNA-220

3.通讯仪器设备

3.1.高速电子学设备

3.1.1.皮秒脉冲电流发生器EPG-210

不同于高带宽信号发生器只能输出电平信号，独特的皮秒脉冲电流发生器可驱动负载。最短30ps的脉冲，可用于触发调制器、激光驱动器，产生超高速调制信号；高电压输出选件支持直接驱动绝大多数市售的增益调制激光器。在激光加工领域，皮秒电流脉冲发生器可用于激光重频和脉宽控制。

·短至30ps的电脉冲，可选脉宽可调至200ps
·17ps快速上升/下降沿 ^ + 低附加抖动
·重频通过简单地调节输入时钟/触发在 1 \mathsf { M H z } ~ 5 \mathsf { G H z } 范围调节，
原则上可实现单发；支持pulse-on-demand
·对比昂贵的40Gbps脉冲模式发生器，具备极佳性价比
·可调脉宽和重频
·单端或差分输出

输出示例：

应用示例：

·驱动锯酸锂调制器可产生17ps上升/下降沿光脉冲

·直接驱动增益调制激光器可产生30-60ps低抖动光脉冲

·作为射频频率梳使用EPG-210覆盖至25GHz的高速射频分量使其可以作为射频梳使用；梳齿间距可通过调节重频来改变；可用于射频天线表征、测试。

50ps/250MHz重频信号的RF频谱

3.1.2.大电流脉冲电流发生器

CPG-100B-1000P可产生高达100A的纳秒脉冲；也可作为跨导放大器为纳秒脉冲信号提供功率驱动能力。

·50Ω纳秒脉冲放大器或100A/纳秒脉冲电流激光驱动器 ·高功率转换效率，宽度及高度可调脉冲 ·LIDAR，激光材料处理，泵浦激光，引线点燃，相控阵雷 达，激光瞄靶等应用

3.1.3.28Gbps误码仪

BERT-250E-4CH为产线测试适应的易用性误码仪，提供4通道、28Gbps误码率测试能力，用于收发器、TOSA、ROSA测试以及光调制器测试。

应用示例：25.8Gbps眼图

·内置CDR
·最大4通道，28Gbps
·远程控制功能

·TOSA/ROSA，高速IC，收 ·数据链路性能测试 ·100GbE应用发器/接收器在线检测 ·传输系统测试

3.1.4.10Gbps串行误码仪

SeBERT-100型串行误码仪包括一个模式发生器，错误探测器以及内部时钟数据恢复功能。支持10Gbps码率，适合生产线使用，可用于TOSA/ROSA检测以及光调制器驱动。

·10Gbps，最高四通道
·SFP+/XFP兼容插口可选
·27-1,231-1或64位可定义PRBS
·内置CDR、内置时钟
·单通道或多通道 (可达10通道)
·预加重、交叉点及EAM驱动选项
·远程控制

应用示例

左：软件界面；右：10Gbps眼图

典型应用领域

·10G， 4 x 1 0 0 ， 1 0 x 10G器件或光纤链路检测
·低成本TX/RX器件检测线
·数据传输实验

3.2.光学滤波器

光学滤波器采用FBG、自由空间光栅、镀膜滤光片等色散元件，实现高对比度的波长依赖的透过/反射，广泛用于信号噪声滤除、单色光源产生、器件测试等。

光学滤波器的主要特性包括：

·可调谐范围：是指滤波器透过率峰值波长的可变范围；
·滤波带宽：通常指透过率下降为峰值透过率的-3dB处的带宽；
·滤波线形与斜率：滤波器具备平顶、高斯等不同滤波线性；斜率是指透过率相对于波长变化的斜率。

3.2.1.可调谐FBG滤波器

VTF-200 可调谐 FBG滤波器采用压缩 FBG的方式进行调节。与传统的伸展式调节相比，调谐范围更宽，典型调谐范围可达 2 0 \mathsf { n m } 。

·窄带光学滤波 ·锐利的滤波边沿 ·低插入损耗 ·带通或带阻

工作原理

典型应用

·光信号选择/滤除·背景噪声抑制·可调谐激光反射器

3.2.2.超窄线宽可调谐滤波器

CVF-300CL/BVF-300CL分别为可编程/手动的超窄线宽可调谐滤波器：中心波长可调，滤波线宽最小可达 3 0 \mathsf { p m } (3.7GHz），可达1500dB/nm 的滤波斜率。

滤波性能

·超锐利滤波：1500dB/nm·极窄线宽：30pm(3.7GHz)·灵活配置：带宽和中心波长可调·远程控制和功率监控 (CVF-300CL)

·高达1500dB/nm(12dB/GHz)滤波曲线而不必在可变的滤波线宽和中心波长等参数方面予以妥协，为DWDM通道选择以及ASE噪声滤除的理想选择;·最窄3dB带宽为 3 0 \mathsf { p m } ，且支持 3 0 \rho \mathsf { m } ~ 3 \mathsf { n m } 连续调节。结合 Etalon 可实现<1GHz的光频梳梳齿选择功能

典型应用

·在线自动化测试系统·DWDM系统窄带滤波·脉冲成型，ASE噪声滤除

3.2.3.SANTEC系列可调谐滤波器

Santec提供OTF系列手动、自动可调谐滤波器，不同的调谐范围、滤波带宽、滤波线形满足不同应用的需求。

1）OTF-320手动可调谐滤波器

OTF-320具备固定的滤波线性、带宽，调谐范围可达 8 0 \mathsf { n m } 。OTF-320采用镀膜滤光片实现光学滤波，可选择不同的滤光片来实现不同的性能。OTF-320为手动调谐，波长通过刻度盘显示。

