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光谱仪
什么是光谱仪？根据光与物质相互作用引起物质原子、分子内部量子化能级之
间的跃迁产生的发射、吸收、散射波长或强度变化，检测并处理这类变化的仪器被
称为光谱仪。因此，光谱仪的基本功能，就是将复色光在空间上按照不同的波长分
离 / 延展开来，配合各种光电仪器附件得到波长成分及各波长成分的强度等原始信
息以供后续处理分析使用。
光谱分析方法作为一种重要的分析手段，在科研、生产、质控等方面，都发挥
着极大的作用。而无论是穿透吸收光谱，还是荧光光谱，拉曼光谱等，如何获得
单波长辐射（单色光）是不可缺少的手段。现代单色仪具有很宽的光谱范围（UVIR），高光谱分辨率（到 0.001nm）, 自动波长扫描，完整的电脑控制功能，极易与
其他周边设备组合为高性能自动测试系统，使用电脑自动扫描多光栅单色仪已成为
光谱研究的首选。
当一束复合光线进入单色仪的入射狭缝，首先由光学准直镜汇聚成平行光，再
通过衍射光栅色散为分开的波长（颜色）。利用每个波长离开光栅的角度不同，由
聚焦反射镜再成像出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。
关于光栅
光栅作为重要的分光器件，它的选择与性能直接影响整个系统性能。
光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂薄金
属表面机械刻划而成 ；复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的
刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息光栅通常包括正弦刻槽。
刻划光栅具有衍射效率高的特点，全息光栅光谱范围广，杂散光低，且可作到高光
谱分辨率。
如何选择光栅
选择光栅主要考虑如下因素：
1、光栅刻线，光栅刻线数直接关系到光谱分辨率与使用范围，光栅刻线越高，
将得到越高的光谱分辨率，但光谱范围越窄，光谱强度越弱，因此，需要根据试验
条件灵活选择 ；
2、闪耀波长，闪耀波长为光栅最大衍射效率点，因此选择光栅时应尽量选择闪
耀波长在实验需要波长附近。如实验为可见光范围，可选择闪耀波长为 500nm ；
3、使用范围，光栅的使用的下限通常可认为是光栅闪耀波长的一半，上限可认
为是光栅闪耀波长的二倍，实际可参考光栅效率曲线图 ；
4、光栅效率，光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅
效率愈高，信号损失愈小。为提高此效率，除提高光栅制作工艺外，还采用特殊镀膜，
提高反射效率。
光栅方程
反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽，一系列平行刻槽的间
隔与波长相当，光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互
作用产生衍射和干涉。对某波长，在大多数方向消失，只在一定的有限方向出现，
这些方向确定了衍射级次。如图所示，光栅刻槽垂直辐射入射平面，辐射与光栅法
线入射角为 α，衍射角为 β，衍射级次为 m，d 为刻槽间距，在下述条件下得到
干涉的极大值 ：mλ=d（sinα+sinβ）。
光栅光谱仪基础知识
2.1 基础知识介绍
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波长精度、重复性和准确度
波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级，单位为 nm。
通常，波长精度随波长变化。
波长重复性是光谱仪返回原波长的能力。这体现了波
长驱动机械和整个仪器的稳定性。
波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差值。卓
立汉光的每台单色仪都要在多个波长点检查波长准确度。
F/#
F/# 定义为焦距（f）与光谱仪内有效光学元件最小
通光孔径（D）的比值。光通过效率与 F/# 的平方成反比，
F/# 愈小，光通过率愈高。
影像校正光谱仪
传统的 C-T 结构光谱仪通常采用球面镜作为成像元
件，由于入射光并非理想的点光源信号（实际为长方形
或正方形光斑，取决于狭缝开口形状）而导致大部分信
号光处于离轴状态，离轴信号成像一方面会有彗差，另
一方面离轴信号光通过成像光路后，在焦平面上汇聚于
空间上不同的位置，且两个方位互相垂直形成一个短交
线，这种现象称为像散，彗差和像散将会导致成像模糊
而使得光谱仪的光学性能受到较大的影响。
卓立汉光经过长期研发和设计，解决了传统球面镜
成像造成的像差较大的问题，通过采用非球面镜进行影
像校正。影像校正光谱仪最大限度的抑制了像散，使得
离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获
得了清晰的成像，从而提高了信号强度，提升了光谱仪
信号收集的能力。也因为成像质量的提高，使得影像校
正光谱仪还可以被用于空间分辨的实验，实现多通道实
时探测。
光栅单色仪重要参数：
分辨率
光栅单色仪的分辨率 R 是分开两条临近谱线能力的度量，根据
罗兰判据为 ：
R=λ/Δλ
光栅光谱仪中有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽
（FWHM）。实际上，分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效
焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数。
R ∝ M·F/W
M- 光栅线数 F- 谱仪焦距 W- 狭缝宽度
色散
光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散
可计算得到 ：沿单色仪的焦平面改变距离 χ 引起波长 λ 的变化，
即 ：
Δλ/Δχ=dcosβ/mF
这里 d、β、F 分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效
焦距，m 为衍射级次。由方程可见，倒线色散不是常数，它随
波长变化。在所用波长范围内，变化可能超过 2 倍。根据国家
标准，在本样本中，用 1200l/mm 光栅色散的中间值（典型的为
435.8nm）时的倒线色散。
从光栅方程可见，在同样焦距光谱仪下，600 刻线光栅在
871.6nm 处倒线色散是 1200 刻线光栅在 435.8nm 处倒线色散的
2 倍值。
带宽
带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭
缝高度和照明均匀性等，在给定波长，从光谱仪输出的波长宽度。
它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如，单色仪狭缝为 0.2mm，
光栅倒线色散为 2.7nm/mm，则带宽为 2.7×0.2=0.54nm。
定义 Φ 为入射光线与衍射光线夹角的一半，即 Φ=（α-β）
/2 ；θ 为相对于零级光谱位置的光栅角，即 θ=（α+β）/2,
得到更方便的光栅方程 ：
mλ=2dcosΦsinθ
从该光栅方程可看出 ：
对一给定方向 β，可以有几个波长与级次 m 相对应 λ 满
足光栅方程。比如 600nm 的一级辐射和 300nm 的二级辐射、
200nm 的三级辐射有相同的衍射角，这就是为什么要加消多级
光谱滤光片轮的意义。
衍射级次 m 可正可负。
对相同级次的多波长在不同的 β 分布开。
含多波长的辐射方向固定，旋转光栅，改变 α，则在
α+β 不变的方向得到不同的波长。
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光谱仪
传输介质材料对光谱分析的影响
光谱测试分析系统，主要由光信号辐射体（如发光样品、受激辐射样品、光源等）、光路系统、光谱分光系统、探测器等搭建
而成。光谱测试分析系统的搭建，其性能受到各个方面的影响，这里我们着重说明光传输介质材料对系统的影响。
透镜：
在光谱测试分析系统中，透镜的材料主要有 BK7（K9）玻璃、石英材料、氟化钙（CaF2）、氟化镁（MgF2）等材料。
BK7（K9）玻璃：
BK7（K9）玻璃是常见的高硼硅冕牌玻璃之一，其光谱透射范
围为 380 ～ 2100nm，它的同质性高，气泡、杂质含量低，硬度较高，
具有良好的抗划伤性，因此在光学系统中具有广泛的应用。
由于 BK7（K9）玻璃吸收紫外光，因此在紫外光谱测试应用领
域受到限制。同时由于热膨胀系数较大，不推荐用于温度敏感的应
用场合。
熔融石英（Fused Silica）:
透 镜 用 的 熔 融 石 英， 一 般 是 指 紫 外 熔 融 石 英 JGS1， 是
一种具有极高纯度的无定形二氧化硅，光谱透射范围从紫外
185nm ～ 2300nm。这种非结晶的石英具有非常低的热膨胀系数，
良好的光学特性，同时具有高的损伤阈值，是光谱测试领域非常理
想的透镜材料之一。
氟化钙（CaF2）:
氟化钙是一种立方晶系单晶材料，可用于真空深紫外到红外波
段传输，且无双折射特性。在 250nm ～ 6µm 之间具有 90% 以上的
透过率，具有低吸收和高损伤阈值，是准分子激光常用的光学元件。
氟化钙的热膨胀系数比较大，所有温度性能较差，应避免在较高的
温度环境中使用。红外部分有较低的折射率，可以直接用于红外传
输而不用镀防反射膜。
氟化镁（MgF2）:
氟化镁是一种双折射晶体，用于紫外到红外波段的传输，其光
谱透射范围为 ：0.15µm ～ 7µm。氟化镁具有较好的耐高温和抗机
械冲击能力，且具有较高的损伤阈值。氟化镁是低折射率红外材料，
通常不需要镀防反射膜。氟化镁比其它宽带材料更为耐用，是脉冲
激光的理想选择。
Transmission（%）
Wavelength（μm）
Wavelength（μm）
Wavelength（μm）
Wavelength（μm）
Transmission（%） Transmission（%） Transmission（%）
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介质膜反射镜的特点：
■ 介质膜反射镜的反射率比较高，可以接近100%，但其波长使用范围比较窄；
■ 介质膜反射镜的反射率与入射角度密切相关；
■ 介质膜反射镜的机械强度比较高，相对耐清洗；
■ 介质膜反射镜的其损伤阈值比较高。
金属膜反射镜常用的种类有常规镀铝反射镜、紫外增强镀铝反射镜、镀银反射镜、镀金反射镜等，其典型反射率曲线如下所示：
反射镜：
反射镜，在光谱分析系统中，是一种经常用到的光学元件，主要用来改变光路的方向。
反射镜按照表面镀膜一般分为金属膜反射镜和介质膜反射镜。通常来说，金属膜的反射率对入射角度不敏感，而介质膜的反射
率同入射角有很大的关系，如果角度比较大，则反射率可能会有很大的差异。
金属膜反射镜的特点：
■ 金属膜反射镜一般反射率曲线比较平坦，使用波长范围比较宽；
■ 金属膜反射镜的反射率不太受到入射角度变化的影响；
■ 金属膜反射镜表面的机械强度不高，一般不可擦拭，部分带有硬质
保护膜的产品才能用包含有机溶液的棉棒清洁；
■ 金属膜反射镜的损伤阈值不高，不适合于强激光。
Typicol Reflectance Cuive for Metallic Mirror Coatings NIR-IR Range
Typicol Reflectance Cuive for Metallic Mirror Coatings UV-NIR Range
Wardength(nm)
Refledance(%) Refledance(%)
Wardength(nm)
Proteded Alumium UY Enhanced Alumium Proteded Gold Proteded Silver
Range(µm) %Reflechion Range(µm) %Reflechion Range(µm) %Reflechion Range(µm) %Reflechion
0.4-0.7 85 0.25-0.45 89 0.7-2.0 96 0.45-2.0 98
0.4-2.0 90 0.25-0.7 85 2.0-10.0 96 2.0-10.0 98
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光谱仪
光纤：
由于光纤的方便性，在光谱分析系统中，经常采用光纤来传输光信号，使系统更加简便。但由于光纤有其适用波段，在采用
光纤时，一定要注意光纤的衰减与使用波段，选择合适的光纤种类。同时由于不同波长的光信号的衰减系数不一样，经过光纤传
输之后，光信号的光谱形状将会改变，在进行光谱分析时，也需要加以分析。
光纤的衰减常数 A，一般采用分贝（dB/km）来表征，
它与光纤的传输率 T、光纤损耗率 R 的关系如下 ：
A=-10lg（T）=-10lg（1-R）
其中，
T=I1/I0,R=（I0-I1）/I0=1-T
I0为光纤输入端光功率，I1为光纤输出端光功率
采用分贝来表征的优点是，将透过率的相乘关系转化为分贝
值的相加关系，更方便于计算。如，如 1km 的分贝为 1000，则
1m 的分贝值为 1，500m 的分贝值为 500，而透过率 T 就无法这
么简单地来计算。
常用分贝值与透过率的对应表如下：
分贝 dB/km 透过率 分贝 dB/km 透过率
0.1 97.72% 2 63.10%
0.2 95.50% 3 50.12%
0.3 93.33% 4 39.81%
0.4 91.20% 5 31.62%
0.5 89.13% 6 25.12%
0.6 87.10% 7 19.95%
0.7 85.11% 8 15.85%
0.8 83.18% 9 12.59%
0.9 81.28% 10 10%
1 79.43% 20 1%
紫外石英光纤典型衰减率（分贝）与波长的关系曲线 ：
光谱适用范围 200-1200nm
近红外优化光纤典型衰减率（分贝）与波长的关系曲线 ：
光谱适用范围 400-2500nm
大气：
大气中的水分，在红外波长 1.4、1.9、2.7µm 处均有水的
吸收带，如右图的水吸收光谱图所示。因此，在做红外波段的
光谱分析时，要注意空气中水分对光谱的影响，特别是在潮湿
天气中。在有条件的实验环境中，可以采用充氮气的方式来排
干光路中的水分，达到屏蔽水分对光谱分析的影响。
透
过
率
%
校验 ：（m）
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2.2 Hiper S-320i 消像差影像校正光栅光谱仪
■支持双入口、双出口的结构配置，自动切换入口/出口，增强光谱测试应用灵活性。
卓立汉光开发的新一代全焦面影像校正光谱仪，
采用全焦面非对称影像校正技术，极大程度的抑制多
种光学像差，获得了理想的成像效果，从而提升了光
谱仪的信号强度和分辨率水平。同时使光谱仪在宽波
段范围内全焦面都拥有极小的像差，整个像面上都呈
现出近乎完美的影像效果，大幅度拓展光谱分析的应
用领域，可被用于空间分辨的实验，实现多通道实时
探测，极大地提升光谱测试分析质量。
光栅在轴旋转光栅利用率提高 15%。（1200g/mm 光栅，波长 550nm 位置）
功能及特点
■ 内置光谱分辨率增强技术模块，进一步提升光谱仪分辨
率及影像质量。
■ 消像差校正技术的运用，可获得更高的分辨率和对称性更好的
峰形，提高了光子利用率，也可使波长信息更加精准。
■ 全新设计的三光栅在轴旋转塔台方案，提升光栅的有效使用
面积，在光谱仪使用范围内，极大地提升光栅通光效率的一
致性。
Built-in spectral resolution enhancement technology module, further improve the resolution of the
spectrometer and image quality
启用分辨率增强模块，分辨率最大可进一
步提升约
Enable resolution enhancement
module, the maximum resolution can be
further improved by about 20%.
HiperS-320i光谱仪功能特点
Functional characteristics of HiperS-320i spectrometer
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
Normalized Intensity
wavelength（nm）
HiperS-320i Raw Spectrum
Enable resolution enhancement
启用分辨率增强模块，分辨率最大可进一步提升约20%。
■ 采用非对称结构的全焦面影像
校正技术，使光谱仪在宽波段
范围内全焦面呈现出近乎完美
的影像效果，获得了更好的空
间分辨率和光谱分辨率。 注：9 芯光纤束 /100um 芯径，成像面高度 3.8mm
HiperS-320i焦面影像校正
光栅单色仪/光栅光谱仪
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光谱仪
规格参数表(@1200g/mm光栅条件下)
型号 HiperS-320i
焦距 (mm) 320
相对孔径 F/4.4
扫描范围 (nm) 0 ～ 1430
光谱分辨率 (nm)-PMT 0.06
光谱分辨率
(nm)-CCD(15µm) 0.12
倒线色散 (nm/mm) 2.29
波长准确度 (nm) ±0.2
波长重复性 (nm) ±0.025
最小步距 (nm) 0.005
杂散光水平 5×10-5
焦平面尺寸 29 (w) × 14 (h)
光轴高度 (mm) 156.3~171.3
光栅规格 68 × 68
光栅台 三光栅在轴旋转塔台
狭缝规格
缝宽 0.01-3mm 连续手
动可调，可选配自动狭
缝；逢高 2,4,14 可更换
外形尺寸 (mm)、重量
（kg）
591 × 460 × 260
(L × W × H)，30kg
通讯接口 标配 USB2.0
可选 RS-232
规格参数表 @ 不同光栅
光栅 (g/mm) 2400 1800 1200 600 300 150
倒线色散 (nm/mm) 0.91 1.39 2.29 4.87 9.97 20.13
机械扫描范围 (nm) 0~715 0~953 0~1430 0~2860 0~5720 0~11440
扫描步距 (nm) 0.0025 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.04
狭缝光谱分辨率 (nm) 0.036 0.048 0.06 0.12 0.24 0.48
光谱分辨率 (nm)-CCD(15um) 0.048 0.073 0.12 0.256 0.523 1.06
CCD 单次摄谱范围
(nm@30mm CCD) 26.4 40.3 66.4 141.2 289.1 583.8
波长准确度 (nm) ±0.1 ±0.15 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±1.6
波长重复性 (nm) 0.015 0.02 0.025 0.05 0.1 0.4
注 1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长 435.83nm，狭缝宽度 10um。
注 2：CCD 单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为 435.83nm 下的典型值，随着中心波长增加，
摄谱范围变窄。
注 3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长减小，倒线色散数值增大。
注 4：直入狭缝无法配置电动狭缝。
注 1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）。
注 2：本型号系列，需要额外选配光栅，最多可配置 3 块光栅。
注 3：本型号系列，不包含滤光片轮、快门，需要额外选择附件。
典型型号表
型号 描述
HiperS-3204i 侧入口、CCD 双出口
HiperS-3205i 侧入口、狭缝直出口
HiperS-3206i 侧入口、CCD 直出口
HiperS-3207i 侧入口、狭缝双出口
HiperS-3208i 侧入口、CCD 直出口、狭缝侧出口
HiperS-3224i 双入口、CCD 双出口
HiperS-3227i 双入口、狭缝双出口
HiperS-3228i 双入口、CCD 直出口、狭缝侧出口
HiperS-3247i 侧入口、狭缝双出口、紫外镀膜
HiperS-3248i 侧入口、CCD 直出口、狭缝侧出口、紫外镀膜
光谱仪HiperS-3208i外形尺寸图
■ 采用智能自动聚焦技术，多光栅
切换使用时，使光谱仪处于分辨
率最佳、影像最佳状态；
自动调焦获取最佳焦平面
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2.3 传统 Omni-λ i 系列“影像谱王”光栅单光谱仪
卓立汉光是专业的光谱仪器系列产品研发及制造厂商，同时代理销售国外相关产品。光谱仪器系列产品主要分为
光谱仪和配套的光谱仪器组件，主要特点是 ：产品模组化，配套齐全，灵活性强，自动化程度高，软件实用，可组合
各种光谱应用测量系统。其中光谱仪有如下两个大类 ：
2：CCD侧出口
3：CCD 侧出口，单狭缝直出口
4：CCD 双出口
5：单狭缝直出口
6：CCD直出口
7：双狭缝出口
8：CCD直出口、单狭缝侧出口
9：单狭缝侧出口
i：影像光谱仪
0：标准件（侧入口、镀铝光栅及反射镜）
1：镀金
2：双入口
3：镀金+双入口
4：紫外增强
5：紫外增强+双入口
6：镀银
7：镀银+双入口
20：200mm焦距
30：320mm 焦距
50：500mm焦距
75：750mm焦距
Omni-λxx x x i
影像谱王（Omni-λ-i）系列
在第四代光谱仪基础上，于 2015 年全新推出第五代高通光量、宽光谱影像校正光谱仪。通过采用非球面镜进行
影像校正，最大限度地抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从
而提高了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力。通过巧妙的设计，提升了整个 CCD 探测面的影像质量（间接的增
大了波段的使用范围，更便于多通道光纤的使用），也因为成像质量的提高，使得影像校正光谱仪还可以被用于空间分
辨的实验，实现多通道实时探测。该系列产品在诸多光学性能上，如分辨率、杂散光抑制比等，与国际同类型高端产
品性能全面接轨。
谱王（Omni-λ）系列
为 2005 年推出的第三代光谱仪系列产品，保留了多光栅塔台的设计特点，同时采用全新的 DSP 芯片控制电路，
使得仪器的控制更为简单，从而更好的发挥仪器覆盖 UV-VIS-IR 全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选
择光谱范围和分辨率 ；USB2.0 接口取代传统的 RS-232 接口，不仅使光谱仪的连接更加简单化，更极大提高了光谱仪
通讯速率；全新的 DSP 芯片设计使得光谱仪多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择自动双入、出口；与光源、
探测器（单点探测器和阵列 CCD 等）的组合搭建，可实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射 / 反射、吸收
光谱及光源发射光谱系统等 ；同时成功研发出双级联和三级联光谱仪，可应用于更微弱光谱探测领域。
“影像谱王”系列光栅光谱仪产品型号制定规则：
fiffffl
ffiffffl ffiflffl
fiflffl
直出口 直入口
光谱仪出入口定义
侧出口 侧入口
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光谱仪
Omni-λ系列“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪
功能及特点
■ 200mm，320mm，500mm，750mm多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；
■ 标准配置手动狭缝，自动狭缝可选；
■ 300i/500i/750i双出口可同时配置2个CCD；
■ 侧入口可接电子快门；
■ 采用C-T结构设计，采用超环面影像校准设计；
■ 多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；
■ 光栅采用68×68mm（68×84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；
■ 适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（>1µm）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提
高红外光反射效率；
■ 更好的杂散光抑制比，达到1×10-5
；
■ 仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简
单化，更极大提高了通讯速率；
■ 采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动
控制，定位更精准；
■ 可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收
光谱及光源发射光谱系统等。
规格参数表（@1200g/mm光栅条件下）
型号 Omni-λ200i Omni-λ300i Omni-λ500i Omni-λ750i
焦距（mm） 200 320 500 750
相对孔径 F/3.5 F/4.2 F/6.5 F/9.7
光学结构C-T
机械范围（nm） 0 ～ 1200
光谱分辨率（nm）-PMT 0.15 0.08 0.05 0.03
光谱分辨率（nm）-CCD（15µm） 0.27 0.173 0.11 0.077
倒线色散（nm/mm） 3.58 2.29 1.49 1.02
波长准确度（nm） ±0.2
波长重复性（nm） ±0.1 ±0.025
扫描步距（nm） 0.01 0.005
杂散光 5×10-5 1×10-5
焦平面（mm） 30（w）×14（h）
光轴高度（mm） 146
光栅规格（mm） 50×50 68×68
光栅台 双光栅 三光栅
狭缝规格 缝宽：0.01-3mm 连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2,4,14mm 可选
外形尺寸（mm） 300×216×213 420×295×232 550×288×220 800×338×218
重量（kg） 14 16 22 32.5
通讯接口 标配 USB2.0 标配 USB2.0，可选 RS-232
58 010-56370168 www.zolix.com.cn
规格参数表@不同光栅
光栅（g/mm） 2400 1800 1200 600 300 150 75
倒线色散（nm/mm）@435.83nm 1.4 2.16 3.58 7.68 15.76 31.89 64.09
机械扫描范围（nm） 0-600 0-800 0-1200 0-2400 0-4800 0-9600 0-19200
扫描步距（nm） 0.005 0.007 0.01 0.02 0.04 0.08 0.16
狭缝光谱分辨率
（nm）
10µm 0.08 0.1 0.15 0.3 0.6 1.2 ——
100µm —— —— 0.36 0.72 1.44 2.88 5.76
光谱分辨率（nm）@CCD（15µm） 0.106 0.163 0.27 0.58 1.19 2.41 4.84
CCD 单次摄谱范围（nm）
@30mmCCD 42 64.8 107.4 230.4 472.8 956.7 1922.7
波长准确度（nm） ±0.1 ±0.15 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±1.6 ±3.2
波长重复性（nm） 0.05 0.07 0.1 0.2 0.4 0.8 1.6
注 1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长 435.83nm，狭缝宽度为 10µm；镀金光谱仪在中心波长 632.8nm，狭缝宽度 100µm；
注 2：200i 光谱仪，只有侧入口，没有直入口；出口，只有侧出口才能配置 CCD 接口；出口狭缝无法配置电动狭缝。
注 3：CCD 单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为 435.83nm 下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注 4：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小；随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。
规格参数表（@1200g/mm光栅）
Omni-λ200i系列
焦距（mm） 200
相对孔径 F/3.5
光学结构 C-T
扫描步距（nm） 0.01
杂散光 5X10-5
焦平面（mm） 30 （w）X14 （h）
光轴高度（mm） 146
光栅规格（mm） 50X50
谱仪出射全角 14.7°
光栅台 双光栅
狭缝规格 缝宽 0.01-3mm 连续手动可调，可选配自动狭缝。缝高：2、4、14mm 可选
外形尺寸（mm） 300X216X213
重量（Kg） 15
功耗 峰值 100W@24V
通讯接口 标配 USB2.0
■ 光谱范围广，灵敏度高，测量精准度高；
■ 优良的机械和温度稳定性，绝对保证产品的一致性；
■ 预留各种接口，兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能，方便集成到系
统中;
■ 成本低，操作简单，是OEM应用的理想选择;
■ 采用超环面影像校准设计，光谱影像校正，多通道光谱研究的最佳
解决方案；
■ 出色的杂散光抑制比（5X10-5）；
■ 双光栅塔台设计，覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围，即插即用，只需
零级校正，实验操作更加方便；
■ 多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选
■ 多种附件可选，包括：滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等；
■ 可与光源、探测器自由组合，实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光
谱及光源发射光谱测试。
Omni-λ 200i系列“影像谱王” 光栅单色仪/ 光谱仪
010-56370168 www.zolix.com.cn 59
光谱仪
型号 描述
Omni-λ2002i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅
Omni-λ2003i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅
Omni-λ2005i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅
Omni-λ2007i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅
Omni-λ2015i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅，红外镀膜
Omni-λ2017i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅，红外镀膜
Omni-λ2045i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅，紫外增强镀膜
Omni-λ2047i 200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅，紫外增强镀膜
典型Omni-λ200i外形尺寸图：
注1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）；
注2：本型号系列，需要额外选配光栅，最多可配置2块光栅；
注3：本型号系列，不包含滤光片轮、快门等附件，需要额外选择配置；CCD出口已配置CCD接口法兰；
注4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。
注1：Omni-λ200i的CCD出口，默认已经安装法兰；
注 2：Omni-λ200i 默认配置手动狭缝，如果选配其它狭缝，请查看相关狭缝的尺寸图。
手动狭缝尺寸图 CCD接口法兰尺寸图
Omni-λ2003i 外形尺寸 Omni-λ2007i外形尺寸
Omni-λ200i前视图
典型型号表
60 010-56370168 www.zolix.com.cn
垫块（标配） 滤光片轮（选配）
手动狭缝（标配） 手动狭缝
（标配）
Omni-λ200i侧入狭缝
样品室 样品室
光纤 光纤
Omni-λ200i入口
Omni-λ200i出口
Omni-λ200i直出狭缝 Omni-λ200i侧出口
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器BFC-447
探测器 探测器
SD25-R
OMWSLIT
BFC-
BFC-
Sample Chamber
Spacer(Standard)
SD25-R
mm Manual Slit
15mm Motorized Slit
OMWSLIT
BFC-
BFC-
Side input port
ESLIT
EMWSLIT
Omni spectrographs
λ200i Input Port
ESLIT
(Standard)
Omni-
Filter Wheel
3mm Manual Slit
mm Motorized Slit
15mm Motorized Slit
SAC-FLUO
Fiber
Spacer(Standard)
SAC-FLUO
Fiber
ESLIT
CCD
210PC
BFC-442
BFC-443
SAC-FLUO
CCD法兰
手动狭缝
（标配）
电动狭缝
（选配）
i Output Port
Side/ Front output port(slit)
ESLIT
OMWSLIT
BFC-441
Sample Chamber
样品室
光纤
光纤-谱仪
连接器
BFC-447
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
Omni-λ200i Output Port
Side/ Front output port(slit)
Sample Chamber
Sample Chamber
010-56370168 www.zolix.com.cn 61
光谱仪
规格参数表（@1200g/mm光栅）
Omni-λ300i 系列
焦距（mm） 320
相对孔径 F/4.2
光学结构 C-T
扫描步距（nm） 0.005
杂散光 1X10-5
焦平面（mm） 30 （w）X14 （h）
光轴高度（mm） 146
光栅规格（mm） 68X68
谱仪出射全角 12.5°
光栅台 三光栅
狭缝规格 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝。缝高：2、4、14mm可选
外形尺寸（mm） 420X295X232
重量（Kg） 28
功耗 峰值100W@24V
通讯接口 标配USB2.0，RS-232
规格参数表@不同光栅
光栅（g/mm） 2400 1800 1200 600 300 150 75
倒线色散（nm/mm）@435.83nm 0.91 1.39 2.29 4.87 9.97 20.13 40.43
机械扫描范围（nm） 0-600 0-800 01200 0-2400 0-4800 09600 019200
扫描步距（nm） 0.0025 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.04 0.08
狭缝光谱分辨率
（nm）
10µm 0.05 0.07 0.08 0.16 0.32 0.64 ——
100µm —— —— 0.23 0.46 0.92 1.84 3.7
光谱分辨率（nm）@CCD（15μm） 0.069 0.105 0.173 0.368 0.754 1.52 3.05
CCD单次拍谱范围（nm@30mmCCD） 27.6 41.7 68.7 146.1 299.1 603.9 1212.9
波长准确度（nm） ±0.1 ±0.15 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±1.6 ±3.2
波长重复性（nm） 0.015 0.02 0.025 0.05 0.1 0.4 0.8
注 1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长 435.83nm，狭缝宽度为 10µm；镀金光谱仪在中心波长 632.8nm，狭缝宽度 100µm；
注 2：CCD 单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为 435.83nm 下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注 3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长的减小，倒线色散数值增大；
注 4：直入狭缝无法配置电动狭缝。
Omni-λ300i系列
“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪
■标准配置手动狭缝，自动狭缝可选；
■双出口可同时配置两个CCD；
■侧入口可接电子快门；
■采用C-T结构设计，采用超环面影像校准设计；