·可调谐范围：可达 8 0 \mathsf { n m } （20
·波长范围： 1 5 3 0 ~ 1 6 1 0 { n m }
·-3dB带宽： 0 . 2 5 ~ 1 . 5 \mathsf { n m } 可选
·-20dB带宽： 1 . 2 ~ 3 2 { n m } 可选
·插入损耗： 2 . 0 ~ 7 . 0 0 { B } 取决于
滤光片
·偏振依赖损耗： < 0 . 1 dB
·回损：>45dB

2）OTF-350波长及带宽可调谐滤波器

OTF-350是一款多功能的手动可调光学滤波器，波长和带宽独立可调。OTF滤波器基于光栅色散，独立的高精度自由空间光路和精准的调节机构可实现优异的光控制和平顶带通曲线。

典型应用

·40G，100G传输测试
·WDM波长调谐
·ASE噪声抑制
·脉冲整形
·下一代光通讯：OFDM

3）OTF-930可编程可调谐滤波器

OTF-930采用镀膜滤光片，是一款偏振无关的 8 0 \mathsf { n m } 范围自动可调谐滤波器。Santec独特的"LinearSliding"技术使其可在PDL，带宽和插损不变的情况下进行精确的连续波长调谐。

·可调谐范围：可达80nm ·波长分辨率： 0 . 0 1 \mathsf { n m }
·波长范围：1530\~1610nm ·GPIB+RS232
·PDL:<0.1dB ·滤光片：参见OTF-320滤光片选择表格
·PMD:<0.1ps

应用示例：

4）OTF-980可编程、带宽可调、可调谐滤波器

Tranciever信号完整性传输劣化测试

OTF-980支持中心波长、带宽的独立编程调节，调谐范围可覆盖 C + L 波段。根据不同的应用需求，按照带宽范围和滤波斜率分为三个版本，其中 UItrafine-Plus 可做到1000dB/nm 的滤波斜率。系统提供触屏控制及GPIB、网口、USB 远程控制。

3.3.光测试与控制

3.3.1光功率计

1)OPM-110USB接口光功率计

OPM-110可直接由USB接口供电并和计算机通讯，是架构通讯波段光功率测试最为经济有效的方式。

2）OPM-150多通道光功率计

OPM-150为台式多通道光功率计，用户可选择最多24个通道。

3）OPM-160快速光功率计

OPM-150可最多从24个通道的快速光功率探头以8us的速度快速采样，采样频率高达 1 2 5 \mathsf { k H z } , 超过IEC61300-3-28瞬态损耗测量标准。

4）DTS-100间断测试系统

DTS-100允许您捕获短暂的光功率中断，可应用于各种有源或无源器件，在温度、振动或物理冲击下的信号丢失、瞬态输出或透射率

5）MPM-210多端口光功率计

MPM-210系列为新型的多端口光功率计，非常适合测量多端口光学设备。MPM-210可以非常快的速度和高分辨率同时测量多达20个端口（每个MPM-211模块4个通道）的光功率。具备高精度，高线性度，极低偏振依赖。可测量1250\~1650nm 范围内 - 8 0 ~ +10dBm的光功率，提供GPIB、RS232、TCP/IP通讯界面

MPM-210为插入损耗（IL）、偏振依赖损耗（PDL）的理想测试设备，适合DWDM、AWG、WSS 等多种应用场景。与Santec的TSL系列扫频光源结合，可构成快速高精度的自动化测试系统。

3.3.1.可编程光延时器

ADL-200可编程光延时器提供高达2.5ns的可调延时，具备低插损、低损耗起伏的特征，适合各种延迟线应用。

主要应用

·光通讯 ·2.5ns可调延时 ·相干光通讯 ·低损耗 ^ + 低损耗起伏 ·光纤传感 ·前面板控制，VFD 清晰显示 ·脉冲表征 ·USB+GPIB

3.3.2.频分复用光时域反射仪

FOTDR-300 频分复用相干光时域反射仪(Frequency-Division-Multiplexed Coherent OTDR)不同于传统的C-OTDR。它在同一个时间段内发送不同频率的多个探针脉冲，从而在同样的测试时间内获取更多的数据，因此可以在相同时间内获得更高的信噪比，或者在同等信噪比下大幅度缩减测量时间。

·>23dB动态范围 ·较传统OTDR快10\~40倍 ·可测试长达一万二千公里的海底光缆

测试原理

1.With the setting: Pulse width { 1 0 } \mu { s } , Average 216, Distance range 1 , 0 0 0 { { k m } } ,withadded ASE,Frequency MUX40; 2.With the setting: Pulse width 1 0 \mu { s } , Frequency MUX 40; 3. Width is 4 8 0 ~ \mathsf {mm } including 1 9 ^ { \circ } rack fixture;

3.3.3.模块式偏振控制器

MLC系列控制模块用于灵活地控制激光的偏振和强度。采用卡槽式设计，三个卡位可放置半波片、四分之一波片、偏振片卡盘的灵活组合，并可分别精密调节；两端光纤接口用于光信号输入输出。光学元件卡盘具备清晰的读数，使得精密调节简便易行，稳定性、重复性俱佳。

·卡盘式设计
·高精度波片、偏振片、衰减片
·低插损/回损

3.3.4.偏振光源

SantecPLS-100偏振光源面向偏振相关器件研发和产品线测试，提供 \boldsymbol { 1 3 3 0 } \boldsymbol { { n m } } ， 1 5 5 0 { n m } ，高稳定功率的45dB消光比可调节偏振光输出。
典型应用包括光学元器件的偏振测试与调整，保偏光纤接头的测试与固定作业等。

PER stability

Powerstability