■多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围
的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；
■光栅采用68x68mm（68x84mm）大面积光栅，提高了光收集效率:
适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围;针对红外
（>1µm）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光
反射效率；
■更好的杂散光抑制比，达到1x10-5
；
■仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用
USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单
化，更极大提高了通讯速率；
■采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需
要选择双入、出口;双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定
位更精准；
■可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建
实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及
光源发射光谱系统等。
62 010-56370168 www.zolix.com.cn
典型型号表
型号w 描述
Omni-λ3004i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3005i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3006i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3007i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3008i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3015i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜
Omni-λ3017i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜
Omni-λ3024i 320mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3027i 320mm焦距影像校正光谱仪，双入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3028i 320mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ3047i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，紫外镀膜
Omni-λ3048i 320mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅，紫外镀膜
注1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）；
注2：本型号系列，需要额外选配光栅，最多可配置3块光栅；
注3：本型号系列，不包含CCD接口法兰、滤光片轮、快门，这些附件需要额外选择；
注4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。
典型光谱仪Omni-λ300i外形尺寸图：
手动狭缝尺寸图
Omni-λ3028i 外形尺寸 Omni-λ3023i外形尺寸
Omni-λ300i双入口前视图
CCD出口接口尺寸图
（可利用M3或M5螺纹来安装CCD转接法兰板）
■注1：针对不同的CCD，需要选配CCD转接法兰；
■注2：Omni-λ300i默认配置手动狭缝，如果选配其它狭
缝，请查看相关狭缝的尺寸图；
■注3：拆掉光谱仪底脚，内有M10螺纹孔，可用于固定光
谱仪。
010-56370168 www.zolix.com.cn 63
光谱仪
Omni-λ300i入口
Omni-λ300i侧入狭缝
Omni-λ300i出射狭缝/CCD出口
Omni-λ300i直入狭缝
Omni-λ300i出口
CCD
垫块（标配） 滤光片轮（选配）
Omni-λ200
SD
mm Manual Slit
EMSLIT
mm Motorized Slit
EMWSLIT
mm Motorized Slit
Si Detector
442
SD25-R
mm Motorized Slit
手动狭缝（标配）
手动狭缝（标配）
电动狭缝
（选配）
i Input Port
SD25-R
ESLIT
EMSLIT
443
442
Sample Chamber
Omni spectrographs
ESLIT
Fiber Adapter
Sample Chamber
样品室
光纤
光纤-谱仪
连接器
BFC-447
Omni spectrographs
(Standard)
BFC-441
Sample Chamber
样品室
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
光纤-谱仪
连接器
BFC-447
OMSLIT
OMWSLIT
PMT Series
CCD法兰
探测器
InGaAs Detector
PbS Detector
HVC1800
DCS210
光纤
Spectroscopy Instruments
i Input Port
SAC-FLUO
Fiber
手动狭缝
（标配）
电动狭缝
（选配）
ESLIT
OMSLIT
OMWSLIT
BFC-447
InAs Detector
样品室
光纤
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
200i Input Port
Side/ Front output port(slit)
Spacer(Standard) Filter Wheel
mm Manual Slit
mm Manual Slit
3mm Motorized Slit
OMSLIT
mm Motorized Slit
EMWSLIT
mm Motorized Slit
PbS Detector
1800
210PC
SAC-FLUO
64 010-56370168 www.zolix.com.cn
规格参数表（@1200g/mm光栅）
Omni-λ500i系列
焦距（mm） 500
相对孔径 F/6.5
光学结构 C-T
扫描步距（nm） 0.005
杂散光 1X10-5
焦平面（mm） 30 （w）X14 （h）
光轴高度（mm） 146
光栅规格（mm） 68X68
谱仪出射全角 7.8°
光栅台 三光栅
狭缝规格 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝。缝高：2、4、14mm可选
外形尺寸（mm） 550X288X232
重量（Kg） 30
功耗 峰值100W@24V
通讯接口 标配USB2.0，RS-232
规格参数表@不同光栅
光栅（g/mm） 2400 1800 1200 600 300 150 75
倒线色散（nm/mm）@435.83nm 0.6 0.91 1.49 3.15 6.43 12.97 26.05
机械扫描范围（nm） 0-600 0-800 0-1200 0-2400 0-4800 0-9600 0-19200
扫描步距（nm） 0.0025 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.04 0.08
狭缝光谱分辨率
（nm）
10μm 0.03 0.04 0.05 0.1 0.2 0.4 ——
100μm —— —— 0.17 0.34 0.68 1.36 2.72
光谱分辨率（nm）@CCD（15μm） 0.045 0.069 0.11 0.238 0.486 0.98 1.97
CCD单次摄谱范围（nm）@30mmCCD 18 27.3 44.7 94.5 192.9 389.1 781.5
波长准确度（nm） ±0.1 ±0.14 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±1.6 ±3.2
波长重复性（nm） 0.05 0.02 0.025 0.05 0.1 0.4 0.8
注1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长435.83nm，狭缝宽度为10µm；镀金光谱仪在中心波长632.8nm，狭缝宽度100µm；
注2：CCD一次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。
Omni-λ500i系列
“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪
■ 标准配置手动狭缝，自动狭缝可选；
■ 双出口可同时配置两个CCD；
■ 侧入口可接电子快门；
■ 采用C-T结构设计，采用超环面影像校准设计；
■ 多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围
的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；
■ 光栅采用68x68mm（68x84mm）大面积光栅，提高了光收集效率;
适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围;针对红
外（>1µm）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红
外光反射效率；
■ 更好的杂散光抑制比，达到1x10-5
；
■ 仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用
USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化
更极大提高了通讯速率；
■ 采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根
据需要选择双入、出口;双入、出口的控制通过计算机软件自动控
制，定位更精准；
■ 可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭
建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收
光谱及光源发射光谱系统等。
010-56370168 www.zolix.com.cn 65
光谱仪
典型型号表
型号 描述
Omni-λ5004i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5005i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5006i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5007i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5008i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5015i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜
Omni-λ5017i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜
Omni-λ5024i 500mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5027i 500mm焦距影像校正光谱仪，双入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5028i 500mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ5047i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，紫外增强镀膜
Omni-λ5048i 500mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅，紫外镀膜
注1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）；
注2：本型号系列，需要额外选配光栅，最多可配置3块光栅；
注3：本型号系列，不包含CCD接口法兰、滤光片轮、快门，这些附件需要额外选择；
注4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。
典型光谱仪Omni-λ500i外形尺寸图：
手动狭缝尺寸图
Omni-λ5028i 外形尺寸 Omni-λ5023i外形尺寸
Omni-λ500i双入口前视图
CCD出口接口尺寸图
（可利用M3或M5螺纹来安装CCD转接法兰板）
注1：针对不同的CCD，需要选配CCD转接法兰；
注2：Omni-λ500i默认配置手动狭缝，如果选配其它狭缝，请查看相关
狭缝的尺寸图；
注3：拆掉光谱仪底脚，内有M10螺纹孔，可用于固定光谱仪。
66 010-56370168 www.zolix.com.cn
Omni-λ500i入口
Omni-λ500i侧入狭缝 Omni-λ500i直入狭缝
Omni-λ500i出射狭缝/CCD出口
Omni-λ500i出口
垫块（标配） 滤光片轮（选配）
Side input port
Side/ Front output port(slit)
SD
EMSLIT
mm Motorized Slit
mm Motorized Slit
442
Fiber Adapter
Side input port
200i
Spacer(Standard)
SD25-R
mm Motorized Slit
手动狭缝
（标配）
手动狭缝
（标配）
电动狭缝
（选配）
电动狭缝
（选配）
ESLIT
(Standard)
SAC
25-R
ESLIT
(Standard)
OMSLIT
mm Motorized Slit
EMWSLIT
OMWSLIT
BFC-443
样品室
样品室
光纤
光纤
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
Omni spectrographs
Spacer(Standard)
mm Manual Slit
ESLIT
Fiber Adapter
SAC-FLUO
200i Input Port
Side/ Front output port(slit)
Spacer(Standard) Filter Wheel
mm Manual Slit
3mm Motorized Slit
OMSLIT
15mm Motorized Slit
EMWSLIT
SAC-FLUO
SAC
CCD
手动狭缝（标配） 电动狭缝
（选配）
Omni-200i Input Port
Filter Wheel
ESLIT
EMSLIT
443
442
Sample Chamber
样品室
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
光纤-谱仪
连接器
BFC-447
Front/Side output port(CCD / slit)
OMSLIT
OMWSLIT
PMT Series
CCD法兰
探测器
InGaAs Detector
HVC1800
光纤
SAC-FLUO
Fiber
010-56370168 www.zolix.com.cn 67
光谱仪
规格参数表（@1200g/mm光栅）
Omni-λ750i系列
焦距（mm） 750
相对孔径 F/9.7
光学结构 C-T
扫描步距（nm） 0.005
杂散光 1X10-5
焦平面（mm） 30 （w）X14 （h）
光轴高度（mm） 146
光栅规格（mm） 68X68
谱仪出射全角 5.2°
光栅台 三光栅
狭缝规格 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝。缝高：2、4、14mm可选
外形尺寸（mm） 800X338X230
重量（Kg） 40
功耗 峰值100W@24V
通讯接口 标配USB2.0，RS-232
规格参数表@不同光栅
光栅（g/mm） 2400 1800 1200 600 300 150 75
倒线色散（nm/mm）@435.83nm 0.43 0.63 1.02 2.14 4.36 8.77 17.58
机械扫描范围（nm） 0-600 0-800 0-1200 0-2400 0-4800 0-9600 0-19200
扫描步距（nm） 0.0025 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.04 0.08
狭缝光谱分辨率
（nm）
10μm 0.02 0.03 0.03 0.06 0.12 0.24
100μm —— —— 0.11 0.22 0.44 0.88 1.76
光谱分辨率（nm）@CCD（15μm） 0.033 0.048 0.077 0.162 0.33 0.663 1.329
CCD单次摄谱范围（nm）@30mmCCD 12.9 18.9 30.6 64.2 130.8 263.1 527.4
波长准确度（nm） ±0.1 ±0.15 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±1.6 ±3.2
波长重复性（nm） 0.015 0.02 0.025 0.05 0.1 0.4 0.8
注 1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长 435.83nm，狭缝宽度为 10µm；镀金光谱仪在中心波长 632.8nm，狭缝宽度 100µm；
注 2：CCD 一次摄谱范围、倒线色散为中心波长为 435.83nm 下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注 3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。
Omni-λ750i系列
“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪
■ 标准配置手动狭缝，自动狭缝可选；
■ 双出口可同时配置两个CCD；
■ 侧入口可接电子快门；
■ 采用C-T结构设计，采用超环面影像校准设计；
■ 多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱
范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；
■ 光栅采用68x68mm（68x84mm）大面积光栅，提高了光收集效
率;适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围;
针对红外（>1µm）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设
计，提高红外光反射效率；
■ 更好的杂散光抑制比，达到1x10-5
；
■ 仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并
用 USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加
简单化更极大提高了通讯速率；
■ 采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可
根据需要选择双入、出口;双入、出口的控制通过计算机软件自动
控制，定位更精准；
■ 可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭
建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、
吸收光谱及光源发射光谱系统等。
68 010-56370168 www.zolix.com.cn
典型型号表
型号 描述
Omni-λ7504i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7505i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7506i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7507i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7508i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7515i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜
Omni-λ7517i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜
Omni-λ7524i 750mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7527i 750mm焦距影像校正光谱仪，双入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7528i 750mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅
Omni-λ7547i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，紫外镀膜
Omni-λ7548i 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅，紫外镀膜
注 1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）；
注 2：本型号系列，需要额外选配光栅，最多可配置 3 块光栅；
注 3：本型号系列，不包含 CCD 接口法兰、滤光片轮、快门，这些附件需要额外选择；
注 4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。
典型光谱仪Omni-λ750i外形尺寸图：
手动狭缝尺寸图
Omni-λ7528i 外形尺寸 Omni-λ7523i 外形尺寸
Omni-λ750i 双入口前视图
CCD 出口接口尺寸图
（可利用 M3 或 M5 螺纹来安装 CCD 转接法兰板）
注1：针对不同的CCD，需要选配CCD转接法兰；
注2：Omni-λ500i默认配置手动狭缝，如果选配其它狭缝，请查看相关
狭缝的尺寸图；
注3：拆掉光谱仪底脚，内有M10螺纹孔，可用于固定光谱仪。
010-56370168 www.zolix.com.cn 69
光谱仪
Omni-λ750i入口
Omni-λ750i侧入狭缝
Omni-λ750i出射狭缝/CCD出口
Omni-λ750i出口
Omni-λ750i直入狭缝
垫块（标配） 滤光片轮（选配）
Side/ Front output port(slit)
SD
EMSLIT
mm Motorized Slit
InGaAs Detector
442
i
Spacer(Standard)
SD25-R
mm Motorized Slit
mm Motorized Slit
CCD
手动狭缝（标配） 电动狭缝
（选配）
Omni-i Input Port
SD25-R
ESLIT
EMSLIT
443
442
Sample Chamber
样品室
光纤
光纤谱仪
连接器
BFC-447-MS
光纤-谱仪
连接器
BFC-447
Omni-
SAC
Fiber
OMSLIT
OMWSLIT
PMT Series
CCD法兰
探测器
OMWSLIT
Si Detector
InGaAs Detector
PbS Detector
HVC
手动狭缝
（标配）
手动狭缝
（标配）
电动狭缝
（选配）
电动狭缝
（选配）
Side input port
ESLIT
(Standard)
Sample Chamber
-R
ESLIT
(Standard)
mm Motorized Slit
EMWSLIT
OMWSLIT
DCS300PA
PMT Series
样品室
样品室
光纤
光纤
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
Omni spectrographs
Spacer(Standard)
mm Manual Slit
ESLIT
SAC-FLUO
200i Input Port
Spacer(Standard) Filter Wheel
mm Manual Slit
OMSLIT
15mm Motorized Slit
EMWSLIT
PbS Detector
210PC
SAC-FLUO
70 010-56370168 www.zolix.com.cn
Omni-λ S系列“影像谱王” 光栅单色仪/ 光谱仪
作为 Omni-λ300i 系列光谱仪的升级版本，Omniλ300s 光谱仪采用全新的光路设计，极大提高了光收集
效率。采用一体化机身和优化的结构设计，使光谱仪的
稳定性进一步提升。同时对整机进行了轻量化设计，使
光谱仪的使用更加便利。
功能及特点
规格参数表(@1200g/mm光栅条件下)
■ 一体化机身设计，提高系统稳定性；
■ 优化的光路设计，使收光效率明显提升，紫外波
段效率最大可提高约50%。
■ 轻量化的结构设计，整机减重约20%，提高使用
便利性。
型号 Omni-λ300s
焦距 (mm) 320
相对孔径 F/4.2
扫描范围 (nm) 0 ～ 1200
光谱分辨率 (nm)-PMT 0.08
波长准确度 (nm) ±0.2
波长重复性 (nm) ±0.025
最小步距 (nm) 0.005
焦平面尺寸 (mm) 30 (w) × 14 (h)
光轴高度 (mm) 145.6~160.6
光栅规格 (mm) 68 × 68
光栅台 三光栅
狭缝规格 缝宽 0.01-3mm 连续手动可调，可选配自动狭缝；逢高 2,4,14 可更换
外形尺寸 (mm)、重量（kg） 448 × 416 × 236 (L × W × H)，20kg
通讯接口 标配 USB2.0，可选 RS-232
系列光谱仪的功能特点
Functional characteristics of Omni
Omni-λ300s紫
外波段效率提升
20%~50%
光谱仪输出相对强度（使用1800g/mm@500nm光栅测试）
2.4 升级型 Omni-λ S 系列“影像谱王”光栅光谱仪
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光谱仪
规格参数表@不同光栅
光栅 (g/mm) 2400 1800 1200 600 300 150 75
倒线色散 (nm/mm) 0.91 1.39 2.29 4.87 9.97 20.13 40.43
机械扫描范围 (nm) 0~600 0~800 0~1200 0~2400 0~4800 0~9600 0~19200
扫描步距 (nm) 0.0025 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.04 0.08
狭缝光谱分辨率 (nm)
10um 0.05 0.07 0.08 0.16 0.32 0.64 ───
100um ── ── 0.23 0.46 0.92 1.84 3.7
光谱分辨率 (nm)-CCD(15um) 0.069 0.105 0.173 0.368 0.754 1.52 3.05
CCD 单次摄谱范围 (nm@30mm CCD) 27.6 41.7 68.7 146.1 299.1 603.9 1212.9
波长准确度 (nm) ±0.1 ±0.15 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±1.6 ±3.2
波长重复性 (nm) 0.015 0.02 0.025 0.05 0.1 0.4 0.8
典型型号表
型号 描述
Omni-λ3004s 侧入口、CCD 双出口
Omni-λ3005s 侧入口、狭缝直出口
Omni-λ3006s 侧入口、CCD 直出口
Omni-λ3007s 侧入口、狭缝双出口
Omni-λ3008s 侧入口、CCD 直出口、狭缝侧出口
Omni-λ3015s 侧入口、狭缝直出口、红外镀膜
Omni-λ3017s 侧入口、狭缝双出口、红外镀膜
Omni-λ3024s 双入口、CCD 双出口
Omni-λ3027s 双入口、狭缝双出口
Omni-λ3028s 双入口、CCD 直出口、狭缝侧出口
Omni-λ3047s 侧入口、狭缝双出口、紫外镀膜
Omni-λ3048s 侧入口、CCD 直出口、狭缝侧出口、紫外镀膜
注1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）。
注2：本型号系列，需要额外选配光栅，最多可配置3块光栅。
注3：本型号系列，不包含滤光片轮、快门，需要额外选择附件。
Omni-λ3028s外形尺寸图 手动狭缝尺寸图
注1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长435.83nm，狭缝宽度10um；镀金光谱仪在中心波长632.8nm，狭缝宽度100um。
注2：CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄。
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长减小，倒线色散数值增大。
注4：直入狭缝无法配置电动狭缝。
72 010-56370168 www.zolix.com.cn
规格参数表（@1200g/mm 光栅）
Omni-λ750S 系列
焦距 (mm) 750
相对孔径 F/9.7
光学结构 C-T
扫描步距（nm） 0.005
杂散光 1×10-5
焦平面尺寸 30 (w) × 14 (h)
光轴高度 (mm) 146
光栅规格 68 × 68
谱仪出射全角 5.2°
光栅台 三光栅
狭缝规格 缝宽 0.01mm-3mm 连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高 2mm、4mm、14mm 可更换
外形尺寸 (mm) 800 × 338 × 230
重量（kg） 40kg
功耗 峰值 100W@24V
通讯接口 标配 USB2.0，RS-232
规格参数表 @ 不同光栅
光栅 (g/mm) 2400 1800 1200 600 300 150 75
倒线色散 (nm/mm) 0.43 0.63 1.02 2.14 4.36 8.77 17.58
机械扫描范围 (nm) 0~600 0~800 0~1200 0~2400 0~4800 0~9600 0~19200
扫描步距 (nm) 0.0025 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.04 0.08
狭缝光谱分辨率
(nm)
10um 0.02 0.03 0.03 0.06 0.12 0.24 ───
100um ── ── 0.11 0.22 0.44 0.88 1.76
光谱分辨率 (nm)-CCD(15um) 0.026 0.033 0.054 0.112 0.23 0.46 0.92
CCD 单次摄谱范围 (nm@30mm CCD) 12.9 18.9 30.6 64.2 130.8 263.1 527.4
波长准确度 (nm) ±0.1 ±0.15 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±1.6 ±3.2
波长重复性 (nm) 0.015 0.02 0.025 0.05 0.1 0.4 0.8
注 1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长 435.83nm，狭缝宽度 10um；镀金光谱仪在中心波长 632.8nm，狭缝宽度 100um；
注 2：CCD 单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为 435.83nm 下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注 3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长减小，倒线色散数值增大；
功能及特点
Omni-λ750S系列
“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪
■ 标准配置手动狭缝，自动狭缝可选；
■ 双出口可同时配置两个CCD；
■ 双入口可接电子快门；
■ 采用C-T结构设计，采用超环面影像校准设计；
■ 多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围
的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；
■ 光栅采用68x68mm(68x84mm)大面积光栅，提高了光收集效率;适
应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围;针对红外
(>1um) 波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光
反射效率；
作为 Omni-λ750i 系列光谱仪的升级版本，Omni-λ750S 光
谱仪进行光路优化设计，极大提高影像质量，配合 CCD 使用时，
可获得了更高的光谱分辨率。同时对机械结构进行了优化升级，
使光谱仪的稳定性进一步提升。
■ 更好的杂散光抑制比，达到1x10-5
；
■ 仪器的控制(如光栅转换、波长扫描等)全部由计算机控
制，并用 USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使
仪器的连接更加简单化更极大提高了通讯速率；
■ 采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵
活性，可根据需要选择双入、出口;双入、出口的控制通
过计算机软件自动控制，定位更精准；
■ 可灵活与卓立光源、探测器(单点探测器和阵列CCD等)组
合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、
透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等。
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光谱仪
典型型号表
型号 描述
Omni-λ7504s 侧入口、CCD 双出口
Omni-λ7505s 侧入口、狭缝直出口
Omni-λ7506s 侧入口、CCD 直出口
Omni-λ7507s 侧入口、狭缝双出口
Omni-λ7508s 侧入口、CCD 直出口、狭缝侧出口
Omni-λ7515s 侧入口、狭缝直出口、红外镀膜
Omni-λ7517s 侧入口、狭缝双出口、红外镀膜
Omni-λ7524s 双入口、CCD 双出口
Omni-λ7527s 双入口、狭缝双出口
Omni-λ7528s 双入口、CCD 直出口、狭缝侧出口
Omni-λ7547s 侧入口、狭缝双出口、紫外镀膜
Omni-λ7548s 侧入口、CCD 直出口、狭缝侧出口、紫外镀膜
注 1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）
注 2：本型号系列，需要额外选配光栅，最多可配置 3 块光栅；
注 3：本型号系列，不包含滤光片轮、快门，需要额外选择附件。
典型光谱仪 Omni-λ750S 外形尺寸图：
手动狭缝尺寸图
Omni-λ7528S 外形尺寸 Omni-λ7523S 外形尺寸
Omni-λ750S 双入口前视图
CCD 出口接口尺寸图
（可利用 M3 或 M5 螺纹来安装 CCD 转接法兰板）
注 1：针对不同的 CCD，需要选配 CCD 转接法兰；
注 2：Omni-λ750S 默认配置手动狭缝，如果选配其它狭缝，请查看相
关狭缝的尺寸图；
注 3：拆掉光谱仪底脚，内有 M10 螺纹孔，可用于固定光谱仪。
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Omni-λ750S 入口
Omni-λ750S侧入狭缝
Omni-λ750S出射狭缝/CCD出口
Omni-λ750S出口
Omni-λ750S直入狭缝
垫块（标配） 滤光片轮（选配）
Side/ Front output port(slit)
SD
EMSLIT
mm Motorized Slit
442
Fiber Adapter
i
Spacer(Standard)
SD25-R
mm Motorized Slit
mm Motorized Slit
CCD
手动狭缝（标配） 电动狭缝
（选配）
Omni-i Input Port
SD25-R
ESLIT
EMSLIT
443
442
Sample Chamber
样品室
光纤
光纤谱仪
连接器
BFC-447-MS
光纤-谱仪
连接器
BFC-447
Omni-
SAC
Fiber
OMSLIT
OMWSLIT
PMT Series
CCD法兰
探测器
OMWSLIT
Si Detector
InGaAs Detector
PbS Detector
HVC
手动狭缝
（标配）
手动狭缝
（标配）
电动狭缝
（选配）
电动狭缝
（选配）
ESLIT
(Standard)
Sample Chamber
-R
ESLIT
(Standard)
mm Motorized Slit
EMWSLIT
OMWSLIT
PMT Series
BFC-447
样品室
样品室
光纤
光纤
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器BFC-447
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
光纤-谱仪
连接器
BFC-447-MS
Omni spectrographs
Spacer(Standard)
mm Manual Slit
ESLIT
SAC-FLUO
200i Input Port
Spacer(Standard) Filter Wheel
mm Manual Slit
OMSLIT
15mm Motorized Slit
EMWSLIT
SAC-FLUO
SAC
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光谱仪
Kymera 193i 自动聚焦光谱仪
Kymera 系列光栅光谱仪具有以
下特点 : 自动聚焦技术，自动识别光
栅塔轮，双出口。
主要特点:
■ 自动聚焦(专利技术)
■ RFID光栅识别
■ 像差校正
■ USB数据接口
Kymera 328i 自动聚焦四光栅光谱仪
Kymera328i 是 Andor 最新推出的新
一代智能光谱仪，在 193i 的基础上新增
了 TruResTM 分辨率一键提高功能，并支
持四块光栅。
主要特点:
■四光栅塔轮&RFID识别
■TruResTM分辨率一键增强
■ 双入双出口选项
■自动聚焦(专利技术)
Shamrock 500i 研究级高性能影像校正光谱仪
作为通用型光栅光谱仪系列中销售量最大的光谱仪，
SR-500i 在各种不同的实验环境里，具有最大的使用灵活
性。SR-500i 已经做了精确的校准，有利于减少用户的维
护工作量。SR-500i 可以根据用户的实验需求，提供多至
2 个电动入口，2 个出口，可以方便地接用两种光源 / 两
台探测器，或通过光学器件的导引，同时服务于两个不同
的光学实验，真正做到一机多用，极大地提高了使用过程
中的便利性。
主要特点:
■良好的影像校正品质，优化的环形镜保证高密度多路光谱应用
■双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求
■支持单点探测器，波长最大可达25µm
■光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能
Shamrock和Kymera系列光谱仪
2.5 Andor Shamrock 和 Kymera 系列光谱仪
76 010-56370168 www.zolix.com.cn
超高的光通量
超高的光收集效率
宽波段范围
紧凑坚固的设计
高光谱分辨率
极高的衍射效率
几乎完美的光谱成像质量
F/# ：F/2.3
完美的光纤耦合能力 ：能够 100% 收集 NA0.22 光纤导入的
光信号
高透射 VPH 光栅保证了高衍射效率，增透镀膜透镜确保了
最大的通光效率，从而实现了可见或近红外最大的通光量
大面阵 CCD 相机实现的宽光谱采集范围
所有部件作为一个整体模块进行预调校，光路稳定，不会
受到运输过程中的碰撞影响
VPH 光栅 -- 具有平滑且极高的衍射效率
与传统的 C-T 模式光谱仪相比，在 30mm 像面上进行了
出色的光学像差校正，获得了极佳的图像质量，从而获得了更
好的空间分辨率和光谱分辨率，也保证了近轴多通道采集的最
小串扰和拉曼偏移
成像模式下的氖灯光谱测试条件 ：20 芯光纤束 / 100µm 芯径
衍射效率@532 光栅 衍射效率@785 光栅
主要技术特点
1790 1795 1800 1805 1810
0
5000
10000
15000
20000
Resolution of Omni-iSpecT785, FWHM 2.1cm-1@912.297nm
Raman Shift/cm-1
1725 1730 1735 1740 1745 1750 1755 1760 1765 1770
0
2000
4000
6000
8000
Resolution of Omni-iSpecT532, FWHM 4.7cm-1@585.25nm
Scattering Intensity (a.u.)
Raman Shift/cm-1
卓立汉光 Omni-iSpecT 是专为拉曼等需要高光通量与高灵敏度应用场景特殊设计的高性能光谱仪，目前具有可见 532nm 与近
红外 785nm 两个不同波长范围的配置。
Omni-iSpecT 光谱仪具有收光效率高、信噪比好等特点，这对于测量微弱的发光信号例如拉曼等是非常重要的，同时与深度
制冷的高灵敏度 CCD 相机完美结合，为可见光和近红外波段的微弱光信号采集应用提供了最佳的解决方案。
Omni-iSpecT 整体设计非常紧凑而且光学元件固化封装，因此得到的数据结果非常稳定，对于外界振动敏感度极低，不但适
合科学研究，更加适合工业与恶劣环境下的现场应用，同时可以提供 SDK 开发包用于软件的二次开发。
透射式成像光谱仪
■气体探测
■共聚焦拉曼
■等离子体光谱检测
■工业过程控制
■体内或体外医疗诊断
■现场工业应用
■其他微弱光信号采集
2.6 Omni-iSpecT 高光通量透射式成像光谱仪
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光谱仪
应用：
乙醇溶剂拉曼光谱
（Omni-iSpecT785A1系统，高通量拉曼探头）
500 1000 1500 2000
0
500
1000
1500
2000
Raman spectrum of skin, 20s exposure time, 20mw laser power
Scattering Intensity (a.u.)
Raman Shift/cm-1
低压气体检测
500 1000 1500 2000 2500
0
2000
4000
6000
8000
Raman spectrum of 0.25% ethanol , 5s exposure time, 300mw laser power
Scattering Intensity (a.u.)
Raman Shift/cm-1
60s曝光时间下混合气体的拉曼光谱 60s曝光时间下空气的拉曼光谱
检测限（LOD unit:ppm）
气体化合物 1s曝光时间 60s曝光时间
CO2 23 3
CO 70 9
H2 39 5
CH4 15 2
C2H6 39 5
C2H4 15 2
C2H2 8 1
N2 155 20
O2 155 20
人体皮肤拉曼光谱
（Omni-iSpecT785A1系统，高通量拉曼探头）
乙醇拉曼光谱，0.25%浓度，5s曝光时间，300mW激光功率 皮肤拉曼光谱，20s 曝光时间，20mW 激光功率
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结构：
技术规格
尺寸：
Omni-iSpecT532
Omni-iSpecT785
型号 Omni-iSpecT532A1 Omni-iSpecT785A1
拉曼频移
波长宽度
0-4100cm-1
/532-680nm
-200-2400cm-1
/770-965nm
F/# F/1.8 F/2.3
焦距
（入射/出射） 85/85mm 100/100mm
光栅 1800l/mm VPH 1200l/mm VPH
CCD相机
背感光深耗尽CCD
有效像素2000×256
像素尺寸15μm
探测面尺寸30×3.8mm
背感光深耗尽CCD
有效像素2000×256
像素尺寸15μm
探测面尺寸30×3.8mm
可调入射狭缝 10μm-6mm 10μm-6mm
分辨率
（典型值）
@50µm狭缝
0.17nm
5cm-1
@585nm，
7cm-1 保证值
0.25nm
3cm-1
@912nm，
5cm-1 保证值
光纤适配器
XY可调光纤适配器
光纤接口：SMA，
10mm圆柱
XY可调光纤适配器
光纤接口：SMA/ MPO/10mm 圆
柱
快门 选配 选配
内置长波通滤光片
选配
直径50mm，
最低波数186cm-1
选配
直径50mm，
最低波数309cm-1
重量 5kg 5.8kg
1
3
2
4
操作和储存条件
■工作温度：10℃至40℃环境温度
■相对湿度：<80%（不凝结）
■入口保护：IP20
■储存温度：-20℃至70℃级
电源要求
■PS-12:110-240V交流电压，50-60Hz
OEM PSU建议：+12V，± 5%，最大5A
可选附件
■532nm长通滤光片
■785nm长通滤光片
■快门
1、光纤输入端口
2、增透膜透镜
3、VPH光栅
4、深度制冷CCD
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光谱仪
McPherson超高分辨率光谱仪
美国 McPherson 有限公司是一家专业的光谱仪生产厂商，公司位于波士顿西北部的 Chelmsford。自 1954 年为美国空气动力实
验室提供第一套光谱仪，服务于航空航天研究领域，50 多年来，McPherson 一直致力于为全世界的科研院所提供一流的光谱测试设
备。在 McPherson 的客户名单上，包括美国 NIST，中国 TOKAMAK 设备，贝尔实验室，欧洲联合环 JET，奥斯丁核聚变反应堆等
世界上众多一流的研究机构。
Mcpherson 公司拥有多种不同焦距、具有许多不同选配件的 C-T 型光谱仪可供您选择。焦距范围从 0.67 米到 2 米可选，可以满
足您几乎所有的光谱探测的需要。
McPerson 公司提供超长焦距的超高分辨率光谱仪解决方案，光谱分辨率最高可达 0.005nm
超高分辨率光谱仪一览表
型号 2061 209 2062
光学设计 对称 C-T 式 对称 C-T 式 对称 C-T 式
机械范围 0-1570nm 0-1570nm 0-1570nm
光谱范围 185nm-78µm 185nm-78µm 185nm-78µm
焦长 1000mm 1330mm 2000mm
光谱分辨率
@1200l/mm 0.018nm 0.01nm 0.005nm
线色散 0.83nm/mm 0.62nm/mm 0.42nm/mm
校正精度 0.05nm 0.05nm 0.05nm
光谱重复性 0.005nm 0.005nm 0.005nm
焦平面 50mm 50mm 50mm
通光孔径 f/7(f/8.6) f/9.4(f/11.6) f/14.1(f/17.4)
光栅尺寸 120x140(or110x110mm) 120x140(or 110x110mm) 120x140(or 110x110mm)
主要应用 辐射鉴定，拉曼光谱，材料科学 辐射鉴定，超精细结构，斯托克斯频移，
塞曼分裂
辐射鉴定，超精细结构，斯托克斯频移，
塞曼分裂
Double pass 可选 可选 可选
2.7 超高分辨率光谱仪
80 010-56370168 www.zolix.com.cn
特有的Double Pass设计光谱仪
在 McPherson 公司的光谱仪系列产品中，Double Pass 设计光谱仪显得尤为
特别。Double Pass 技术利用反射镜不同的反射点在同一个光谱仪中衍射两次，从
而使得光谱分辨率提高一倍即相当于光谱仪焦长增加一倍的同时，保持 f 数也就是
通光量不变，McPherson 所有的长焦长光谱仪都可以采用此类设计。如下图采用
了 Double Pass 设计的 Model 2061 型光谱仪，焦距相当于 2 m，光谱分辨率可提
高一倍，但是 f 数保持不变，仍然为 f/7
1 米焦距的 2061 型 Mcpherson 光谱仪是光通量及光谱分辨率最佳结合的产
品，为实验室光谱实验的理想选择。我们可提供两款 F 数为 7 的光谱仪，多使用
球面光学镜片，同时也可提供型号为 Model 2061A，该型号光谱仪的光学镜片为
由手工打磨抛光的离轴抛物面镜片，用于获得小尺寸影像的最佳成像效果。
非真空情况下，Model 2061 的光谱覆盖范围为 185nm 到 78 微米，真空情况下，
可以达到105nm(需要选择合适的光栅)，还可以采用折中的方式，如充气体方式(例
如氮气 )，以满足不同情况下的应用。Mcpherson 嵌入式光栅专利技术，可以在保
证一致性精度的情况下，轻松便捷的更换光栅，以获得更宽的光谱范围及更高的
分辨率，同时还可提供双塔轮附件，从而达到更轻松切换光栅的目的。
Mcpherson 涂层选用 Al+MgF 涂层镀膜，该涂层提供了非常好的光谱响应。另，
可根据要求提供其他镀膜方式 ( 金、银、铝等涂层 )。
Douple Pass 光路结构 :1. 入射狭缝；2. 出射狭缝； 3. 准
直反射镜； 4. 聚焦反射镜； 5. 光栅； 6. Double Pass 反
射镜；7. Double Pass 反射镜； 8. 中央孔径狭缝
■ 高分辨率和高光通量
■ 具有专利技术的\"嵌入式\"光栅
■ 光学成像&大尺寸焦平面
■ 阶梯光栅及大尺寸光栅可选，且安装简便。
■ 双光路/分辨率倍增光学系统(Double Pass 选项)
■ 多入口狭缝/出口狭缝的选择、
■ 高精度波长控制器、
■ 结构坚固
■ 可扩展更宽的波长范围、
■ 可选的功能配件包括:光栅塔轮架、光学成像模块、
多路光源及多种探测器。
2004 年 8 月 31 日，在
美国 SOLIS( 太阳长期光
学观测 ) 项目中安装的
Model 2062(DP) 光谱仪，
至今工作正常！ 数据实时
更新中！
Mcpherson-高分辨
率光谱仪仪器特点:
010-56370168 www.zolix.com.cn 81
光谱仪
中阶梯光栅光谱仪
中阶梯光栅光谱仪，不同于常规的 C-T 结构的光栅光谱仪。它使用特殊的中阶梯光栅作为分光器件，在 2D 方向上将不同波长、
不同级次的单色光区分开来，配用标准的成像 CCD 或 ICCD 作为探测器件，可以一次性地将特定波长范围内的信号拍摄下来，借由
软件的分析功能，还原出完整的光谱曲线。中阶梯光栅光谱仪中无转动部件，使用简单，无需扫描，无需进行光谱曲线的 \" 接合 \"，
即可获得一段完整的光谱。
中阶梯光谱仪是进行 LIBS、LIF、Plasma 等实验的有力实验工具。根据需要获取的信号性质不同，可以选配不同的探测器。若
只需要进行稳态光谱的测量，则使用 CCD 即可 ；若需要获取时间分辨的光谱，则 ICCD 是绝佳的搭配对象。
Andor 公司ME5000中阶梯光栅光谱仪:
ME5000 具有非常突出的技术优势 :
■ 软件温度校正功能，根据温度传感器的输出，由软件自动校正光谱精度
■ 提供恒定光谱分辨因子
■ 无需光栅扫描即可一次性得到230-975nm全谱数据
■ 一体化设计，内部无机械部分，稳定性高
■ 采用双棱镜分开不同级次的光，减小不同级次的串扰，串扰<1%
技术参数指标:
型号 ME5000
焦距长度 195mm
通光孔径 F/7
焦平面尺寸 13.3mm × 13.3mm
波长范围 230nm ~ 975nm
波长精度 <±0.05nm
分辨本领 (λ/Δλ) 6000
杂光抑制比 1.5×10-4
光学相邻级次的串扰 <1×10-2
波长采样通道数 26000
附件选项:
光源、光纤、快门、准直器
IRIS 中阶梯光谱仪 :
源自 ExoMars 火星探测任务，Spectral Industries 推出全新一代 IRIS 中阶梯光栅光谱仪。具
备中阶梯光栅光谱仪高分辨、全谱直读的优势，同时提供无以伦比的 F/2 口径，为目前效率最高
的中阶梯光栅光谱仪。紧凑的设计、精确的时间控制、坚固的结构和超高稳定性使得 IRIS 成为实
验室、现场及 OEM LIBS 应用的理想选择。
主要特点:
■ 宽光谱范围:180 - 800nm
■ 大相对口径:f/2
■ 高分辨率:0.10.45nm (25µm×100µm狭缝)
■ 高度稳定性:波长漂移 < 5ppm/K
■ 订制探测器:紫外敏感 CMOS探测器
■ 精密时序控制:100ns延时分辨率，10ns延时抖动；快门时间:最小28µs
■采集速率:20fps(全光谱采集)
■紧凑坚固:220mm×195mm×80mm，3kg
(包括相机)，业界最小巧、最轻便
■电脑接口:Ethernet
IRIS 传统中阶梯光谱仪 C-T 结构光栅光谱仪 多通道掌上光谱仪
光谱范围 180 - 800nm 220 - 800nm 50nm 覆盖 180nm - 1µm
相对口径 F/2 F/7 F/7 N/A
延时步长 100ns 5ps* 5ps* 450ns
触发抖动 +/-10ns +/- 25ps* +/- 25ps* +/-10ns
最短快门 28us 2ns* 2ns* 1ms
体积 220×195×80
含探测器
210×120×85
不含探测器
600×320×200
不含探测器 460×150×165
重量 3kg 含探测器 2kg 不含探测器 25kg 不含探测器 7kg
分辨率 0.10.45nm 优于 0.1nm 0.1nm* 0.1nm
2.8 中阶梯光栅光谱仪
82 010-56370168 www.zolix.com.cn
Mcpherson 的高光通量光谱仪系列均采用大口径的光学元件，特别是大口径的光栅尺寸，以获得非凡的聚光效果与光通量！ 同
时嵌入式光栅结构，方便更换光栅，无需校正。出射狭缝在水平和竖直方向均电动可调，方便接单点或者阵列探测器；光栅绕端面转动，
成像能力优异，适用于信号非常微弱的成像和光谱实验。
高光通量光谱仪一览
型号 272 2035 205 207
光学设计 校正光栅 对称 C-T 式 对称 C-T 式 对称 C-T 式
波长范围 185-1250nm 185-1300nm 185-1300nm 185-1300nm
焦长 200mm 350mm 500mm 667mm
光谱分辨率 1.6nm 0.05nm 0.04nm 0.03nm
线色散 4nm/mm 2nm/mm 1.67nm/mm 1.24nm/mm
校正精度 2nm 0.2nm 0.1nm 0.05nm
光谱重复性 0.1nm 0.005nm 0.005nm 0.005nm
焦平面 25mm 30mm 30mm 50mm
通光孔径 f/2(NA0.5) f/4.8 f/3.2-4.3-6.9 f/4.7(f/5.8)
光栅尺寸 104mm 直径 68x68mm 110*110mm(120*150) 120x140(110x110mm)
主要应用 显微光谱学，高强度可调单
色光 拉曼，荧光光谱 拉曼，光致发光，荧光，发射，
反射和透射光谱
多级拉曼，高通光量高分辨率
光谱
其他 可任意方向放置 可选双级联 四光栅塔轮可选 可选 Double Pass
Model 205 型高通量光谱仪
205 的三款不同型号的谱仪的开发，用以满足各种各样的实验的要求，半米长
焦距的谱仪，凭借其最适合的分辨率、光通量及外形尺寸要求，成为了市场占有率
较高的型号。每个实验室都可容纳半米焦距尺寸的谱仪，并且每个系统的应用程序
都是独一无二的。205 还可以在给定的实验数据下进行定制产品。在合理选择光栅
的情况下，波长覆盖范围可从 200nm-78µm，所有版本都可以提供高精度数字扫描
控制台或光学校正的成像功能，除了 205wr 以外其余型号都可配置以上两种功能附
件。
Model 205wr 配置 4 块光栅结构，可配置 110mm×110mm 嵌入式光栅，非常
适用于扫描光谱的校准和宽波长范围光谱的测试。在保证从紫外覆盖至长波红外光
谱范围的基础上，还能保证具有最大的光通量。
Model 205f 使用的光栅尺寸为 120mm×150mm，以获得非凡的聚光效果与光
通量。优化的孔径比满足弱光测试的应用，如拉曼或者光致发光的测量，系统可配
置高精度的 789A-3 数字扫描器，也可提供带有光学影响矫正功能的光学镜片。
主要特点:
■ 更宽的光谱覆盖范围 可配置AL+MgF2镀膜
■ 精密的微米量级可调狭缝
■ 双塔轮架配置嵌入式光栅
Mcpherson -205 光谱仪提供三种不
同型号的谱仪供客户选择 :
■ f/3.2 大尺寸光栅，具有更大的光通量，
型号为:205f
■ f/4.3最多可配置4块光栅，可覆盖更宽
的波长范围 型号为:205wr
■ f/6.9 双光栅结构或者f/4.3选择嵌入式光
栅型号为:205
■ 光栅以他们的顶点为轴进行旋转
■ 可光学成像及大的成像焦面
■ 坚固的结构及多狭缝配置
2.9 高光通量光谱仪
010-56370168 www.zolix.com.cn 83
光谱仪
2.10 级联光谱仪
双级联单色仪/光谱仪
双级联单色仪 / 光谱仪通常由两个焦距相同色散分光结构，经过特殊调校后组合而
成，能够有效的改善单台光谱仪光学性能 ；双级联单色仪 / 光谱仪有色散相加和色散相
减两种模式：采用色散相加模式的双级联单色仪 / 光谱仪，能够双倍提升光谱分辨率，适
合用高分辨率测量需求 ；采用色散相减模式，有效地降低了单色仪的杂散光，从而能
够用于更微弱信号的探测，如拉曼光谱、光电探测器光谱响应度标定等。色散相减模
式下只能作为单色仪来使用，色散相加模式下既可以作为单色仪，也可以作为摄谱仪（接
CCD）来使用。实际使用时，需特别考虑光栅的选择。
2：CCD侧出口
3：CCD 侧出口，单狭缝直出口
4：CCD 双出口
5：单狭缝直出口
6：CCD直出口
7：双狭缝出口
8：CCD直出口、单狭缝侧出口
9：单狭缝侧出口
MS：出入狭缝为电动狭缝，无MS为手动狭缝
A：色散相加的，无A为色散相减
0：侧入狭缝，常规镀铝反射镜
1：侧入狭缝，镀铝反射镜
2：双入口
3：双入口，镀金反射镜
4：侧入狭缝，镀紫外增强反射镜
5：双入口，镀紫外增强反射镜
6：侧入狭缝，镀银反射镜
7：双入口，镀银反射镜
30：320mm 焦距
50：500mm焦距
Omni-λxx x x Di（MS）-（A）
直出 直入
侧出 侧入
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Omni-λ180Di双级联单色仪
Omni-λ180Di 是一款经过专门设计的一体化色散相减模式双级联单色仪，对于色散相减模式的双单色仪，两级经过专门的匹
配设计和光路调校，使得只有处于原始路径的光可以实现色散相消，最终会聚在出射狭缝处输出，有效降低杂散光。使用 Omniλ180Di 双单色仪，能够获得更为纯净的单色光，从而满足微弱信号测试需求，如拉曼光谱、光电探测器光谱响应度标定等。
产品特点
应用扩展
■ 色散相减模式双级联单色仪
■ 完美的杂散光抑制，小于10-9
■ 一体化设计，方便运输和安装
■ 采用USB2.0接口与PC进行通
讯，软件控制仪器运行（如光栅
转换、波长扫描和中间狭缝开启
宽度控制等）
■ 双光栅实现UV-VIS-NIR宽光谱
范围
■ 可与白光光源、滤光片轮等其他
产品配套使用
■可调单色光源，基于Omni-λ180Di双单色仪低杂散光的独特优势，当连接白光光源组成
可调单色光光源后，可输出更为纯净的单色光，使测量更为准确可靠；
■拉曼光谱测量。当用Omni-λ180Di来收集样品发光时，可以起到一个窄带滤光片的作
用，有效滤除激发波长的影响，从而可以用于拉曼光谱的收集，特别是低频拉曼光谱的
测量；
■计量级探测器光谱响应度标定。采用Omni-λ180Di双单色仪可减少标定误差，尤其是紫
外波段。
规格参数表：Omni-λ1809Di
光栅规格（g/mm） 1800 1200 600 300
焦距（mm） 180
相对孔径 F/3.9
光学结构 C-T、色散相减型
机械扫描范围 0-800 0-1200 0-2400 0-4800
分辨率-PMT 0.17 0.25 0.5 1
倒线色散 2.08 3.6 7.96 16.56
波长准确度/nm ±0.14 ±0.2 ±0.4 ±0.8
波长重复性/nm 0.07 0.1 0.2 0.4
扫描步距/nm 0.007 0.01 0.02 0.04
杂散光 1×10-9
光轴高度/（mm） 146
光栅规格（mm） 40×40
光栅台 双光栅塔台
狭缝规格 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2、4、14mm
可选；中间狭缝为24mm自动缝
外形尺寸（mm） 559X326.5X232
重量（Kg） 31.5
通讯接口 标配USB2.0
注1：分辨率的测试条件为中心波长435.83nm；
注2：倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值；
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长的减小，倒线色散数值增大；
注4：本型号，为双单色仪的入口及出口为手动狭缝，中间狭缝为24mm自动缝；
注5：本型号，需要额外选配光栅，最多可配置2对光栅。
Omni-λ1809Di双级联光谱仪外形尺寸图
手动狭缝尺寸图
010-56370168 www.zolix.com.cn 85
光谱仪
Omni-λ300Di系列双级联单色仪/光谱仪
功能及特点
■色散相减/色散相加2种模式可选；
■色散相减模式具有极低的杂散光，更适用于杂散光水平要求高的应用，色
散相加模式具有更高的光谱分辨率，是单台光谱仪分辨率的一半，更适用
于分辨率要求较高、对杂散光水平也有一定要求的应用，同时，在同样的
带宽条件下，色散相加型可获得比色散相减型更高的光通量；
规格参数表：
模式 色散相加 色散相减
光栅规格（g/mm） 1800 1200 600 300 1800 1200 600 300
焦距（mm） 640 320
相对孔径 F/4.2
机械扫描范围（nm） 0-800 0-1200 0-2400 0-4800 0-800 0-1200 0-2400 0-4800
分辨率-PMT（nm） 0.03 0.04 0.08 0.16 0.06 0.08 0.16 0.32
倒线色散（nm/mm） 0.695 1.15 2.43 4.98 1.39 2.29 4.87 9.97
波长准确度（nm） ±0.14 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±0.14 ±0.2 ±0.4 ±0.8
波长重复性（nm） 0.02 0.025 0.05 0.1 0.02 0.025 0.05 0.1
扫描步距（nm） 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.0035 0.005 0.01 0.02
杂散光 ＜1×10-7 ＜1×10-9
光轴高度（mm） 146
光栅规格（mm） 68×68
光栅台 三光栅塔台
狭缝规格 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2、4、14mm可
选；中间狭缝为24mm自动缝
外形尺寸（mm） 825X500X281
通讯接口 标配USB2.0,可选RS-232
注1：分辨率的测试条件为中心波长435.83nm；
注2：倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值；
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。
选型表
型号 描述
Omni-λ3007Di 320mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入手动狭缝，第二级光谱仪双出口手动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相减模式
Omni-λ3007DiMS 320mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入自动狭缝，第二级光谱仪双出口自动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相减模式
Omni-λ3007Di-A 320mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入手动狭缝，第二级光谱仪双出口手动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相加模式
Omni-λ3007DiMS-A 320mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入自动狭缝，第二级光谱仪双出口自动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相加模式
注1：光栅需要额外配置，双极联光谱仪最多可选配3对光栅；
注2：中间狭缝默认为3mm手动狭缝，可以选配24mm电动狭缝；
注3：第一级直出口及第二级直入口，默认没有，可以选配；
注4：更多型号配置，请咨询本公司相关销售。
■一体化设计，方便运输和安装；
■采用USB2.0接口与PC进行通讯，软件控制仪器运行（如
光栅转换、波长扫描和中间狭缝开启宽度控制等）；
■三光栅实现UV-VIS-NIR宽光谱范围；
■可与白光光源、滤光片轮等其他产品配套使用。
典型双极联光谱仪Omni-λ3007Di（-A）外形尺寸图
手动狭缝尺寸图
86 010-56370168 www.zolix.com.cn
手动狭缝尺寸图
Omni-λ500Di系列双级联单色仪/光谱仪
规格参数表：
模式 色散相加 色散相减
光栅规格(g/mm) 1800 1200 600 300 1800 1200 600 300
焦距(mm) 1000 500
相对孔径 F/6.5
机械扫描范围(nm) 0-800 0-1200 0-2400 0-4800 0-800 0-1200 0-2400 0-4800
分辨率-PMT(nm) 0.02 0.025 0.05 0.1 0.04 0.05 0.1 0.2
倒线色散(nm/mm) 0.45 0.75 1.58 3.22 0.91 1.49 3.15 6.43
波长准确度(nm) ±0.14 ±0.2 ±0.4 ±0.8 ±0.14 ±0.2 ±0.4 ±0.8
波长重复性(nm) 0.02 0.025 0.05 0.1 0.02 0.025 0.05 0.1
扫描步距(nm) 0.0035 0.005 0.01 0.02 0.0035 0.005 0.01 0.02
杂散光 ＜1×10-7 ＜1×10-9
光轴高度(mm) 146
光栅规格(mm) 68×68
光栅台 三光栅塔台
狭缝规格 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2、4、14mm可
选；中间狭缝为24mm自动缝
外形尺寸 825X600X281mm
通讯接口 标配USB2.0,可选RS-232
注1：分辨率的测试条件为中心波长435.83nm；
注2：倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值；
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。
选型表
型号 描述
Omni-λ5007Di 500mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入手动狭缝，第二级光谱仪双出口手动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相减模式
Omni-λ5007DiMS 500mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入自动狭缝，第二级光谱仪双出口自动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相减模式
Omni-λ5007Di-A 500mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入手动狭缝，第二级光谱仪双出口手动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相加模式
Omni-λ5007DiMS-A 500mm焦距双极联光谱仪
第一级光谱仪侧入自动狭缝，第二级光谱仪双出口自动狭缝，可以同时安装三对光栅，色散相加模式
注1：光栅需要额外配置，最多可选配3对光栅；
注2：中间狭缝默认为3mm手动狭缝，可以选配24mm电动狭缝；
注3：第一级直出口及第二级直入口，默认没有，可以选配；
注4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。
功能及特点
■ 色散相减/色散相加2种模式可选；
■ 色散相减模式具有极低的杂散光，更适用于杂散光水平要求高的应用，色
散相加模式具有更高的光谱分辨率，是单台光谱仪分辨率的一半，更适用
于分辨率要求较高、对杂散光水平也有一定要求的应用，同时，在同样的
带宽条件下，色散相加型可获得比色散相减型更高的光通量；
■一体化设计，方便运输和安装；
■采用USB2.0接口与PC进行通讯，软件控制仪器运行（如
光栅转换、波长扫描和中间狭缝开启宽度控制等）；
■三光栅实现UV-VIS-NIR宽光谱范围；
■可与白光光源、滤光片轮等其他产品配套使用。
典型双极联光谱仪Omni-λ5007Di（-A）外形尺寸图
010-56370168 www.zolix.com.cn 87
光谱仪
三级联光谱仪，由三台影像光谱仪经过特殊调校后组合而成，前两级谱仪作色散相减配置，主要作用是降低杂散光，后一级
谱仪作色散相加配置，主要作用是提高分辨率。整台设计能够保证多种使用模式，既能分别作为单台光栅单色仪，也可以作为双
级联光栅单色仪使用。
根据光栅配置的不同，其应用波段从深紫外、紫外区拓展到可见区，实现光谱在紫外－可见区域内光谱采集。主要应用于高
端拉曼光谱测量，如紫外共振拉曼光谱。
三级联光谱仪
0 ：侧入口、镀铝反射镜
2 ：双入口，镀铝反射镜
4 ：侧入口，紫外增强镀膜
5 ：双入口，紫外增强镀膜
6 ：侧入口，镀银反射镜
7 ：双入口，镀银反射镜
4 ：CCD 双出口
8 ：CCD 直出口、单狭缝侧出口
MS 为自动缝，无为手动缝
直出口
30 ：三级光谱仪均为 320mm 焦距
50 ：三级光谱仪 500mm 焦距
13 ：一二级光谱仪为 180mm 焦距，第三级光谱仪为 320mm 焦距
15 ：一二级光谱仪为 180mm 焦距，第三级光谱仪为 500mm 焦距
Omni-λXX X XTi（MS）
型号规划原则:
直入口
侧出口 侧入口
88 010-56370168 www.zolix.com.cn
主要规格指标
Omni-λ5008Ti规格指标（1800刻线光栅、激发波长532nm激光）
焦距（mm） 500
相对孔径 F/6.5
机械扫描范围
（nm） 0-800
分辨率（cm-1
） ＜1cm-1
@585.25nm
低波数指标 ＜15cm-1
倒线色散 0.91（nm/mm）@435.83nm
波长准确度（nm） ±0.14
波长重复性（nm） 0.02
扫描步距（nm） 0.0035
杂散光 ＜1×10-9
光轴高度（mm） 190.5
光栅规格（mm） 68×68
光栅台 三光栅塔台
狭缝规格 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2、4、
14mm可选；中间狭缝为24mm自动缝
通讯接口 标配USB2.0,可选RS-232
532nm激光激发下的左旋胱氨酸拉曼光谱
选型表：
型号 描述
Omni-λ5008Ti
三级联光谱仪
第一、二、三级为500mm焦距光谱仪，第一级光谱为侧入手动狭缝，第一、二级之间为24mm自动狭缝，第二、三级之
间为手动狭缝，第三级光谱仪为直出CCD接口，侧出手动狭缝
Omni-λ5008TiMS
三级联光谱仪
第一、二、三级为500mm焦距光谱仪，第一级光谱为侧入电动狭缝，第一、二级之间为24mm自动狭缝，第二、三级之
间为电动狭缝，第三级光谱仪为直出CCD接口，侧出电动狭缝
Omni-λ1508Ti
三级联光谱仪
第一、二级光谱仪为180mm焦距光谱仪、第三级为500mm焦距光谱仪，第一级光谱为侧入手动狭缝，第一、二级之间
为24mm自动狭缝，第二、三级之间为手动狭缝，第三级光谱仪为直出CCD接口，侧出手动狭缝
典型三级联光谱仪Omni-λ5008Ti外形图纸尺寸
手动狭缝尺寸图
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光谱仪
0 30 60 90 120 150 180 210 240 270 300
1500
2000
2500
3000
3500
4000
4500
234.3
200.9155.5 112.3
105.1 79.167.9
53.9
30.8Raman Intensity
Wavenumber, cm-1
15.7
三级联光谱仪选项
三级联谱仪工作在减模式下时，
可以获得超高杂散光抑制比，
适用于可调谐激光波长的可见
或紫外共振拉曼，或者超低波
数拉曼。
减模式下 532 激发的左旋胱氨酸拉曼光谱
90 010-56370168 www.zolix.com.cn
在 McPherson 所有的产品中，除去传统光谱仪以及高分辨率光谱仪之外，最富盛名的就是其真空紫外 -Xray 光谱仪了，特别是
此类产品在全世界同步加速器以及核聚变研究方面的应用，已经成了光谱测试领域的传奇。
在这些光谱仪中，包括比较常见的 Seya-Namioka 设计，平场光谱仪以及 Roland 圆光栅光谱仪，波长范围可以覆盖从 0.5nm
一直到近红外波段，适合于不同应用的场合
真空紫外光谱仪所有谱仪均可配置单 / 多道探测器，o= 标准或者可选项
型号 波段 (nm) 光谱分辨率 (nm) 焦长 (mm) 成像 真空 高真空 光学设计
Monarch 30-2200nm 0.1 200 o o校正凹面光栅
Seya Namioka 结构
235 30-1,200 0.05 500 o o Seya-Namioka 结构
207V 105-20000 0.04 670 o o o C-T 型
225 30-1,200 0.015 1,000 o o o 自聚焦正入射
231 30-1,200 0.025 1,000 o o Seya-Namioka
209V 105-20000 0.01 1,330 o o o C-T 型
2253 30-250 0.005 3,000 o o o 自聚焦正入射
265 30-250 ＜ 0.002 6,650 o o o 面偏离正入射
Seya Namioka 结构
■ 单块凹面光栅完成成像和衍射
■ 斜入射
■ 一个反射面
■ 入射光和衍射光夹角固定约70度
■ 30nm - 近红外
■ 代表型号: 234/302, 235,231
Czerny Turner
■ 由两块凹面镜完成成像，
■ 平面光栅完成衍射
■ 可扫描
■ 可成像，像差小
■ 可装配多个光栅
■ >100nm 到中远红外
■ 代表型号: 207V,209V
Normal Incidence 正入射结构
■ 具有McPheron 15°专利设计
■ 具备理想的成像效果
■ 适合搭配CCD 等探测器使用
■ 可以水平色散或者垂直方面色散使用
■ 焦距: 1m，3m, 6.65m
■ 波长范围: 30-1200nm
■ 代表型号: 225,2253,265
主要结构:
2.11 真空紫外光谱仪
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光谱仪
Monarch
Monarch 是一款紧凑的多功能真空紫外单色仪。14\"x12\"x12\" 的尺寸，
25 磅的重量，使这款仪器可以固定在一个真空等离子物理装置上，也可以
装到一个更大的设备上用做可变滤波器。Monarch既可做VUV扫描单色仪，
也可做光谱仪，配上 CCD 相机或者 MCP 又可做光谱成像。配上多端口的
选项，甚至可以同时作为扫描单色仪和成像光谱仪使用。
■带像差校正的光学系统
■配CCD或者MCP做紫外成像光谱仪
■高光通量，F/4.5
■超高真空度:最大限度降低光损耗
■重量轻，结构紧凑:方便直接耦合到样品室或者真空室
Model 235
Model 235 是 McPherson 的一款 500mm 焦 距 f/11.4 的 SeyaNamioka 结构单色仪。光学系统置于不锈钢结构的腔中，腔内可以达到
10-7
Torr 的真空度。仪器使用 1200g/mm 的光栅时，典型分辨率为 0.05nm。
入射和出射光束间的夹角为 70° 15′。长焦距保证了分辨率的提升和操作
空间的增加。不锈钢结构适合于配合高真空无污染的试验腔体和微通道板
增强探测器使用。Seya-Namioka 结构中所有元件 ( 狭缝和光栅 ) 都置于罗
兰圆上。既保证分辨率，又减小了像散。
Model 209V
可提供 120×140mm ( 或者 110×110mm) 的大光栅或者 220mm 宽
的中阶梯光栅，相比于普通尺寸的光栅，可以提高额外的光通量和可用的
光栅转动角度。
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Model 225 系列
Model 225 真空紫外单色仪具有 1m 的垂直入射距离 NIM，入射和出射
狭缝间夹角为 15°。这种设计，也就是被称作 \"McPherson 15° \" 技术，采
用球面光栅来收集和聚焦能量，能够提供最大的流密度，并保证最小的像散
和偏振度。在与 MCP 增强器或者 CCD 阵列探测器配合使用时，这是一个理
想的成像仪器。225 的真空腔是不锈钢材质的，波长驱动置于真空腔外－这
种设计保证了系统的洁净。可用单光栅，也可用双光栅或者三光栅塔轮。垂
直或者水平色散均可用。在整个感兴趣的波长范围内，光栅驱动均可自动聚
焦，以保证最优的性能。225 在真空 (10-6
torr) 和超高真空 (10-10 torr) 的型号
中为正入射设计，焦距长度为 1m 或者更长。在 46.4nm 波长，6.65m 焦距可
获得 78,000 的解析力。光栅旋转是由 Model 789A-3 数字步进电机驱动的 .
光栅为凹面刻划光栅或者全息光栅。单光栅，或者双光栅、三光栅塔轮均可提供。
■最小的像散和偏振度
■最大的流密度
■与CCD或MCP增强器配合可作谱相机
Model 231 1m 长焦距 Seya-Namioka 结构单色仪，应用简单的光栅旋转方式
来扫描波长。入射和出射狭缝臂间的夹角为 70° 15’。长焦距提供了优异的分辨率
和更多的操作空间。不锈钢结构的设计适用于高真空度和无污染的实验或者 MCP
增强器探测。
Model 231 Seya-Namioka 结构单色仪具有入射和出射狭缝位置固定的特点，
从狭缝出射的光束方向也固定。当用做扫描光谱仪时，这些特点就使得 Model 231
非常适合用于同步辐射储能环中。Model 231M4 (231 version or revision 4) 就是
为同步辐射应用而特别设计的。当需要用做光谱仪时，还可以提供白光的旁路和转
向光学结构。多光栅位塔轮可在实验中进一步简化对仪器的要求。
在很多应用领域中，都可用高分辨率的 Model 231 来配置系统。 右图系统具
有非常高分辨率的准直光束 ( 离散波长点 )。长焦距和高色散的特点允许真空紫外
光源 Model 629 具有大口径的输入，并保证了优异的光谱纯度。
Model 231M4 – 设计用于同步辐射 - 全金属密封的用于 UHV 的设计，带有双
向可调的狭缝，三光栅位的塔轮，以及适用于真空 10-10 torr 的离子泵系统。独特
的狭缝装置还包括一个旁路光学结构，可允许同步辐射光或者 FEL 光束进入到单
色仪中，或者从束线中分出一部分到另外的实验装置中。
Model 231 Seya-Namioka 结构单色仪
■大角度操作空间增加
■内部焊接的不锈钢结构
■精密微分尺可调狭缝
■ 高分辨率
■ 光栅可绕顶点旋转
■ 全金属密封型号(UHV) ，同步束线适用
■ 多端口型号可选
■ 超高真空度型号可选
■ 3, 4, 5, 6.6m的长焦距型号可选
225 具有洁净的全金属密封的机构，真空度可到 10-10 torr。在发货前都做
过光学元件的烘烤和残余气体分析，以保证最低的污染水平。McPherson 的正
入射真空紫外单色仪，为世界各地的国家度量实验室提供了辐照测量的标准。
NIST (USA) 用的是焦距 2m 的型号， Physikalische Technische Bundesanstalt
(PTB, Germany) 用的是 1m。1m 的型号最为普遍，在 NASA, JPL, LLNL, Sandia
等许多著名的实验室均有使用。
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光谱仪
软X-RAY光谱仪列表
o= 标准或者可选项，单道多道指的是探测器
型号 波段 (nm) 光谱分辨率 (nm) 焦长 (mm) 单道 多道 成像 真空 高真空 光学设计
248/310 <1-310 0.018 1,000 o o o o 掠入射罗兰圆结构
251 10-170 0.05 292 o o o o VLS 平场超环面
251MX ＜ 1-80 0.02 5650 o o o VLS 平场光栅
XCT 8-120 0.1 2,000 o o o o o 掠入射 C-T 结构，8° AOI
OP-XCT 8-120 0.08 800 o o o o o 掠入射 C-T 结构，5° AOI
软X-RAY光谱仪主要分为以下几种结构
■ 主要原理基于罗兰圆
■ 入射狭缝固定不动，
■ 出射狭缝沿罗兰圆圆周进行扫描采集光谱
■ 掠入射入射角大于80度
■ 光谱范围: <1nm-310nm
■ 代表型号: 248/310
平场光栅光谱仪
■VLS(Variable Line Spacing)，可变
间距光栅
■获得平场焦平面
■良好的像差修正
■超环面基地VLS光栅-像散修正
■光谱范围: 10-170nm或1-80nm
■代表型号: 251,251MX
掠入射C-T结构
■ 基于传统C-T结构
■ 掠入射 >80度入射角
■ 采用平面光栅
■ 良好点到点成像效果
■ 高通光量
■ 单点扫描或CCD成像探测
■ 光谱范围: 8-120nm
■ 代表型号:XCT,OP-XCT
软 X 光和极端远紫外谱段 248/310G 型掠入射单色仪
■可工作于扫描或多道检测模式(可互换)
■光栅选择范围广
■入射角度可变
■精确的罗兰圆，精度达±4 µm
■高精度连续可调狭缝
■狭缝带隔离伐
■滑入式过滤片选件
■结构坚固， 设计简洁，可在任意方向安装使用
在波长 1 到 100nm 范围使用最多的仪器是 McPherson 的 248/310 型一米焦距掠入射光谱仪 . 这一仪器设计合理，工作于软 X
射线谱段，使用简单 . 单色仪通过出口狭缝在罗兰圆上移动来扫描波长 . 罗兰圆的直径等于光栅的曲率半径 .
该设备配备单个光栅提供覆盖 1 至 310nm 光谱范围 ；采用非真空紫外发射线设备的校准及调准可以在大气压下完成。符合运动
学原理安装的光栅保证了在调准后的用于试验的光栅可以复位。
光栅室材质为不锈钢，配备了一个标准的 4.5 英寸 conflat ™全金属密封的泵接口 (a standard 4.5\" conflat ™ all metal sealed
pump port)。该光栅室提供了符合运动学光栅固定架、真空中可调焦距式测微计、滤光片及孔径片、入射狭缝及出射折迭暗箱固定架。
248/310 型可以用于单通道扫描，多通道光度计 ( 使用多道平面增强器或 CCD)，或者倒过来使用作为 Extreme UV and Soft X-ray
的多种单色光源 . 不管哪种方式，都带 o-ring 密封的真空系统或全金属密封的超高真空系统。
掠入射罗兰圆结构
2.12 软 X 射线光谱仪
94 010-56370168 www.zolix.com.cn
当 248/310G 用作扫描单色器时，可以得到最佳分辨率和最宽的波长覆盖范围 . 出口狭缝通过密封焊接的波纹管装置连接到光栅
室，可以在光栅中心 50mm 范围内扫描 . 采用 88 度入射角，扫描精度可以达到 0.98nm。
使用 789A-3 型扫描系统 (36,000 steps /rev.) 步进距离为 0.0004\". 取决于光栅刻线密度和入射角度，这一距离同波长直接关联 .
双边可调入射狭缝 (5-3000 µm) 固定在光栅室上 . 罗兰圆上移动的狭缝可由精确的千分尺调节 . 狭缝装置上带有安装真空计，进气
阀，粗抽阀的接口 . 波长小于 30nm 时为提高性能，应使用金属过滤薄片以滤出散射和低能光 . 用于最高能量 / 最短波长时，应使用
VYNS 型滤光片。
左边照片为 McPherson
248/310G 使用无窗背后照明
无镀膜 CCD 探测器，可以直
接测量 soft x-ray 和 EUV 光
谱 . CCD 垂直于出射光束 .
CCD 中心是最好的焦点 . CCD
可以在 Rowland circle 上扫描
使得任意波长时光束都打在
探测器的中心。
左图为采集 soft x-ray and extreme UV 谱段的数据，
可以在 Rowland circle 上使用微通道板 (microchannel
plate). 通过这种方式，可以同时采集 40mm 宽的谱线
数据 . 光阴极材料和微通道板 (MCP) 需要真空环境，不
能在空气中调节 . 微通道板 (MCP) 固定装置允许用户
在真空中调节聚焦，转动，角度，等等，从而得到最
优的谱线. 通常我们选用40 mm 宽的微通道板(MCP)，
为覆盖更宽的波长范围，可以移动 MCP 多次成相 . 数
据读出采用通过光纤锥连接的 CCD 或 PDA 阵列 . 微通
道板 (MCP) 装置可以扫描从最低约 2nm (MCP 的极限 )
到最高大约 250nm ( 在 MCP 中心 )，超过 250nm CsI
光阴极不再响应。
Model 251 型环形光栅平场光谱仪
■真空度可达10-9
torr
■任何角度操作
■多种探测器可选
■像差校正的轮胎曲面光栅
McPherson 公司生产多种工作在极紫外和软 X 射线波段的光谱仪。对于某些特殊的应用，此种光谱仪应用特殊波长范围的分析。
对于开发激光激发的 13.5nm 的氙灯等离子极紫外光源和诊断托卡马克装置的短寿命的等离子等实验，平场相差校正光谱仪是最佳
选择，并且具有明显的优势。
平场环面光谱仪主要工作在固定的波段，光学上环面和相面校正的设计方法，决定了光谱仪工作于一些固定光谱波段。由于光
栅密集型设计及其制作难特点，选择合适的光栅是非常有限的。如果选择到您希望的光谱波段的光栅，那么您太幸运了。相对简单
的光学系统，即可获得成像效果，又可得到良好的光谱分辨率。此类光谱仪可利用 CCD 相机直接探测高能量光谱、MCP 微通道板
像增强器可以作为此套系统作为光学闸门。
技术参数
McPherson 251型环面平场光谱仪
相差校正平场环面光谱仪的焦平面为 40mm，适合于微通道板的像增强器。紧凑的和通用的光谱仪结构非常牢固。此套仪器我
们大部分客户都用于托克马克等离子研究实验。可含有 2-3 个光栅塔轮，衍射光栅同时背靠背放置，双驱动，转动扫描大的等离子
体部分。如有需求，请咨询。
偏向角 G/mm 分辨率 (nm) 焦平面宽度 (mm) 光谱范围 (nm) 光谱范围 (eV)
140 2105 0.05 40 9.5 to 32 130 to 39
140 450 0.10 40 10 to 110 124 to 11
140 290 0.16 40 15.5 to 170 80 to 7
■适合焦平面探测器(CCD/MCP)
■成像
■快速光谱采集 10-170nm
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光谱仪
2.13 弯晶谱仪
弯晶谱仪的原理
RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统
濔 为入射点，濕 为成像面， 用于 濧瀂濾濴瀀濴濾 上球面弯晶谱仪示意图
弯晶谱仪是一种用于 X 射线光谱测量的重要工具，它基于布拉格衍射定律工作，通过合理选择材
料和弯晶的形状，能够精确控制 X 射线的衍射效应，从而实现 射线的单色反射聚焦。其构型多样，
包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos 等，广泛应用于科学研究工业检测等领域。
主要部件包含有：根据所需测试范围的弯晶成套光路搭建以及后端探测设备（真空相机为主
在弯晶谱仪各部件中，探测器是决定弯晶谱仪系统性能的关键设备之一，尤其是在长脉冲高功率辅助
加热等离子体运行条件下，不仅需要有高的计数率，同时也要有好的动态范围反映加热前后等离子体
参数变化。弯曲的晶体并不能使 X 射线聚焦，但是能够以衍射的方式使 X 射线汇聚成一条线或一个
曲面弯晶可以是透射式或反射式的而且可以弯曲成与圆柱面球面环面或对数曲面的一小部分
相符合的曲面
弯晶谱仪原理图
X 射线晶体光谱仪（x-ray imaging crystal spectrometer）常用于高能射线的测量，按照使用晶体分为 ：平面晶体谱仪和弯晶
谱仪。通常情况下，平面晶体谱仪由于器结构简单，加工难度低而广泛应用于 X 射线光谱分析，是一种最简单的 X 射线光谱测量
仪器。然而平面谱仪不具备聚焦功能，因此收光效率低，谱线强度弱。此外光源尺寸对光谱分辨率的影响明显，不满足高光谱分
辨的测量需求。弯曲晶体谱仪通过将分光晶体衍射面弯曲成各种曲面而达到强聚焦的目标。球面弯曲晶体，同时具备色散与成像
的二维特性。结合晶体布拉格衍射和球面镜聚焦特性，在没有狭缝或真空的情况下，结合二维 X 射线探测器，可以同时得到光谱
和空间分辨的 X 射线光源像。目前球面弯晶在惯性约束和磁约束等离子体诊断中都得到了广泛的应用。等离子体离子温度，旋转
速度是表征聚变等离子体性能的重要参数，也是开展众多等离子体物理问题研究的数据基础。在托卡马克装置中，弯晶谱仪通过
测量等离子体杂质谱线的多普勒频移与多普勒展宽来测量离子温度和旋转速度。基于其不依赖于中性束注入以及在各种射频波加
热下都能正常运行的特性，尤其适合纯射频波加热下等离子体温度的测量，是托卡马克装置中的重要物理诊断之一。北京卓立仪
器有限公司基于客户需求及过去 20 年的光谱研发经验，推出成套的弯晶光谱仪测试系统。
弯晶谱仪的原理
弯晶谱仪是一种用于 X 射线光谱测量的重要工具，它基
于布拉格衍射定律工作，通过合理选择材料和弯晶的形状，能
够精确控制 X 射线的衍射效应，从而实现 X 射线的单色反射
聚焦。其构型多样，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和
Von Hamos 等，广泛应用于科学研究、工业检测等领域。主要
部件包含有 ：根据所需测试范围的弯晶，成套光路搭建，以及
后端探测设备（真空相机为主）。在弯晶谱仪各部件中，探测
器是决定弯晶谱仪系统性能的关键设备之一，尤其是在长脉冲
高功率辅助加热等离子体运行条件下，不仅需要有高的计数率，
同时也要有好的动态范围反映加热前后等离子体参数变化。弯
曲的晶体并不能使 X 射线聚焦，但是能够以衍射的方式使 X 射
线汇聚成一条线或一个点。曲面弯晶可以是透射式或反射式的 ,
而且可以弯曲成与圆柱面、球面、环面或对数曲面的一小部分
相符合的曲面。
弯晶谱仪原理图：
技术指标：
相关测试数据案例：
弯晶谱仪的主要参数
测试X射线波长：
■ 弯晶谱仪主要用于X射线波长范围内的测量，通常在0.1到10纳
米之间。通过选择不同晶格间距的晶体，可以覆盖从软X射线
到硬X射线的范围。
测试能量范围：
■ 软X射线：适用于研究轻元素和生物样品，通常在几百电子伏
特（eV）到几千电子伏特的范围。
■ 硬X射线：适用于研究重元素和高密度材料，通常在几千电子
伏特到几万电子伏特的范围。
■ 光谱分辨率：根据需求，可以得到nm级别甚至更高的分辨
率。
弯晶谱仪的相关应用领域
■ 材料科学：用于研究材料的微观结构和成分。
■ 物理学：用于研究高能物理现象和粒子特性，如惯性约束和磁
约束等离子体诊断中使用
■ 化学分析：用于定量和定性分析化合物中的元素
弯晶谱仪主要用于 X 射线波长范围内的测量，通常在 0.1 到 10 纳米之间。通过选择不同晶格间距的晶
体，可以覆盖从软 射线到硬 X 射线的范围。
测试能量范围
软 X 射线：适用于研究轻元素和生物样品通常在几百电子伏特（eV）到几千电子伏特的范围
硬 X 射线：适用于研究重元素和高密度材料通常在几千电子伏特到几万电子伏特的范围
光谱分辨率：根据需求，可以得到 nm 级别甚至更高的分辨率。
技术指标
■ 波长范围：0.1-10nm
■ 能量范围：几百 eV~几十 keV
■ 光谱分辨率：100-1000@宽谱段
弯晶谱仪的相关应用领域
材料科学：用于研究材料的微观结构和成分
物理学：用于研究高能物理现象和粒子特性如惯性约束和磁约束等离子体诊断中使用
化学分析：用于定量和定性分析化合物中的元素
相关测试数据案例
案例一：用 濔瀁濷瀂瀅 真空相机搭建的弯晶谱仪获得的 濦濼澳濞α谱线
物理学用于研究高能物理现象和粒子特性
相关测试数据案例
案例二：使用 濗濸瀇瀅濼濶瀆 的 濣濜濟濔濧濨濦 相机搭建的弯晶谱仪测得的数据
96 010-56370168 www.zolix.com.cn
高灵敏度科学级相机
产品系列
科学级像增型 ICCD
腔外式 X 射线及真空紫外系列 CCD 相机
型号
iKon-M SO iKon-L SO
DO920 DO940
DO934/DY934 DO936/DY936
芯片类型
1.BN: 背感光 CCD，无涂层；
2.New-BEN: 背感光 CCD；强化工艺，无涂层；
3.Fl: 前感光 CCD；
4.BR-DD: 背感光深耗尽 CCD；
1.BN: 背感光 CCD，无涂层；
2.Fl: 前感光 CCD；
3.BR-DD: 背感光深耗尽 CCD；
有效像素 1024*1024 2048*2048 1024*255 2048*512
像素大小 13*13 µm 13.5*13.5 µm 26 x 26 µm 13.5 x 13.5 µm
满阱容量 100000e- 87000e探测面尺寸 13.3*13.3mm(100% fill
factor)
27.6*27.6mm(100% fill
factor) 27.6*6.9
最低制冷温度 -100℃ -55℃ -100° C
读出速度 0.05,1,3,5MHz 4MHz
读出噪声 <2.9e- 2.8e帧频 4.4fps 0.95fps / /
峰值光点转换效率 >95%(BN/BEN);>90%(BR-DD) / /
线性度 >99% / /
光阴极重复频率 500KHz 500KHz / /
其它
1. 开放式前端 - DN100CF / 6cf / CF-152 法兰和刀口密封是真空室直接接口的标准配置 (iKon-M 型可旋转设计 )。
2.1 MP 和 4.2 MP 传感器选项 - 可选择采集速度或大视场，以最佳匹配实验需求。
3.13x13m 像素大小 - 理想的动态范围和分辨率的平衡，头部封装扩展动态范围。
4. 在软 x 射线范围内增加定量宽松的增强工艺背光传感器选项。
5.USB 2.0 接口 - 内置健壮的即插即用接口作为标准。裁剪的传感器模式跟踪稳定性，以确保所有读出电路经历
相同的温度和操作条件。
6. 增强基线钳 - 较慢的读出最低噪音，更快的速度更快速的读出和聚焦。
7.Labview 和 EPICS 兼容性
8. 不需维护的深 TE-cooling 下降到 -100 c
搭配的探测器选项 1（Andor）：
010-56370168 www.zolix.com.cn 97
光谱仪
搭配的探测器选项 2（Dectris）
Dectris 高能 X-Ray 相机
产品系列 PILATUS3 S PILATUS3 X CdTe
规格 6M 2M 1M 2M 1M 300K 300K-W 100K-M
探测器模块数量(宽
× 高 ) 5x12 3x8 2x5 3x8 2x5 1x3 3x1 1x1
敏感区域 ( 宽度 x
高度 )[mm ] 423.6x434.6 253.7x288.8 168.7x179.4 253.7x288.8 168.7x179.4 83.8x106.5 253.7x33.5 83.8x33.5
非活动区域 [%] 8.5 8 7.2 0.085 0.078 0.061 0.016 0.002
像素大小 [ m ] 172x172 172x172
像素总数 2463x2527 1475x1679 981x1043 1475x1679 981x1043 487x619 1475x195 487x195
间隙宽度 :hor/
ver[ 像素 ] 7*/17 7*/17 7*/17 -*/17 7*/- -*/-
阈能 [ 千电子伏 ] 2.7-18 8-40
最大帧速率 [ 赫兹 ] 25 250 500
计数器深度 [ 位 ] 20 位 (1，048，575 计数 ) 20bits(1,048,576counts)
点扩散函数 1pixel(FWHM) 1pixel(FWHM)
尺寸 ( 宽×高×深 )
[ 毫米 ] 590x603x455 384x424x456 265x286x455 384x424x456 265x286x455 158x193x262 280x62x296 114x69x118
重量 [ 千克 ] 92 46 25 46 25 7.5 7 0.9
功耗 [ 瓦 ] 580 250 165 250 165 30 30 30
缺陷像素 < 0.1% < 0.1%
读出时间 [ 毫秒 ] 2.04 0.95
模块冷却 水冷 水冷
电子冷却 气冷 气冷 气冷 水冷 水冷 气冷
最大计数率 [phts/
s/ 像素 ] 1 10 ⁷ 1 · 10 ⁷
外部触发器 / 门 SV TTL 5V TTL
能量辨别阈值
/ /
能量范围 [ 千电子
伏 ]
计数率能力 [ 光子 /
秒 / 像素 ]
硅传感器厚度 [ 米 ]
真空兼容性 ( 可选 )
数据格式
其它
计数率高达 10 Mcts/ 秒 / 像素
单光子计数模式下的 x 光直接探测
25 赫兹帧速率
无读出噪声
没有暗电流
出色的点扩展功能
无溢出 20 位计数器
高量子效率，高达 100 千电子伏
出色的计数率稳定性
无噪声单光子计数
没有图像滞后或余辉
出色的点扩展功能
高达 500 赫兹的帧速率
无溢出 20 位计数器
室温下低维护操作
易于集成
应用领域 1.大分子晶体学（MX）2.化学晶体学3.单晶衍射（SCD） 4..小角度和广角X射线散射SAXS/WAXS 5.X射线粉末衍射（XRPD）
6. 表面衍射 7. 相关衍射 8. 能谱探测 9. 时间分辨实验
备注
PILATUS3 X 系列的出色之处在于高达 500 赫兹的帧速率和亚毫秒级的读出时间，从而实现了新的实验策略。感兴趣区域读取
模式允许您利用最高的帧速率，即使是最大的 PILATUS3 X 型号。
PILATUS3 X 系列探测器的特点是 DECTRIS 即时重新触发。这项专利技术实现了非瘫痪计数、增强的高计数率性能、减少的
读出时间和高度精确的计数率校正。DECTRIS 即时触发技术克服了以前光子计数探测器固有的计数率限制。
采用了 DECTRIS 重新触发技术，该技术首次与 PILATUS3 一起推出，支持高达 10 的四倍光子计数能力 7 光子 / 秒 / 像素
EIGER 的连续读数已被增强为完全无死区。探测器现在提供了第二个可调能量鉴别阈值，并为泵和探针实验提供了可转换的
探测。
98 010-56370168 www.zolix.com.cn
Dectris 高能 X-Ray 相机
产品系列 PILATUS3 X
规格 300K 300K-W 200K-A 100K-A 6M 2M 1M 100K-M
探测器模块数量(宽
× 高 ) 1x3 3x1 1x2 1x1 5x12 3x8 2x5 1x1
敏感区域 ( 宽度 x
高度 )[mm ] 83.8x106.5 253.7x33.5 83.8x70.0 83.8x33.5 423.6x434.6 253.7x288.8 168.7x179.4 83.8x33.5
非活动区域 [%] 5.5 0.9 4.3 0 8.5 8 7.2 0
像素大小 [ m ] 172x172
像素总数 487x619 1475x195 487x407 487x195 2463x2527 1475x1679 981x1043 487x195
间隙宽度 :hor/
ver[ 像素 ] -/17 7/- -/17 0 7*/17 7*/17 7*/17
阈能 [ 千电子伏 ] 2.7-18 2.7-18 3.5-18 3.5-18 2.7-18 2.7-18 2.7-18 2.7-18
最大帧速率 [ 赫兹 ] 500 500 500 500 / / / 500
计数器深度 [ 位 ] 20 位 (1，048，575 计数 )
点扩散函数 1pixel(FWHM)
尺寸 ( 宽×高×深 )
[ 毫米 ] 158x193x262 280x62x296 156x155x284 156x115x280 590x603x455 384x424x456 265x286x455 114x69x118
重量 [ 千克 ] 7.5 7 5.4 4.5 92 46 25 0.9
功耗 [ 瓦 ] 36 36 30 30 580 250 165 30
缺陷像素 < 0.1%
读出时间 [ 毫秒 ] 0.95
模块冷却 水冷 水冷 气冷 气冷 水冷 水冷 水冷 水冷
电子冷却 水冷 水冷 气冷
最大计数率 [phts/
s/ 像素 ] 1 10 ⁷
外部触发器 / 门 5V TTL
能量辨别阈值
/
能量范围 [ 千电子
伏 ]
计数率能力 [ 光子 /
秒 / 像素 ]
硅传感器厚度 [ 米 ]
真空兼容性 ( 可选 )
数据格式
其它
计数率高达 10 Mcts/ 秒 / 像素
单光子计数模式下的 x 光直接探测
无读出噪声
没有暗电流
无溢出 20 位计数器
出色的点扩展功能
真空和低能量阈值选项可用
应用领域 1. 大分子晶体学（MX）2. 化学晶体学3. 单晶衍射（SCD） 4.. 小角度和广角 X 射线散射 SAXS/WAXS 5.X 射线粉末衍
射（XRPD）6. 表面衍射7. 相关衍射 8. 能谱探测9. 时间分辨实验
备注
PILATUS3 X 系列的出色之处在于高达 500 赫兹的帧速率和亚毫秒级的读出时间，从而实现了新的实验策略。感兴趣区域
读取模式允许您利用最高的帧速率，即使是最大的 PILATUS3 X 型号。
PILATUS3 X 系列探测器的特点是 DECTRIS 即时重新触发。这项专利技术实现了非瘫痪计数、增强的高计数率性能、减
少的读出时间和高度精确的计数率校正。DECTRIS 即时触发技术克服了以前光子计数探测器固有的计数率限制。
采用了 DECTRIS 重新触发技术，该技术首次与 PILATUS3 一起推出，支持高达 10 的四倍光子计数能力 7 光子 / 秒 / 像素
EIGER 的连续读数已被增强为完全无死区。探测器现在提供了第二个可调能量鉴别阈值，并为泵和探针实验提供了可转
换的探测。
搭配的探测器选项 2（Dectris）
